[發明專利]一種像素結構、液晶面板及其工藝方法在審
| 申請號: | 201410155566.1 | 申請日: | 2014-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN103995381A | 公開(公告)日: | 2014-08-20 |
| 發明(設計)人: | 單文澤;李曉曄 | 申請(專利權)人: | 上海天馬微電子有限公司;天馬微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1333 | 分類號: | G02F1/1333;G02F1/1368 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 201201 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 像素 結構 液晶面板 及其 工藝 方法 | ||
技術領域
本發明涉及顯示領域,尤其涉及一種像素結構,包含該像素結構的液晶面板,以及制造該像素結構的工藝方法。
背景技術
目前的像素結構如圖1所示,在基板100上,設置有柵極101,在柵極上方設置有柵極絕緣層102,有源層103設置于柵極絕緣層102上方,且位于柵極101上方。在有源層103上方絕緣地設置源極104以及漏極105,源極104、漏極105上方依次形成有覆蓋整個基板的無機鈍化膜106和有機鈍化膜107。在有機鈍化膜107上形成公共電極108,公共電極108上方形成上部絕緣膜109,上部絕緣膜109上形成像素電極110。漏極105具有漏極延伸部105a,漏極延伸部105a通過貫穿上部絕緣膜109、有機鈍化膜107以及無機鈍化膜107的過孔111與像素電極110相連接。
這種結構中,由于漏極與像素電極用過孔連接,過孔上方液晶無法正常偏轉、取向混亂,導致漏光。作為對策,目前一般都在過孔上方采用黑矩陣(BM)遮擋,這會造成光透過率的降低。隨著近年來液晶屏像素(PPI)的增加,過孔尺寸對透過率的影響越來越明顯。
發明內容
本發明旨在提供一種像素結構,能夠減少像素結構中漏極與像素電極連接的過孔尺寸。
一種像素結構,包含:基板;薄膜晶體管,設置于所述基板上方,所述薄膜晶體管包含柵極、柵極絕緣層、有源層、源極、漏極;至少一個凸起,所述凸起采用薄膜晶體管任一層同種材料制成,所述凸起位于所述漏極下方;鈍化膜,覆蓋于所述薄膜晶體管上方;公共電極,設置于所述鈍化膜上方;上部絕緣膜,設置于所述公共電極上方;過孔,貫穿所述上部絕緣膜及所述鈍化膜;像素電極,設置于所述上部絕緣膜上方,所述像素電極通過所述過孔與所述薄膜晶體管的漏極電連接。
一種液晶面板,包含上述的像素結構。
一種制造像素結構的工藝方法,包含:提供一基板;在基板上方形成柵極,同時在所述柵極的一側形成有凸起結構;在所述柵極上方形成柵極絕緣層;柵極絕緣層上方對應柵極的位置形成有源層;在有源層上表面絕緣地設置源極和漏極,所述漏極覆蓋所述凸起;在源極和漏極層上方形成鈍化膜;在鈍化膜上方形成公共電極;在所述公共電極上方形成上部絕緣膜;形成貫穿所述上部絕緣膜和所述鈍化膜的過孔;在所述上部絕緣膜上方形成像素電極,所述像素電極通過所述過孔與漏極電連接。
一種制造像素結構的工藝方法,包含:提供一基板;在基板上方形成柵極;在所述柵極上方形成柵極絕緣層,同時在對應柵極一側的位置形成凸起結構;在柵極絕緣層上方對應柵極的位置形成有源層;,在有源層上表面絕緣地設置源極和漏極,所述漏極覆蓋所述凸起;在源極和漏極層上方形成鈍化膜;在鈍化膜上方形成公共電極;在所述公共電極上方形成上部絕緣膜;形成貫穿所述上部絕緣膜和所述鈍化膜的過孔;在所述上部絕緣膜上方形成像素電極,所述像素電極通過所述過孔與漏極電連接。
一種制造像素結構的工藝方法,包含:提供一基板;在基板上方形成柵極;在所述柵極上方形成柵極絕緣層;在所述柵極絕緣層上方對應柵極的位置形成有源層,同時在所述有源層的一側形成凸起結構;在所述有源層上表面分離地設置源極和漏極,所述漏極覆蓋所述凸起;在源極和漏極層上方形成鈍化膜;在鈍化膜上方形成公共電極;在所述公共電極上方形成上部絕緣膜;形成貫穿所述上部絕緣膜和所述鈍化膜的過孔;在所述上部絕緣膜上方形成像素電極,所述像素電極通過所述過孔與漏極電連接。
一種制造像素結構的工藝方法,包含:提供一基板;在基板上方形成柵極,同時在所述柵極的一側形成第一凸起結構;在所述柵極上方形成柵極絕緣層;在所述柵極絕緣層上方對應柵極的位置形成有源層,同時在有源層對應第一凸起的位置形成第二凸起結構;在所述有源層上表面分離地設置源極和漏極,所述漏極覆蓋所述第一凸起和第二凸起;在源極和漏極層上方形成鈍化膜;在鈍化膜上方形成公共電極;在所述公共電極上方形成上部絕緣膜;形成貫穿所述上部絕緣膜和所述鈍化膜的過孔;在所述上部絕緣膜上方形成像素電極,所述像素電極通過所述過孔與漏極電連接。
本發明具有如下一種或多種的技術效果:
1,能夠減小像素電極與薄膜晶體管(TFT)漏極相連的過孔尺寸,從而有效防止過孔上方液晶偏轉不正常造成的漏光等現象。
2,能夠減小過孔上方黑矩陣(BM)的尺寸,從而提高透光率。
3,能夠通過一步工藝同時形成TFT和凸起,無需額外工藝步驟,節省成本。
附圖說明
圖1為現有技術的像素結構示意圖;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海天馬微電子有限公司;天馬微電子股份有限公司,未經上海天馬微電子有限公司;天馬微電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410155566.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





