[發明專利]檢測分析OLED器件缺陷的方法及裝置

在審

• 申請號: 201410160915.9
• 申請日: 2014-04-22
• 公開（公告）號: CN103969567A
• 公開（公告）日: 2014-08-06
• 發明（設計）人: 楊培;夏維高;李建
• 申請（專利權）人: 四川虹視顯示技術有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01N21/88
• 代理公司: 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227
• 代理人: 周永宏

技術領域

本發明涉及OLED生產工藝，特別是一種檢測分析OLED器件缺陷的方法及裝置。

背景技術

對于OLED的一些缺陷檢測分析，如陽極-陽極短路（AA），陽極-陰極短路（AC），陽極開路（AO），陰極-陰極短路（CC）等，對這些缺陷的檢測分析方法，通常是在OLED器件做好后，先將OLED器件進行點亮，然后用人眼進行現象觀察，發現AA、AC、AO、CC等缺陷的現象后，用顯微鏡對這些缺陷的微觀圖像進行觀察，進而才能分析缺陷發生的具體原因。上面描述的OLED器件的缺陷檢測分析方法有2個缺點：一是人眼在觀察缺陷現象的時候，由于光強、色彩和空間會對人眼的視覺分辨造成影響，造成缺陷現象的漏檢，進而使器件的缺陷檢測分析不全面；二是用顯微鏡對缺陷現象進行觀察的時候，顯微鏡通常不能對缺陷的位置進行自動定位，人手移動載物臺尋找缺陷通常會花費很長時間，造成缺陷檢測分析的效率低。本發明可以提高缺陷檢測分析的效率，并避免缺陷檢測分析的不全面問題。

發明內容

本發明是解決上述問題，提供一種避免了肉眼觀察缺陷的主觀性，使缺陷檢測分析更加客觀全面；且可以自動檢測缺陷，提高了缺陷檢測分析的效率的一種檢測分析OLED器件缺陷的方法及裝置。

本發明的檢測分析OLED器件缺陷的方法，包括如下步驟：

第一步、將OLED器件點亮，然后通過測試設備對點亮的OLED器件進行測試；

第二步、將測試數據進行上報，然后進行分析，確定缺陷現象及缺陷的具體位置；

第三步、根據得出的缺陷具體位置，對OLED器件進行微觀結構觀察；

第四步、將微觀結構觀察得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。

所述第一步中的測試設備為成像測試儀。

所述第一步中進行的測試為灰階掃描。

所述第二步中測試數據上報給計算機。

所述第三步中使用顯微鏡對OLED器件進行微觀結構觀察。

所述第四步中計算機對得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。

本發明的檢測分析OLED器件缺陷的裝置，包括平臺、傳送帶、成像測試儀、顯微鏡、計算機、點亮測試區和觀察測試區；至少一條傳送帶設置在平臺的上面，點亮測試區設置在平臺的左側，觀察測試區設置在平臺的右側，成像測試儀設置在點亮測試區的上方，顯微鏡設置在觀察測試區的上方，計算機安放在平臺外，同時與成像測試儀、顯微鏡、點亮測試區和觀察測試區相連。

所述點亮測試區里設置有與計算機相連的點亮裝置。

所述觀察測試區里設置有與計算機相連的定位裝置。

綜上所述，本發明的檢測分析OLED器件缺陷的方法和裝置具有避免了肉眼觀察缺陷的主觀性，使缺陷檢測分析更加客觀全面；且可以自動檢測缺陷，提高了缺陷檢測分析的效率的優點。

附圖說明

圖1為檢測分析OLED器件缺陷的裝置的結構圖。

其中，1、傳送帶；2、成像測試儀；3、顯微鏡；4、計算機；5、點亮測試區；6、觀察測試區。

具體實施方式

下面結合附圖和具體的實施例對本發明作進一步的闡述。

本發明的檢測分析OLED器件缺陷的方法，包括如下步驟：第一步、將OLED器件點亮，然后通過測試設備對點亮的OLED器件進行測試；第二步、將測試數據進行上報，然后進行分析，確定缺陷現象及缺陷的具體位置；第三步、根據得出的缺陷具體位置，對OLED器件進行微觀結構觀察；第四步、將微觀結構觀察得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。所述第一步中的測試設備為成像測試儀。所述第一步中進行的測試為灰階掃描。所述第二步中測試數據上報給計算機。所述第三步中使用顯微鏡對OLED器件進行微觀結構觀察。所述第四步中計算機對得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。本發明的檢測分析OLED器件缺陷的裝置，包括平臺、傳送帶1、成像測試儀2、顯微鏡3、計算機4、點亮測試區5和觀察測試區6；至少一條傳送帶1設置在平臺的上面，點亮測試區5設置在平臺的左側，觀察測試區6設置在平臺的右側，成像測試儀2設置在點亮測試區5的上方，顯微鏡3設置在觀察測試區6的上方，計算機4安放在平臺外，同時與成像測試儀2、顯微鏡3、點亮測試區5和觀察測試區6相連。所述點亮測試區5里設置有與計算機4相連的點亮裝置。所述觀察測試區6里設置有與計算機4相連的定位裝置。