[發(fā)明專利]測(cè)量SF6分解氣體中H2S濃度的方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410171521.3
• 申請(qǐng)日: 2014-04-25
• 公開（公告）號(hào): CN103900983A
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 魯鋼;劉洋;宋杲;顏湘蓮;季嚴(yán)松;蘇鎮(zhèn)西;楊韌;趙也;姚強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 國(guó)家電網(wǎng)公司;黑龍江省電力科學(xué)研究院;中國(guó)電力科學(xué)研究院;國(guó)網(wǎng)安徽省電力公司電力科學(xué)研究院;國(guó)網(wǎng)陜西省電力公司電力科學(xué)研究院;國(guó)網(wǎng)重慶市電力公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號(hào): G01N21/31
• 分類號(hào): G01N21/31
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109
• 代理人: 張利明

1.測(cè)量SF₆分解氣體中H₂S濃度的方法，其特征在于，該方法是基于下述裝置實(shí)現(xiàn)的，所述裝置包括：氘光源(1)、第一聚光鏡(2)、樣品池(3)、第二聚光鏡(4)和光譜儀(5)；

氘光源(1)發(fā)出的光經(jīng)過(guò)第一聚光鏡(2)透射至樣品池(3)中，樣品池(3)將該光透射至第二聚光鏡(4)上，第二聚光鏡(4)將該光透射至光譜儀(5)的入射狹縫中；

所述光譜儀(5)的入射狹縫位于第二聚光鏡(4)的焦點(diǎn)處；

所述樣品池(3)用于填充待檢測(cè)氣體；

所述測(cè)量SF₆分解氣體中H₂S濃度的方法包括以下步驟：

步驟一：在樣品池(3)中充入大氣，打開氘光源(1)，通過(guò)光譜儀(5)獲得大氣的光譜I₀(λ)；

步驟二：在樣品池(3)中充入待檢測(cè)的SF₆分解氣體，通過(guò)光譜儀(5)獲得SF₆分解氣體的光譜I(λ)；

步驟三：依據(jù)比爾定律，利用步驟一獲得的大氣的光譜I₀(λ)和步驟二獲得的SF₆分解氣體的光譜I(λ)，獲得充入樣品池(3)中的待測(cè)H₂S氣體的濃度N。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量SF₆分解氣體中H₂S濃度的方法，其特征在于，所述氘光源(1)為氘燈。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量SF₆分解氣體中H₂S濃度的方法，其特征在于，氘光源(1)發(fā)出的光經(jīng)過(guò)第一聚光鏡(2)后，獲得的輸出光為平行光。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量SF₆分解氣體中H₂S濃度的方法，其特征在于，所述第一聚光鏡(2)和第二聚光鏡(4)均為石英透鏡。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量SF₆分解氣體中H₂S濃度的方法，其特征在于，光譜儀(5)為maya2kPRO型光譜儀。

6.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3、4或5所述的測(cè)量SF₆分解氣體中H₂S濃度的方法，其特征在于，樣品池(3)為兩端密封的圓筒結(jié)構(gòu)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)量SF₆分解氣體中H₂S濃度的方法，其特征在于，樣品池(3)的內(nèi)徑為30mm，長(zhǎng)度為40mm。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量SF₆分解氣體中H₂S濃度的方法，其特征在于，步驟三中根據(jù)比爾定律獲得待測(cè)H₂S氣體濃度N的方法為：對(duì)公式

I(λ)＝I₀(λ)e^σN

求解，獲得H₂S氣體濃度N，公式中，σ為待測(cè)氣體H₂S在氘光源下的吸收截面。