[發明專利]微孔高速噴流原子發射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置有效
| 申請號: | 201410152956.3 | 申請日: | 2014-04-16 |
| 公開(公告)號: | CN103969243A | 公開(公告)日: | 2014-08-06 |
| 發明(設計)人: | 儲德韌;張小沁 | 申請(專利權)人: | 上海化工研究院;上海天科化工檢測有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/67 | 分類號: | G01N21/67 |
| 代理公司: | 上海科盛知識產權代理有限公司 31225 | 代理人: | 蔣亮珠 |
| 地址: | 200062 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 微孔 高速 噴流 原子 發射光譜 檢測 極微 樣品 元素 裝置 | ||
1.一種微孔高速噴流原子發射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置,其特征在于,該裝置包括以下組成部分:
進樣系統:包括高壓氣瓶(1)、高壓氣體開關閥(2)、進樣-清洗針(4)、樣品管/上電極(6)、真空抽氣泵a(9-2)、氣壓表(14)、氬氣套管(15)和三向閥(16);所述的高壓氣瓶(1)通過高壓氣體管路依次連接氣壓表(14)、高壓氣體開關閥(2)、三向閥(16)和樣品管/上電極(6)的側面開口,三向閥(16)的另一開口連接氬氣套管(15),氬氣套管(15)套接在樣品管/上電極(6)外部,所述的進樣-清洗針(4)穿過樣品管頂部的密封隔墊,位于樣品管空腔的中軸線部,所述的真空抽氣泵a(9-2)連接氬氣套管(15);
電離光源系統:包括一對中空電極:上電極和下電極(12)和放電室(8),其中上電極與樣品管融為一體,構成樣品管/上電極(6),下電極(12)位于與樣品管/上電極(6)同軸垂直下方的位置,下電極(12)的下端穿過放電室(8)底部的密封隔墊懸于集液瓶(13)上方;所述的放電室(8)上端安裝有樣品管/上電極(6),底端安裝有下電極(12)并與集液瓶(13)相連,放電室(8)側面設有光學窗口,底部連接真空抽氣泵b(9-1);
凹面光柵(11),安裝在放電室(8)側面的光學窗口上,同時收集不同元素分光后的元素譜線,再利用攝譜儀進行分析;
攝譜儀(10),安裝在放電室(8)的側壁上,位于凹面光柵(11)的后方,用于收集和記錄樣品溶液中不同元素所發射的特征譜線;
高壓電源(5),通過電路連接品管/上電極(6)和下電極(12),用以提供和維持作為光源的電弧;
集液瓶(13),安裝在下電極(12)的正下方,用于收集試驗檢測中少量殘余的樣品溶液。
2.根據權利要求1所述的一種微孔高速噴流原子發射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置,其特征在于,所述的樣品管/上電極(6)中空,側面開口連接有用于進氬氣的高壓氣管路,高壓氣瓶(1)輸送的高壓氬氣在樣品管/上電極(6)中形成射流霧化樣品溶液,并電離放電。
3.根據權利要求1所述的一種微孔高速噴流原子發射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置,其特征在于,所述的樣品管/上電極(6)的底部末端收縮成細孔狀的噴射微孔(7),作為導電部分的上電極底部放電尖端,與高壓電源(5)由導線連接。
4.根據權利要求3所述的一種微孔高速噴流原子發射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置,其特征在于,所述的放電尖端由高純石墨或純銅制成。
5.根據權利要求1所述的一種微孔高速噴流原子發射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置,其特征在于,所述的下電極(12)為中空管狀結構,其材質與樣品管/上電極(6)一致,工作時,管狀下電極(12)與樣品管/上電極(6)之間產生尖端放電,管狀下電極(12)的底端穿過放電室(8)底部密封隔墊連通集液瓶(13)。
6.根據權利要求1所述的一種微孔高速噴流原子發射光譜法檢測極微量樣品元素的裝置,其特征在于,所述的放電室(8)采用耐高壓高強度合金鋼制成,放電室(8)上端和底端都安裝有絕緣圈,上端通過絕緣圈(3)安裝樣品管/上電極(6),底端通過絕緣圈安裝下電極(12),所述的光學窗口采用石英玻璃材質。
7.根據權利要求1所述的一種微孔高速噴流原子發射光譜法檢測極少量樣品元素裝置,其特征在于,所述的進樣-清洗針(4)與樣品管/上電極(6)同軸垂直,其容量設計為精確吸取/注射微升級的樣品溶液,用以減少樣品溶液的檢測用量。
8.根據權利要求1所述的一種微孔高速噴流原子發射光譜法檢測極少量樣品元素裝置,其特征在于,所述的進樣-清洗針(4)由自動進樣系統控制,實現微量連續快速進樣-清洗-進樣功能。
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