[發(fā)明專利]一種晶圓測試過程中的拾片文件的自動生成方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410143264.2 | 申請日: | 2014-04-11 |
| 公開(公告)號: | CN104715101B | 公開(公告)日: | 2018-07-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 金蘭;石志剛;楊振宇 | 申請(專利權(quán))人: | 北京確安科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 苗青盛 |
| 地址: | 100094 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測試 過程 中的 文件 自動 生成 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種晶圓測試過程中的拾片文件的自動生成方法,通過探針臺最終Map圖信息自動生成拾片文件的方法;操作步驟是:選擇要輸入的有效的Map圖文件,選擇用戶要求的拾片文件輸出文件格式,選擇拾片文件輸出路徑,自動生成拾片文件;該發(fā)明方法消除了現(xiàn)有的拾片文件的不安全因素,操作簡便、快速、結(jié)果安全,節(jié)約了測試成本,保證了被測晶圓管芯測試結(jié)果的唯一性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種晶圓測試過程中的拾片文件的自動生成方法,屬于集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
目前,在集成電路測試公司經(jīng)過測試的晶圓傳遞到下一道工序-封裝,有兩種方式標識其測試結(jié)果:打墨點和給拾片機提供拾片文件,兩者各有利弊。
打墨點是在晶圓表面用墨水圓點標記壞管芯,以便封裝廠在進行芯片貼裝時,自動拾片機根據(jù)其明暗度可以自動分辨出合格的芯片和不合格的芯片,并將壞品剔除掉,其缺點是打點需要占用一臺或多臺探針臺設(shè)備,打點時間根據(jù)失效管芯數(shù)呈幾何倍數(shù)增長。在現(xiàn)在芯片制作工藝越來越精細的前提下,管芯越小,晶圓上的總管芯數(shù)越來越多。舉例說,若一枚8寸晶圓內(nèi)包含10000個有效管芯,其良率為90%,則失效管芯數(shù)為1000個,按打一個墨點需要花費0.5秒計,總共需要8.5分鐘花費在打墨點上,加上探針臺上下片時間(2分鐘/每枚晶圓),則需要10.5分鐘,1Lot(25枚晶圓)打點時間共計4.5小時。
拾片文件是將晶圓測試結(jié)果以電子文檔形式提供給封裝廠。這種方法的優(yōu)點是不占用額外的設(shè)備時間,通過測試結(jié)果自動生成拾片文件,節(jié)約測試成本。
現(xiàn)有的拾片文件生成方法是通過提取海量測試數(shù)據(jù)中的坐標以及測試結(jié)果等信息,再經(jīng)過數(shù)據(jù)處理組合生成拾片文件,如圖1上方所指流程(細線所指流程)。
現(xiàn)有方法缺點如下:
1)通過軟件從海量測試數(shù)據(jù)中提取生成拾片文件所需的坐標信息以及測試結(jié)果,并將測試結(jié)果按照XY坐標對應的點寫入到拾片文件中,面對每一枚晶圓的龐大測試數(shù)據(jù),操作繁瑣;
2)在測試過程中由于設(shè)備及硬件故障會出現(xiàn)停機現(xiàn)象,此時半個晶圓的測試數(shù)據(jù)要保存;故障處理完之后再繼續(xù)測試余下的部分,這時,測試數(shù)據(jù)分成兩個文件,并且在繼續(xù)的過程中必然會出現(xiàn)部分坐標的多個測試結(jié)果,這時軟件需要判斷同一坐標重復測試數(shù)據(jù)中的有效信息,去除無效信息,為了使每一坐標的管芯測試結(jié)果保證唯一,需要靠人工進行數(shù)據(jù)處理,易出錯、結(jié)果不可靠。
3)由于探針或其他原因?qū)е聜€別管芯失效也需要在測試生產(chǎn)過程中進行補測,對于補測數(shù)據(jù)文件也需要用人工進行數(shù)據(jù)處理,對某一個坐標的管芯測試多次后,錯誤比率增加,測試結(jié)果可信度降低,拾片文件的可靠性也降低。
因此,急需用更安全有效的方法生成拾片文件,減少人工干預,保證管芯測試結(jié)果唯一性,為集成電路封裝工序提供高質(zhì)量的拾片文件。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種更安全、有效的拾片文件的生成方法。為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明的解決方案如下:
與海量測試數(shù)據(jù)相比,探針臺生成的Map圖文件具有唯一性,即使在測試過程中出現(xiàn)半片接圖或者補測的情況,也是在之前Map圖的基礎(chǔ)上進行信息增加和信息修改,因此可以保證探針臺Map圖為最終結(jié)果。不同探針臺對一枚晶圓測試過程中產(chǎn)生的多張Map圖處理方式不一樣,例如,EG公司的EG4000系列探針臺能夠保存多張過程圖;而TSK公司的UF200系列探針臺僅保存最后一張Map圖,但能夠保證其最后生成的Map圖為該枚晶圓最終結(jié)果Map圖。加上Map圖為探針臺自動生成文件,無法進行人工干預,十六進制碼內(nèi)容無法進行誤編輯,可以杜絕人為因素導致的Map圖文件修改。因此,本發(fā)明選取探針臺生成的Map圖作為唯一依據(jù),自動生成拾片文件,如圖1下方所指流程(粗線所指流程)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京確安科技股份有限公司,未經(jīng)北京確安科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410143264.2/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





