[發明專利]信號校正方法和信號校正裝置

有效

• 申請號: 201410184621.X
• 申請日: 2014-05-04
• 公開（公告）號: CN103996388A
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發明（設計）人: 鄭義;徐帥;王智勇;張鄭欣;史文森
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/36
• 分類號: G09G3/36
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 彭瑞欣;陳源

1.一種信號校正方法，其特征在于，所述信號校正方法包括：

S10、在不同時刻對信號進行采樣；

S20、將一個信號周期內的每個采樣點的信號值與和該采樣點相對應的預設信號值進行比較，當所述采樣點的信號值與相對應的所述預設信號值相等時，所述采樣點的信號值不變；當所述采樣點的信號值與相對應的所述預設信號值不相等時，執行步驟S30；

S30、將所述采樣點的信號值校正為相對應的預設信號值。

2.根據權利要求1所述的信號校正方法，其特征在于，所述信號校正方法還包括在執行所述步驟S20之前進行的：

S15、存儲與每個所述采樣點相對應的預設信號值。

3.根據權利要求1所述的信號校正方法，其特征在于，所述步驟S20從所述信號的第二個周期開始，所述預設信號值為所述信號的第一個周期的采樣點對應的信號值。

4.根據權利要求1所述的信號的校正方法，其特征在于，所述信號校正方法還包括在所述步驟S30之后進行的：

S40、對所述采樣點之間的信號值進行填充，以使調整后的每個周期的信號波形與第一個周期的信號波形相同。

5.根據權利要求1至4中任意一項所述的信號校正方法，其特征在于，所述步驟S10中的采樣頻率為信號頻率的5～10倍。

6.一種信號校正裝置，其特征在于，所述信號校正裝置包括：

采樣模塊，用于對信號進行采樣；

檢測模塊，用于比較一個采樣周期內的每個采樣點的信號值與和該采樣點相對應的預設信號值，以判斷每個所述采樣點是否受到干擾；

校正模塊，用于將所述檢測模塊測得的受到干擾的所述采樣點的信號值校正為與該采樣點相對應的預設信號值。

7.根據權利要求6所述的信號校正裝置，其特征在于，所述檢測模塊包括電壓比較器件，該電壓比較器件用于比較每個所述采樣點的信號值與相對應的預設信號值。

8.根據權利要求7所述的信號校正裝置，其特征在于，所述信號校正裝置還包括存儲模塊，用于存儲與每個所述采樣點相對應的預設信號值。

9.根據權利要求7所述的信號校正裝置，其特征在于，所述預設信號值為所述信號的第一個周期的采樣點對應的信號值。

10.根據權利要求7至9中任意一項所述的信號校正裝置，其特征在于，所述校正模塊包括第一三極管和第二三極管，所述第一三極管的基極和所述第二三極管的基極均與所述電壓比較器件的輸出端相連，所述第一三極管的集電極與所述信號校正裝置的輸入端相連，所述第一三極管的發射極與所述信號校正裝置的輸出端相連，所述第二三極管的集電極與所述存儲模塊的輸出端相連，所述第二三極管的發射極與所述信號校正裝置的輸出端相連；當所述電壓比較器件的輸出為零時，所述第一三極管導通，當所述電壓比較器件的輸出不為零時，所述第二三極管導通。

11.根據權利要求7至9中任意一項所述的信號校正裝置，其特征在于，所述信號校正裝置還包括填充模塊，用于填充所述采樣點之間的信號值，以使調整后的每個周期的信號波形與第一個周期的信號波形相同。

12.根據權利要求11所述的信號校正裝置，其特征在于，所述填充模塊包括第三三極管和第四三極管，所述第三三極管的基極與所述第二三極管的發射極相連，所述第三三極管的集電極與所述存儲模塊相連，所述第三三極管的發射極與所述信號校正裝置的輸出端相連；所述第四三極管的基極與所述第二三極管的發射極相連，所述第四三極管的集電極與所述存儲模塊相連，所述第四三極管的發射極與所述信號校正裝置的輸出端相連；當所述第二三極管導通且所述第二三極管的集電極輸入高電平時，所述第三三極管導通，當所述第二三極管導通且所述第二三極管的集電極輸入低電平時，所述第四三極管導通。