[發明專利]扁平狀和柱狀金屬微顆粒的制備方法有效
| 申請號: | 201410149411.7 | 申請日: | 2014-04-12 |
| 公開(公告)號: | CN104162677A | 公開(公告)日: | 2014-11-26 |
| 發明(設計)人: | 劉本東;蘇彥強 | 申請(專利權)人: | 北京工業大學 |
| 主分類號: | B22F9/00 | 分類號: | B22F9/00 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 扁平 柱狀 金屬 顆粒 制備 方法 | ||
技術領域
本發明是一種金屬微顆粒的制備方法,具體為一種形狀一致、大小均勻的扁平狀或柱狀金屬微顆粒的制備方法,本發明屬于金屬顆粒制備領域。?
背景技術
現存的金屬顆粒制備方法制作的金屬顆粒形狀不規則,尺寸大小不統一,難以滿足工業產品開發、科學研究實驗等需求。?
市來浩一在專利公開號CN1727098A公開的通過電解法制備金屬顆粒的方法,該方法是通過振動將細碳纖維分散于電解溶液中,然后通過電解方法使含有細碳纖維的金屬顆粒沉積在陰極上,最后通過超生沖擊使金屬顆粒與陰極分離。雖然該方法能夠批量制備金屬顆粒,但其無法精確控制金屬顆粒的大小和形狀。?
中國發明專利公開號CN1255415公開的鋅粒的制作方法。該方法是將熔融狀態的鋅液直接滴入冷凝浴槽內,冷凝浴槽內裝有水直接冷卻熔融狀態鋅液,最后獲得鋅粒。該方法仍不能有效的控制顆粒的尺寸和形狀。?
美國專利388956公布了一種采用溶滴法加工金屬顆粒的方法。在該方法中,使熔融鐵的熔液朝著一個水平的固定部件落下,溶體撞擊該部件時,由于其本身的動能而破碎,形成不規則的溶滴,這些溶滴往上述部件的上方和向外運動,然后落入位于所連部件下面的冷卻介質溶液中,采用這種方法可以制作金屬顆粒,但是該方法制作的顆粒大小不一,形狀各異。?
在此背景下,本發明提出一種基于光刻、電鍍技術的金屬顆粒制備方法,該方法能夠制作出具有形狀規則、大小均勻,可批量制作,制備的金屬顆粒致密,表面光潔、無裂紋,等優點的金屬顆粒。?
發明內容
本發明目的在于克服現存顆粒制備方法中,顆粒大小不統一、形狀不規則等缺點,實現柱狀金屬微粒的精確制備。本發明適用于圓柱狀、棱柱狀等金屬微粒的制備,柱狀金屬微粒的橫截面尺寸從1微米至1毫米均可,高度?可達橫截面尺寸的0.01-3倍。當柱狀顆粒的高度相對橫向尺寸較小時,金屬顆粒呈扁平狀。?
本發明其特征在于采用光刻、電鍍制備金屬顆粒,具體步驟如下:?
S1、首先制備掩膜版,用計算機軟件繪制出要制作的金屬顆粒橫截面形狀,然后轉印在石英玻璃或者膠片上,在曝光時使用。?
S2、選用玻璃、環氧樹脂板或玻璃纖維板作基底,采用去離子水清洗干凈,并烘干。?
S3、采用濺射工藝或蒸鍍工藝,在基底正面上濺射一層電鍍種子層;所述的電鍍種子層必須為導體。?
S4、在基底正面的電鍍種子層上涂一層正性光刻膠,然后在勻膠臺上勻膠,使光刻膠均勻分布在電鍍種子層上,并烘膠;光刻膠有正性光刻膠和負性光刻膠之分,正性光刻膠是將被曝光部分光刻膠去除,將未被曝光部分光刻膠保留,負性光刻膠相反;根據掩膜版的圖形選用正性光刻膠或負性光刻膠。?
S5、將涂好光刻膠的基片正確的安裝在曝光機上,并與預先制作好的掩膜版對正,使掩膜版的圖形區域恰好落在基片的中心位置,然后進行曝光。?
S6、將金屬顆粒圖形轉移到光刻膠上,然后對基片進行烘烤,除去顯影時所吸收的顯影液和殘留水分。?
S7、首先鍍前預處理,將基片放置到稀硫酸中清洗,然后開始電鍍,將基片作為陰極,金屬塊作陽極,分別放置在電鍍浴液中,并通入直流電流或者脈沖直流電,進行電鍍;有光刻膠的部位無變化,無光刻膠的部位會生長出金屬顆粒;?
S8、采用去膠液去除基片上的光刻膠,然后放置在裝有純凈水的容器中,采用超聲清洗機對其進行超聲振動沖擊,使金屬顆粒脫離電鍍種子層,從而得到所需的金屬顆粒。?
S9、基片取出,然后對容器中液體進行過濾得到金屬顆粒,再對金屬顆粒烘干即可。?
所述的步驟S4中,若制作扁平狀的顆粒,可采用BP212型光刻膠,如需?制作較大深寬比的顆粒,可選用SU8或AZ460系列光刻膠。所述的較大深寬比范圍一般為2-3。?
所述的步驟S7中所采用的電鍍可用化學鍍代替。?
本發明包括以下優點:?
①、可以根據需要的柱狀金屬顆粒的形狀、大小,預先采用計算機軟件繪制圖形,制作成掩膜版,從而實現對金屬顆粒尺寸的較精確控制,所制作的金屬顆粒形狀一致、大小均勻。?
②、可以根據需要,選擇不同成分的電鍍浴液,從而獲得不同種類的金屬顆粒。?
③、可批量制作,掩膜版可以安裝在曝光機上重復使用,因此可以通過制作尺寸較大的基片,然后對基片不同區域曝光,以實現批量制作。?
附圖說明
圖1:本發明的實施工藝所用的掩膜版圖?
圖2:本發明的實施工藝的過程示意圖一?
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