[發(fā)明專利]集成式光刻板制作方法及LED芯片晶粒的分選方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410182557.1 | 申請(qǐng)日: | 2014-05-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103969942B | 公開(公告)日: | 2017-08-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳小雪;王紅鋒;彭超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湘能華磊光電股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G03F1/38 | 分類號(hào): | G03F1/38;H01L33/00 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)沙智嶸專利代理事務(wù)所43211 | 代理人: | 黃子平 |
| 地址: | 423038 湖南省郴*** | 國(guó)省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成 刻板 制作方法 及其 led 芯片 晶粒 分選 方法 | ||
1.一種集成式光刻板的制作方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)在所述集成式光刻板上彼此垂直設(shè)置的兩條分割線,將光刻板劃分成四個(gè)象限,并將所述兩條分割線分別作為橫坐標(biāo)線和縱坐標(biāo),形成坐標(biāo)系;
2)在任一所述象限中以所述坐標(biāo)系的零點(diǎn)為基準(zhǔn),向橫坐標(biāo)線和縱坐標(biāo)方向延伸形成包含至少一個(gè)晶粒模板的方形標(biāo)準(zhǔn)單元區(qū)域;
3)在四個(gè)象限內(nèi),連續(xù)設(shè)置多個(gè)與所述標(biāo)準(zhǔn)單元區(qū)域內(nèi)晶粒模板圖形和規(guī)格相同的對(duì)照單元區(qū)域,且每個(gè)所述對(duì)照單元區(qū)域內(nèi)各晶粒模板的排列位置與所述標(biāo)準(zhǔn)單元區(qū)域內(nèi)各晶粒模板的排布位置相同,從而得到所述集成式光刻板;
所述標(biāo)準(zhǔn)單元區(qū)域中包括A粒×B粒所述晶粒模板,所述A≥1,所述B≥1且所述A和所述B不能同時(shí)為1;
所述標(biāo)準(zhǔn)單元區(qū)域中各所述晶粒模板的圖形和規(guī)格彼此不同。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述分割線由彼此垂直設(shè)置的兩列晶粒模板組成。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,形成所述標(biāo)準(zhǔn)單元區(qū)域和所述對(duì)照單元區(qū)域時(shí),不以位于所述分割線上的晶粒模板作為所述標(biāo)準(zhǔn)單元區(qū)域和所述對(duì)照單元區(qū)域的組成部分。
4.一種LED芯片晶粒分選方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)以權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)集成式光刻板的制作方法制得的所述集成式光刻板為光掩膜板,將晶片加工為待分選晶粒;
2)依據(jù)所述集成式光刻板上標(biāo)準(zhǔn)單元區(qū)域的規(guī)格,將分選機(jī)中對(duì)應(yīng)于所述標(biāo)準(zhǔn)單元區(qū)域和各對(duì)照單元區(qū)域內(nèi)相對(duì)于坐標(biāo)系位于同一位置上的所述待分選晶粒的Bin值改為相同的Bin值;
3)分選機(jī)依據(jù)所述Bin值將所述待分選晶粒中具有相同Bin值的晶粒分選集中,得到具有相同圖形和相同規(guī)格的所述LED芯片。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,步驟2)中所述Bin值的修改方法包括以下步驟:
S1所述晶片上彼此垂直設(shè)置第一分割線和第二分割線,所述第一分割線為X軸,所述第二分割線為Y軸,形成第一坐標(biāo)系;
S2以每個(gè)晶粒在第一坐標(biāo)系下的坐標(biāo)值(X,Y)經(jīng)(X MOD1 A,Y MOD2 B)后得到(X’,Y’);
S3對(duì)具有相同坐標(biāo)值(X’,Y’)的晶粒給予相同的Bin值;
所述MOD1為X除以A取余數(shù);所述MOD2為Y除以B取余數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述第一分割線為一排貫通所述晶片的晶粒組成,所述第二分割線由一列貫通所述晶片的晶粒組成。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于湘能華磊光電股份有限公司,未經(jīng)湘能華磊光電股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410182557.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:多功能智能藥盒及家庭用藥提醒和管理方法
- 下一篇:負(fù)壓式口部裝置
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過(guò)帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過(guò)電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過(guò)100nm或更短波長(zhǎng)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計(jì)工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準(zhǔn)或測(cè)試的特殊涂層或標(biāo)記;其制備
- 企業(yè)應(yīng)用集成平臺(tái)構(gòu)建方法和體系結(jié)構(gòu)
- 竹集成材折疊椅
- 高精密集成化油路板
- 一種多指標(biāo)集成試劑并行檢測(cè)任意組合集成器
- 一種多指標(biāo)集成試劑并行檢測(cè)任意組合集成器
- 一種基于響應(yīng)的高并發(fā)輕量級(jí)數(shù)據(jù)集成架構(gòu)的實(shí)現(xiàn)方法及其系統(tǒng)
- 基于測(cè)試流程改進(jìn)的系統(tǒng)集成方法及裝置
- 一種數(shù)據(jù)映射集成的方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種便捷式電器置換集成灶
- 分體式集成灶用穿線裝置





