[發(fā)明專利]一種無損檢測表面裂紋算法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410159876.0 | 申請日: | 2014-04-21 |
| 公開(公告)號: | CN103901042A | 公開(公告)日: | 2014-07-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王金鶴;張楠;王斌 | 申請(專利權(quán))人: | 青島理工大學 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 266033 山東省青*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 無損 檢測 表面 裂紋 算法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種無損檢測方法,具體涉及一種無損檢測表面裂紋算法。?
背景技術(shù)
?????連鑄坯表面裂紋現(xiàn)象在生產(chǎn)流程中是不可避免的,若檢測到裂紋就需要進行精整,甚至可能產(chǎn)生廢品,在線檢測表面裂意義重大。利用圖像識別技術(shù)對裂紋進行檢測是一個主要技術(shù)手段,但識別準確率不盡人意。?
發(fā)明內(nèi)容
?????本發(fā)明克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足,提出了一種無損檢測表面裂紋算法。所述算法利用結(jié)構(gòu)方法對圖像進行識別和分類,能快速獲得裂紋缺陷的范圍空間,獲得較好的提取和識別效果,表面缺陷識別效果好,裂紋識別率高,可靠性高,數(shù)據(jù)準確。?
所述算法表面裂紋的識別率可以達到?97%以上。?
?????本發(fā)明的技術(shù)方案為,一種無損檢測表面裂紋算法,所述算法通過視頻設(shè)備獲取黑白數(shù)字圖像,并在圖像上利用裂紋疑似斷塊進行處理和檢測,裂紋疑似斷塊為封閉的梯形塊狀連續(xù)黑區(qū)域,區(qū)域內(nèi)不含空洞,??用集合表示如下:?
T={(?x?,?y?)|?x∈(x1,x2),?x1∈L1,x2∈L2?,p(x?,?y)=1,且p(x1,?y)=p?(x2,?y)=0}
????其中,p(x,y)表示二值圖像的值,0或1,直線L1和L2分別表示裂紋疑似斷塊兩邊的兩條外邊線,不包括邊線,裂紋疑似斷塊的特殊情況是一個點或一條線,在算法中用p1、p2、p3和p4表示裂紋疑似斷塊中的四個點,掃描圖像時是以行為單位自上而下掃描的,所以p1和p2的縱坐標相等,p3和p4的縱坐標相等,且前者小于后者;生成裂紋疑似斷塊的算法步驟為:
????第一步,?對獲取的黑白圖像自左向右,自上而下,逐行掃描,對于第一個具有連續(xù)黑象素的掃描行,記錄掃描行上的連續(xù)黑象素構(gòu)成的區(qū)域塊,并作為最初的裂紋疑似斷塊,以裂紋疑似斷塊為結(jié)點生成鏈表,在鏈表內(nèi)記錄每一個裂紋疑似斷塊的左端、右端和當前掃描行;進行第二個掃描行,尋找連續(xù)黑象素,并與鏈表中的最初的裂紋疑似斷塊逐個進行比較,直至到達裂紋疑似斷塊鏈表表尾,若當前連續(xù)黑象素與鏈表中某一個裂紋疑似斷塊的左端或右端左右偏差不大,合并到這個裂紋疑似斷塊,若找不到匹配的裂紋疑似斷塊,就把這個連續(xù)黑象素生成新的裂紋疑似斷塊,加入鏈表,并記錄新的裂紋疑似斷塊的左端、右端和當前掃描行,如此掃描,直到最后一個掃描行。
??第二步,??對鏈表進行分析?
????從第一步可知,鏈表是以裂紋疑似斷塊為結(jié)點的,遍歷鏈表,分析裂紋疑似斷塊的四個點的坐標p1、p2、p3和p4,判定邊界,確定區(qū)域,把裂紋疑似斷塊標記為裂紋斷塊,把裂紋區(qū)域輸出,若鏈表為空,說明沒有裂紋,輸出零,結(jié)束。
本發(fā)明具有如下有益效果:
1)本發(fā)明能快速獲得裂紋缺陷的范圍空間,獲得較好的提取和識別效果。
2)本發(fā)明表面缺陷識別效果好,裂紋識別率高;?
3)本發(fā)明信噪比高,缺陷分辨能力強;
4)本發(fā)明可靠性高,數(shù)據(jù)準確。
具體實施方式
本發(fā)明通過視頻設(shè)備獲取黑白數(shù)字圖像,并在圖像上利用裂紋疑似斷塊進行處理和檢測,裂紋疑似斷塊為封閉的梯形塊狀連續(xù)黑區(qū)域,區(qū)域內(nèi)不含空洞,??用集合表示如下:?
T={(?x?,?y?)|?x∈(x1,x2),?x1∈L1,x2∈L2?,p(x?,?y)=1,且p(x1,?y)=p?(x2,?y)=0}
????其中,p(x,y)表示二值圖像的值,0或1,直線L1和L2分別表示裂紋疑似斷塊兩邊的兩條外邊線,不包括邊線,裂紋疑似斷塊的特殊情況是一個點或一條線,在算法中用p1、p2、p3和p4表示裂紋疑似斷塊中的四個點,掃描圖像時是以行為單位自上而下掃描的,所以p1和p2的縱坐標相等,p3和p4的縱坐標相等,且前者小于后者;生成裂紋疑似斷塊的算法步驟為:
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G01N 借助于測定材料的化學或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學測試的裝置或儀器
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





