[發明專利]檢測分析OLED器件缺陷的方法及裝置

在審

• 申請號: 201410160915.9
• 申請日: 2014-04-22
• 公開（公告）號: CN103969567A
• 公開（公告）日: 2014-08-06
• 發明（設計）人: 楊培;夏維高;李建
• 申請（專利權）人: 四川虹視顯示技術有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01N21/88
• 代理公司: 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227
• 代理人: 周永宏

1.一種檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于，包括如下步驟：

第一步、將OLED器件點亮，然后通過測試設備對點亮的OLED器件進行測試；

第二步、將測試數據進行上報，然后進行分析，確定缺陷現象及缺陷的具體位置；

第三步、根據得出的缺陷具體位置，對OLED器件進行微觀結構觀察；

第四步、將微觀結構觀察得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。

2.如權利要求1所述的檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于：所述第一步中的測試設備為成像測試儀。

3.如權利要求1所述的檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于：所述第一步中進行的測試為灰階掃描。

4.如權利要求1所述的檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于：所述第二步中測試數據上報給計算機。

5.如權利要求1所述的檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于：所述第三步中使用顯微鏡對OLED器件進行微觀結構觀察。

6.如權利要求1所述的檢測分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于：所述第四步中計算機對得到的微觀缺陷信息進行上報和記錄。

7.一種檢測分析OLED器件缺陷的裝置，其特征在于：包括平臺、傳送帶（1）、成像測試儀（2）、顯微鏡（3）、計算機（4）、點亮測試區（5）和觀察測試區（6）；至少一條傳送帶（1）設置在平臺的上面，點亮測試區（5）設置在平臺的左側，觀察測試區（6）設置在平臺的右側，成像測試儀（2）設置在點亮測試區（5）的上方，顯微鏡（3）設置在觀察測試區（6）的上方，計算機（4）安放在平臺外，同時與成像測試儀（2）、顯微鏡（3）、點亮測試區（5）和觀察測試區（6）相連。

8.如權利要求7所述的檢測分析OLED器件缺陷的裝置，其特征在于：所述點亮測試區（5）里設置有與計算機（4）相連的點亮裝置。

9.如權利要求7所述的檢測分析OLED器件缺陷的裝置，其特征在于：所述觀察測試區（6）里設置有與計算機（4）相連的定位裝置。