[發明專利]一種無損檢測表面裂紋算法在審
| 申請號: | 201410159876.0 | 申請日: | 2014-04-21 |
| 公開(公告)號: | CN103901042A | 公開(公告)日: | 2014-07-02 |
| 發明(設計)人: | 王金鶴;張楠;王斌 | 申請(專利權)人: | 青島理工大學 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 266033 山東省青*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 無損 檢測 表面 裂紋 算法 | ||
1.一種無損檢測表面裂紋算法,其特征是,所述算法通過視頻設備獲取黑白數字圖像,并在圖像上利用裂紋疑似斷塊進行處理和檢測,裂紋疑似斷塊為封閉的梯形塊狀連續黑區域,區域內不含空洞,??用集合表示如下:
T={(?x?,?y?)|?x∈(x1,x2),?x1∈L1,x2∈L2?,p(x?,?y)=1,且p(x1,?y)=p?(x2,?y)=0}
????其中,p(x,y)表示二值圖像的值,0或1,直線L1和L2分別表示裂紋疑似斷塊兩邊的兩條外邊線,不包括邊線,裂紋疑似斷塊的特殊情況是一個點或一條線,在算法中用p1、p2、p3和p4表示裂紋疑似斷塊中的四個點,掃描圖像時是以行為單位自上而下掃描的,所以p1和p2的縱坐標相等,p3和p4的縱坐標相等,且前者小于后者;生成裂紋疑似斷塊的算法步驟為:
????第一步,?對獲取的黑白圖像自左向右,自上而下,逐行掃描,對于第一個具有連續黑象素的掃描行,記錄掃描行上的連續黑象素構成的區域塊,并作為最初的裂紋疑似斷塊,以裂紋疑似斷塊為結點生成鏈表,在鏈表內記錄每一個裂紋疑似斷塊的左端、右端和當前掃描行;進行第二個掃描行,尋找連續黑象素,并與鏈表中的最初的裂紋疑似斷塊逐個進行比較,直至到達裂紋疑似斷塊鏈表表尾,若當前連續黑象素與鏈表中某一個裂紋疑似斷塊的左端或右端左右偏差不大,合并到這個裂紋疑似斷塊,若找不到匹配的裂紋疑似斷塊,就把這個連續黑象素生成新的裂紋疑似斷塊,加入鏈表,并記錄新的裂紋疑似斷塊的左端、右端和當前掃描行,如此掃描,直到最后一個掃描行;
??第二步,??對鏈表進行分析
從第一步可知,鏈表是以裂紋疑似斷塊為結點的,遍歷鏈表,分析裂紋疑似斷塊的四個點的坐標p1、p2、p3和p4,判定邊界,確定區域,把裂紋疑似斷塊標記為裂紋斷塊,把裂紋區域輸出,若鏈表為空,說明沒有裂紋,輸出零,結束。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于青島理工大學,未經青島理工大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410159876.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:壓縮機及壓縮機組
- 下一篇:雙層電路板安裝裝置及電風扇





