[發明專利]失配差分電路有效
| 申請號: | 201410163658.4 | 申請日: | 2014-04-22 |
| 公開(公告)號: | CN104113310B | 公開(公告)日: | 2018-05-29 |
| 發明(設計)人: | M.赫克馬特;A.阿米爾卡尼 | 申請(專利權)人: | 三星顯示有限公司 |
| 主分類號: | H03K5/22 | 分類號: | H03K5/22 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 金玉潔 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 晶體管 放大器 電勢 差分放大器 配置 差分輸入信號 輸入偏移電壓 差分電路 分放大器 比較器 輸入級 失配 放大 | ||
一種差分放大器包括:包括第一晶體管的第一放大器腿;以及包括第二晶體管的第二放大器腿。這里,第一晶體管被配置為具有與第二晶體管的基體電勢不同的基體電勢。第一放大器腿和第二放大器腿一起可被配置為差分地放大接收到的差分輸入信號。差分放大器可被配置為具有輸入偏移電壓,其對應于第一晶體管的基體電勢與第二晶體管的基體電勢之間的差異。差分放大器可處于比較器的輸入級。
相關申請的交叉引用
本發明專利申請要求2013年4月22日遞交的標題為Triple-MismatchedDifferential Pair、序列號為61/814,756的美國臨時申請以及于2013年10月23日遞交的序列號為14/061,637的美國非臨時申請的優先權和權益,這里通過引用并入上述美國申請的全部內容。
技術領域
本發明的各方面涉及失配差分電路(mismatched differential circuit)和包括失配差分電路的比較器。
背景技術
比較器是比較兩個輸入信號并基于這個比較來輸出信號的裝置。在一種配置中,比較器接收兩個輸入信號并且輸出指示接收到的信號中哪個更大的信號。在另一種配置中,比較器接收兩個信號(例如,兩個互補信號)并且輸出指示兩個接收到的信號之間的差異是否大于閾值電平的信號。
實現來執行上述閾值檢測的比較器具有許多的應用,包括多電平串行/并行鏈路、模擬到數字轉換器和峰值檢測。在比較器中可以使用失配差分電路來設定閾值電平。為了擴展比較器電路的可用范圍(例如增大檢測范圍),希望實現較寬范圍的閾值電平。
發明內容
本發明的各方面針對的是提供實現了寬范圍的閾值電平的失配差分電路。作為示例,根據本發明的實施例的失配差分電路可用于比較器中。
根據本發明的實施例,通過控制比較器的差分電路中的器件的基體電勢(bulkpotential),可以擴展比較器的閾值電平的范圍。例如,在一個實施例中,提供了包括具有失配的基體電勢、尺寸和電流的器件的三重失配差分對,以為比較器實現寬范圍的閾值電平。
根據本發明的實施例,作為用于顯示器的數字通信鏈路的一部分,提供了包括具有失配的基體電勢的器件的失配差分電路。
根據本發明的實施例,提供了一種差分放大器,其包括:包括第一晶體管的第一放大器腿(comparator leg);以及包括第二晶體管的第二放大器腿。這里,第一晶體管被配置為具有與第二晶體管的基體電勢不同的基體電勢。
差分放大器可被配置為處于比較器的輸入級,第一放大器腿和第二放大器腿一起可被配置為差分地放大接收到的差分輸入信號,差分放大器可被配置為具有輸入偏移電壓,并且輸入偏移電壓可對應于第一晶體管的基體電勢與第二晶體管的基體電勢之間的差異。
第一晶體管可具有第一器件尺寸并且第二晶體管可具有與第一器件尺寸不同的第二器件尺寸,并且輸入偏移電壓可還對應于第一器件尺寸與第二器件尺寸之間的差異。
第一器件尺寸可對應于第一晶體管的溝道寬度或長度,并且第二器件尺寸可對應于第二晶體管的溝道寬度或長度。
差分放大器還可包括:第一電流宿(current sink),被配置為吸收第一電流;第二電流宿,被配置為吸收第二電流;第三晶體管;以及第四晶體管。這里,第一晶體管、第二晶體管、第三晶體管和第四晶體管中的每一個可包括第一端子、第二端子和柵極,第一晶體管的第一端子可耦合到第四晶體管的第一端子,第二晶體管的第一端子可耦合到第三晶體管的第一端子,第一晶體管的柵極可耦合到第四晶體管的柵極,第二晶體管的柵極可耦合到第三晶體管的柵極,第一晶體管的第二端子和第二晶體管的第二端子可耦合在一起并耦合到第一電流宿,第三晶體管的第二端子和第四晶體管的第二端子可耦合在一起并耦合到第二電流宿,并且輸入偏移電壓可還對應于第一電流與第二電流之間的差異。
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