[發(fā)明專利]微孔高速噴流原子發(fā)射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410152956.3 | 申請日: | 2014-04-16 |
| 公開(公告)號: | CN103969243A | 公開(公告)日: | 2014-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 儲德韌;張小沁 | 申請(專利權(quán))人: | 上海化工研究院;上海天科化工檢測有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/67 | 分類號: | G01N21/67 |
| 代理公司: | 上海科盛知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225 | 代理人: | 蔣亮珠 |
| 地址: | 200062 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微孔 高速 噴流 原子 發(fā)射光譜 檢測 極微 樣品 元素 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種原子發(fā)射光譜法裝置,尤其是涉及一種微孔高速噴流原子發(fā)射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置。
背景技術(shù)
原子發(fā)射光譜法(Atomic Emission Spectroscopy,AES)是一種依據(jù)不同元素在受到熱或者電激發(fā)而由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài),再返回基態(tài)時所發(fā)射出的特征光譜進(jìn)行定性、定量的一種分析方法。它可以實(shí)現(xiàn)多元素的同時快速檢測,并具有選擇性高、檢出限低、準(zhǔn)確度較高等優(yōu)點(diǎn)。
自從1859年Kirchoff G.R.和Bunsen R.W.研制出第一臺用于光譜分析的分光鏡以來,原子發(fā)射光譜儀器已經(jīng)過幾十年的持續(xù)改進(jìn)。目前比較成熟的儀器種類包括:火焰發(fā)射光譜儀、微波等離子體光譜儀、電感耦合等離子體光譜儀、光電光譜儀、分光攝譜儀等等。無論是屬于哪一種類型,原子發(fā)射光譜儀基本都由光源、進(jìn)樣、分光、檢測四個組件組成的。原子發(fā)射光譜儀根據(jù)光源不同分可為直流電弧、交流電弧、火花和電感耦合等離子體(ICP)四大類,其中直流和交流電弧的蒸發(fā)溫度較高,樣品消耗量小,但放電穩(wěn)定性稍差,適用于礦物質(zhì)、金屬、難揮發(fā)物質(zhì)、低含量組分等固體材料分析;而電感耦合等離子體方法因?yàn)槠毡椴捎昧巳龑油氖⒉AЬ婀芡饧痈哳l感應(yīng)線圈的設(shè)計,同時具有較高的蒸發(fā)溫度和很好的放電穩(wěn)定性,適用于各類溶液的定量分析,但是測定時樣品溶液的消耗量受所配霧化器的霧化效率控制,針對溶液中多元素在線分析時所需樣品溶液較多。
在原子發(fā)射光譜儀器不斷改進(jìn)的歷史中,針對光源、檢測器件的改進(jìn)層出不窮;然而,針對如何充分結(jié)合電弧法和電感耦合等離子體法對進(jìn)樣系統(tǒng)進(jìn)行改進(jìn)設(shè)計一直是人們鮮有涉足的領(lǐng)域。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷而提供一種微孔高速噴流原子發(fā)射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置,實(shí)現(xiàn)對微量(微升級)溶液樣品的原子發(fā)射光譜檢測。
本發(fā)明的目的可以通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):
一種微孔高速噴流原子發(fā)射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置,該裝置包括以下組成部分:
進(jìn)樣系統(tǒng):包括高壓氣瓶、高壓氣體開關(guān)閥、進(jìn)樣-清洗針、樣品管/上電極、真空抽氣泵a、氣壓表、氬氣套管和三向閥;所述的高壓氣瓶通過高壓氣體管路依次連接氣壓表、高壓氣體開關(guān)閥、三向閥和樣品管/上電極的側(cè)面開口,三向閥的另一開口連接氬氣套管,氬氣套管套接在樣品管/上電極外部,所述的進(jìn)樣-清洗針穿過樣品管頂部的密封隔墊,位于樣品管空腔的中軸線部,所述的真空抽氣泵a連接氬氣套管;
電離光源系統(tǒng):包括一對中空電極:上電極和下電極和放電室,其中上電極與樣品管融為一體,構(gòu)成樣品管/上電極,下電極位于與樣品管/上電極同軸垂直下方的位置,下電極的下端穿過放電室底部的密封隔墊懸于集液瓶上方;所述的放電室上端安裝有樣品管/上電極,底端安裝有下電極并與集液瓶相連,放電室側(cè)面設(shè)有光學(xué)窗口,底部連接真空抽氣泵b;
凹面光柵,安裝在放電室側(cè)面的光學(xué)窗口上,同時收集不同元素分光后的元素譜線,再利用攝譜儀進(jìn)行分析;
攝譜儀,安裝在放電室的側(cè)壁上,位于光柵的后方,用于收集和記錄樣品溶液中不同元素所發(fā)射的特征譜線;
高壓電源,通過電路連接品管/上電極和下電極,用以提供和維持作為光源的電弧;
集液瓶,安裝在下電極的正下方,用于收集試驗(yàn)檢測中少量殘余的樣品溶液。
所述的樣品管/上電極中空,側(cè)面開口連接有用于進(jìn)氬氣的高壓氣管路,氣體輸送系統(tǒng)輸送的高壓氬氣可以起到形成射流霧化樣品溶液、電離放電的功效,從而可以省去電感耦合等離子體裝置中的霧化器部件,大大節(jié)省了待測溶液用量,并提高了檢測效率。
所述的樣品管/上電極的底部末端收縮成細(xì)孔狀的噴射微孔,作為導(dǎo)電部分的上電極底部放電尖端,與高壓電源由導(dǎo)線連接。視樣品溶液組成和測量靈敏度要求,上電極放電尖端可以由高純石墨或純銅制成。
所述的下電極為中空管狀結(jié)構(gòu),其材質(zhì)與樣品管/上電極一致,除了可以與上電極之間產(chǎn)生尖端放電,維持穩(wěn)定電弧之外,其中空的管狀結(jié)構(gòu)還有助于殘余的樣品溶液的快速排出。
所述的放電室采用耐高壓高強(qiáng)度合金鋼制成,放電室上端和底端都安裝有絕緣圈,上端通過絕緣圈安裝樣品管/上電極,底端通過絕緣圈安裝下電極,放電室側(cè)面有透過率高的石英玻璃開口的光學(xué)窗口,其上還安裝有光柵,并與作為檢測器件的攝譜儀串接。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





