[發明專利]信號校正方法和信號校正裝置

有效

• 申請號: 201410184621.X
• 申請日: 2014-05-04
• 公開（公告）號: CN103996388A
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發明（設計）人: 鄭義;徐帥;王智勇;張鄭欣;史文森
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/36
• 分類號: G09G3/36
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 彭瑞欣;陳源

技術領域

本發明涉及受干擾信號的校正領域，具體地，涉及一種信號校

正方法和信號校正裝置。

背景技術

隨著液晶顯示技術的發展，驅動電路的集成度越來越高，而集成電路的體積也要求越來越小，這就導致其防靜電能力下降，如在工控領域的液晶顯示的應用中，所有的信號及地面會一直受到各種干擾。如圖1所示，當柵極控制信號(包括時鐘脈沖信號(CPV)和輸出使能信號(OE))受到干擾時會發生時序錯位，而時鐘脈沖信號和輸出使能信號同時為高電平時才能控制柵極輸出，因此如果時鐘脈沖信號和輸出使能信號發生時序錯位，則會導致薄膜晶體管的柵極不能正常打開，并影響顯示裝置的正常顯示(例如，出現橫紋不良)。

因此，如何防止時鐘脈沖信號和輸出使能信號發生時序錯位成為本領域亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種信號校正方法和信號校正裝置，以對受到干擾的信號進行校正。

為了實現上述目的，本發明提供一種信號校正方法，所述信號校正方法包括：

S10、在不同時刻對信號進行采樣；

S20、將一個信號周期內的每個采樣點的信號值與和該采樣點相對應的預設信號值進行比較，當所述采樣點的信號值與相對應的所述預設信號值相等時，所述采樣點的信號值不變；當所述采樣點的信號值與相對應的所述預設信號值不相等時，執行步驟S30；

S30、將所述采樣點的信號值校正為相對應的預設信號值。

優選地，所述信號校正方法還包括在執行所述步驟S20之前進行的：

S15、存儲與每個所述采樣點相對應的預設信號值。

優選地，所述步驟S20從所述信號的第二個周期開始，所述預設信號值為所述信號的第一個周期的采樣點對應的信號值。

優選地，所述信號校正方法還包括在所述步驟S30之后進行的：

S40、對所述采樣點之間的信號值進行填充，以使調整后的每個周期的信號波形與第一個周期的信號波形相同。

優選地，所述步驟S10中的采樣頻率為信號頻率的5～10倍。

相應地，本發明還提供一種信號校正裝置，其中，所述信號校正裝置包括：

采樣模塊，用于對信號進行采樣；

檢測模塊，用于比較一個采樣周期內的每個采樣點的信號值與和該采樣點相對應的預設信號值，以判斷每個所述采樣點是否受到干擾；

校正模塊，用于將所述檢測模塊測得的受到干擾的所述采樣點的信號值校正為與該采樣點相對應的預設信號值。

優選地，所述檢測模塊包括電壓比較器件，該電壓比較器件用于比較每個所述采樣點的信號值與相對應的預設信號值。

優選地，所述信號校正裝置還包括存儲模塊，用于存儲與每個所述采樣點相對應的預設信號值。

優選地，所述預設信號值為所述信號的第一個周期的采樣點對應的信號值。

優選地，所述校正模塊包括第一三極管和第二三極管，所述第一三極管的基極和所述第二三極管的基極均與所述電壓比較器件的輸出端相連，所述第一三極管的集電極與所述信號校正裝置的輸入端相連，所述第一三極管的發射極與所述信號校正裝置的輸出端相連，所述第二三極管的集電極與所述存儲模塊的輸出端相連，所述第二三極管的發射極與所述信號校正裝置的輸出端相連；當所述電壓比較器件的輸出為零時，所述第一三極管導通，當所述電壓比較器件的輸出不為零時，所述第二三極管導通。

優選地，所述信號校正裝置還包括填充模塊，用于填充所述采樣點之間的信號值，以使調整后的每個周期的信號波形與第一個周期的信號波形相同。

優選地，所述填充模塊包括第三三極管和第四三極管，所述第三三極管的基極與所述第二三極管的發射極相連，所述第三三極管的集電極與所述存儲模塊相連，所述第三三極管的發射極與所述信號校正裝置的輸出端相連；所述第四三極管的基極與所述第二三極管的發射極相連，所述第四三極管的集電極與所述存儲模塊相連，所述第四三極管的發射極與所述信號校正裝置的輸出端相連；當所述第二三極管導通且所述第二三極管的集電極輸入高電平時，所述第三三極管導通，當所述第二三極管導通且所述第二三極管的集電極輸入低電平時，所述第四三極管導通。

可以看出，本發明可以檢測信號的采樣點是否受到干擾，并將受到干擾的采樣點的信號值校正為相對應的預設信號值，因而可以從整體上減少信號波形的時序錯位現象的發生，減少外部干擾對信號的影響，進而提高了利用所述信號的驅動模塊的防干擾能力。

附圖說明