[發(fā)明專利]一種微型麥克風(fēng)電容測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410141185.8
• 申請(qǐng)日: 2014-04-09
• 公開（公告）號(hào): CN103888885B
• 公開（公告）日: 2017-01-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王維奎;穆德寶;陳軍生
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 歌爾股份有限公司
• 主分類號(hào): H04R29/00
• 分類號(hào): H04R29/00
• 代理公司: 濰坊正信專利事務(wù)所37216
• 代理人: 王秀芝

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子元器件測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，具體地說，涉及一種微型麥克風(fēng)電容測(cè)試方法。?

背景技術(shù)

近年來，微型麥克風(fēng)在電子產(chǎn)品中逐步得到廣泛應(yīng)用，現(xiàn)有的微型麥克風(fēng)包括多種類型，其中有一種呈圓柱形，其外部為金屬導(dǎo)電外殼和線路板構(gòu)成的封裝結(jié)構(gòu)，在線路板上設(shè)有正極焊盤和負(fù)極焊盤用于與終端產(chǎn)品上的電路連接，其導(dǎo)電外殼電連接麥克風(fēng)內(nèi)部電容與線路板上的負(fù)極焊盤，內(nèi)部電容用于將聲音信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，線路板上還設(shè)有用于進(jìn)行信號(hào)處理的外接電容。目前，像這種圓柱形的微型麥克風(fēng)產(chǎn)品一般通過自動(dòng)化生產(chǎn)線自動(dòng)組裝，生產(chǎn)效率比較高。但是對(duì)于其質(zhì)量測(cè)試，由于微型麥克風(fēng)為圓柱形，因此難以自動(dòng)控制兩個(gè)焊盤之間的角度，導(dǎo)致無法用固定角度的兩條探針與焊盤接觸進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，傳統(tǒng)的方法一般是手工進(jìn)行測(cè)試，由于微型麥克風(fēng)產(chǎn)品的尺寸較小，手工測(cè)試也非常困難，效率低下。而且測(cè)試工人很難將測(cè)試設(shè)備的兩個(gè)探針正確地連通到目標(biāo)微型麥克風(fēng)的焊盤，使測(cè)試工人無法正確地對(duì)麥克風(fēng)產(chǎn)品進(jìn)行性能參數(shù)的測(cè)試，測(cè)試容易出現(xiàn)錯(cuò)誤。?

目前，也出現(xiàn)了用探針組來進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備，通過探針組實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化識(shí)別微型麥克風(fēng)正極焊盤，例如申請(qǐng)?zhí)枮?01020254859.2的中國專利就披露了一種利用探針組、通過通道選擇開關(guān)輪流導(dǎo)通每個(gè)探針回路，檢測(cè)回路電流，從而確定與正極焊盤接觸的正極探針來進(jìn)行測(cè)試。但是由于探針組包括多條探針，當(dāng)麥克風(fēng)的焊盤較大時(shí)，會(huì)出現(xiàn)多根探針同時(shí)接觸正極焊盤的情況，而且探針到通道選擇開關(guān)之間的連線多為多芯線，使得同時(shí)接觸正極焊盤的多根探針與負(fù)極之間存在線間電容，線間電容的存在使得在測(cè)試麥克風(fēng)時(shí)由于線間電容影響會(huì)導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確或誤判情況。例如，圖1為用現(xiàn)有的微型麥克風(fēng)電容測(cè)試設(shè)備及測(cè)試方法出現(xiàn)的誤判情況的電容測(cè)試原理圖。如圖1所示：定義目?標(biāo)微型麥克風(fēng)的內(nèi)部電容為C1，線路板上的外接電容為C2，若只有一根正極探針與正極焊盤接觸時(shí)，其與負(fù)極探針之間的線間電容為C3，若有兩根正極探針，與正極焊盤接觸時(shí)，兩根正極探針與負(fù)極探針之間的線間電容分別為C3、C4?，F(xiàn)有的微型麥克風(fēng)的電容測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法會(huì)出現(xiàn)以下誤判情況：?

誤判情況1：目標(biāo)微型麥克風(fēng)產(chǎn)品為合格產(chǎn)品，測(cè)試時(shí)有兩根正極探針同時(shí)接觸正極焊盤，其電容正常測(cè)試值應(yīng)該為C1+C2+C3,但是測(cè)試時(shí)由于還存在線間電容C4，這樣實(shí)際測(cè)得的電容值為：C1+C2+C3+C4，超過了標(biāo)準(zhǔn)比較值：C1+C2+C3，測(cè)試設(shè)備就會(huì)將本來合格的微型麥克風(fēng)產(chǎn)品判斷為不合格產(chǎn)品，出現(xiàn)誤判情況。?

誤判情況2：目標(biāo)微型麥克風(fēng)產(chǎn)品內(nèi)部電容C1漏焊，為不合格產(chǎn)品，測(cè)試時(shí)有兩根正極探針同時(shí)接觸正極焊盤。其電容正常測(cè)試值應(yīng)該為C2+C3，低于標(biāo)準(zhǔn)比較值：C1+C2+C3，但是測(cè)試時(shí)由于還存在線間電容C4，這樣實(shí)際測(cè)得的電容值為：C2+C3+C4，這樣由于線間電容C4的加入，抵消了漏掉的C1的電容值，因此，測(cè)試設(shè)備可能會(huì)將本來不合格的微型麥克風(fēng)產(chǎn)品判斷為合格產(chǎn)品，出現(xiàn)誤判情況。?

另外，由于微型麥克風(fēng)產(chǎn)品都是批量生產(chǎn)，物料及工藝等變化導(dǎo)致批量電容參數(shù)整體遷移，而測(cè)試時(shí)僅僅對(duì)電容的一致性有要求時(shí)，還需要人工重新測(cè)量該批微型麥克風(fēng)產(chǎn)品的電容值，耗時(shí)耗力。?

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是：提供一種能夠消除線間電容對(duì)微型麥克風(fēng)電容測(cè)試結(jié)果的影響、準(zhǔn)確性高的微型麥克風(fēng)電容測(cè)試方法。?

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的技術(shù)方案是：?

一種微型麥克風(fēng)電容測(cè)試方法，包括以下步驟：?

a.準(zhǔn)備測(cè)試探針組、通道選擇開關(guān)、供電與電流檢測(cè)模塊、電容檢測(cè)模塊和嵌入式控制模塊，其中，?

所述測(cè)試探針組包括一個(gè)負(fù)極探針和環(huán)形陣列分布的m（m>1）個(gè)正極探針；?

所述通道選擇開關(guān)的輸入端與所述正極探針電連接，所述通道選擇開關(guān)的?輸出端分別與所述供電與電流檢測(cè)模塊、電容檢測(cè)模塊電連接，所述負(fù)極探針分別與所述供電與電流檢測(cè)模塊和所述電容檢測(cè)模塊的接地端子電連接;?

所述通道選擇開關(guān)、所述供電與電流檢測(cè)模塊和所述電容檢測(cè)模塊分別與所述嵌入式控制模塊的I/O口連接；?

b.使所述測(cè)試探針組與目標(biāo)微型麥克風(fēng)接觸，其中，所述負(fù)極探針與目標(biāo)微型麥克風(fēng)的導(dǎo)電外殼接觸連接，所述環(huán)形陣列分布的m個(gè)正極探針與目標(biāo)微型麥克風(fēng)的線路板同心接觸連接；?