[發明專利]一種微型麥克風電容測試方法有效
| 申請號: | 201410141185.8 | 申請日: | 2014-04-09 |
| 公開(公告)號: | CN103888885B | 公開(公告)日: | 2017-01-25 |
| 發明(設計)人: | 王維奎;穆德寶;陳軍生 | 申請(專利權)人: | 歌爾股份有限公司 |
| 主分類號: | H04R29/00 | 分類號: | H04R29/00 |
| 代理公司: | 濰坊正信專利事務所37216 | 代理人: | 王秀芝 |
| 地址: | 261031 山東省濰*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 微型 麥克風 電容 測試 方法 | ||
1.一種微型麥克風電容測試方法,其特征在于,包括以下步驟:
a.準備測試探針組、通道選擇開關、供電與電流檢測模塊、電容檢測模塊和嵌入式控制模塊,其中,
所述測試探針組包括一個負極探針和環形陣列分布的m(m>1)個正極探針;
所述通道選擇開關的輸入端與所述正極探針電連接,所述通道選擇開關的輸出端分別與所述供電與電流檢測模塊、電容檢測模塊電連接,所述負極探針分別與所述供電與電流檢測模塊和所述電容檢測模塊的接地端子電連接;
所述通道選擇開關、所述供電與電流檢測模塊和所述電容檢測模塊分別與所述嵌入式控制模塊的I/O口連接;
b.使所述測試探針組與目標微型麥克風接觸,其中,所述負極探針與目標微型麥克風的導電外殼接觸連接,所述環形陣列分布的m個正極探針與目標微型麥克風的線路板同心接觸連接;
c.所述嵌入式控制模塊控制所述通道選擇開關將m個正極探針逐一與所述供電與電流檢測模塊輪流連通,輪流形成電流測試回路,所述嵌入式控制模塊控制所述供電與電流檢測模塊產生供電電壓并逐一檢測每個電流測試回路的電流值,所述嵌入式控制模塊根據所測得的電流值判斷每個正極探針與目標微型麥克風的線路板接觸連接的情況:如果電流值為供電電壓/(麥克風產品內阻+電流測試回路中的外置電阻),則該正極探針與線路板上的正極焊盤接觸連接;如果電流值為供電電壓/電流測試回路中的外置電阻,則該正極探針與線路板上的負極焊盤接觸連接;如果電流值為零,則該正極探針與線路板上的絕緣位置接觸連接;
所述嵌入式控制模塊根據上述分析,確定與正極焊盤接觸連接的正極探針接觸情況,所述正極探針接觸情況包括:無正極探針與正極焊盤接觸連接的一種情況、一個正極探針與正極焊盤接觸連接的m種情況、相鄰的n(n=2,3,……,m-1)個正極探針與正極焊盤接觸連接的(m-2)*m種情況、m個正極探針與正極焊盤接觸連接的一種情況;
d.如果所述嵌入式控制模塊根據分析確定無正極探針與正極焊盤接觸連接,則判斷該目標微型麥克風為不合格產品,該目標微型麥克風的測試結束,重復步驟a之后的步驟進行下一個目標微型麥克風的測試;
e.如果所述嵌入式控制模塊根據分析確定有正極探針與正極焊盤接觸連接,且確定出具體是哪一種正極探針接觸情況,則所述嵌入式控制模塊控制所述通道選擇開關將與正極焊盤接觸連接的其中一個正極探針電連接到供電與電流檢測模塊,并控制所述通道選擇開關使該正極探針電連接到所述電容檢測模塊形成電容測試回路,所述嵌入式控制模塊控制所述電容檢測模塊檢測所述電容測試回路的電容值;
f.所述嵌入式控制模塊將測得的電容值與對應的正極探針接觸情況下的電容合格范圍值進行比較,如果測得的電容值在電容合格范圍值之內,則判斷該目標微型麥克風為合格產品;如果測得的電容值在電容合格范圍值之外,則判斷該目標微型麥克風為不合格產品,該目標微型麥克風的測試結束,重復步驟a之后的步驟進行下一個目標微型麥克風的測試。
2.如權利要求1所述的微型麥克風電容測試方法,其特征在于,步驟f之前,通過下述自動學習步驟獲得每種正極探針接觸情況下的電容合格范圍值:重復b、c、d、e步驟,所述嵌入式控制模塊將對若干個目標微型麥克風測得的電容值按照正極探針接觸情況分別進行統計,每種正極探針接觸情況下統計k(k≥20)個電容值,根據所述k個電容值確定一個電容標準值,然后根據該電容標準值確定一個電容合格范圍值;
在確定出某種正極探針接觸情況下的電容合格范圍值之前,所述嵌入式控制模塊判斷該種正極探針接觸情況下的目標微型麥克風為無法判斷階段,該目標微型麥克風的測試結束,重復步驟a之后的步驟進行下一個目標微型麥克風的測試。
3.如權利要求2所述的微型麥克風電容測試方法,其特征在于,所述自動學習步驟中,是將每種正極探針接觸情況下統計的k個電容值取平均值作為電容標準值。
4.如權利要求2所述的微型麥克風電容測試方法,其特征在于,所述自動學習步驟中,是將每種正極探針接觸情況下統計的k個電容值去除最大和最小的k1個值后取平均值作為電容標準值。
5.如權利要求2所述的微型麥克風電容測試方法,其特征在于,所述自動學習步驟中,是將每種正極探針接觸情況下統計的k個電容值的中間值直接作為電容標準值。
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