[發明專利]影像測量設備及采用該設備進行影像處理的方法

有效

• 申請號: 201410133035.2
• 申請日: 2014-04-03
• 公開（公告）號: CN103925874A
• 公開（公告）日: 2014-07-16
• 發明（設計）人: 洪金龍;仇增華
• 申請（專利權）人: 東莞市天勤儀器有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 趙蕊紅

技術領域

本發明涉及測量設備技術領域，特別是涉及一種影像測量設備及采用該設備進行影像處理的方法。?

背景技術

近年來，隨著工業技術的發展，人們對產品的生產要求越來越高，對產品的尺寸、表面平整度等均提出了更高的要求。影像測量設備由于能夠對樣品進行直接檢測，因此，在工業生產及檢測中得到了廣泛應用。

現有技術中，影像測量設備通常設置有一架體、一工作臺以及設置于工作臺上方的光學成像系統，通過移動工作臺將測試樣品移動至光學成像系統下方進行相應部位的檢測。現有技術中，對平面度信息檢測及樣品表面情況檢測，都是需要通過單獨的設備進行，不能通過一種設備同時獲得檢測樣品的多個信息。

????因此，針對現有技術不足，提供一種影像測量設備及通過該影像測量設備進行影像處理的方法以克服現有技術不足甚為必要。

發明內容

本發明的目的在于避免現有技術的不足之處而提供一種影像測量設備及通過該影像測量設備進行影像處理的方法，能夠一次性獲得檢測樣品的多個參數信息。?

本發明的上述目的通過如下技術手段實現。???

提供一種影像測量設備，設置有底座、縱向安裝座、驅動裝置、工作臺、中央控制系統以及光學成像系統；

所述工作臺裝配于所述底座，所述光學成像系統裝配于所述縱向安裝座，所述光學成像系統設置于所述工作臺上方，所述驅動裝置驅動所述底座和所述縱向安裝座中的至少一個以調整所述光學成像系統與所述工作臺表面的檢測樣品之間的相對位置；

所述中央控制系統設置有影像處理單元和控制單元，所述影像處理單元與所述光學成像系統連接，所述光學成像系統對工作臺上的工件進行測量成像，并將影像數據傳輸至所述影像處理單元，經所述影像處理單元處理后獲得工件的檢測參數，所述控制單元與所述驅動裝置連接；

所述光學成像系統設置有影像設備和激光發射器，所述影像設備的影像鏡頭和和所述激光發射器的激光頭分別固定裝配于所述縱向安裝座。

上述影像鏡頭與所述激光頭設置為同步升降結構。

上述激光發射器發射的激光與所述影像鏡頭的軸線平行。?

上述影像測量設備還設置有導航設備，所述導航設備的導航鏡頭裝配于所述縱向安裝座,?所述導航鏡頭的軸線與所述影像鏡頭的軸線相交，且所述導航鏡頭的軸線與所述影像鏡頭的軸線之間的夾角為銳角。

上述導航鏡頭的軸線與所述影像鏡頭的軸線之間的夾角范圍為20°至60°。

上述導航鏡頭的軸線與所述影像鏡頭的軸線之間的夾角范圍為30°至45°。

本發明同時提供采用上述影像測量設備進行影像處理的方法，包括如下步驟：

（1）分別通過影像設備和激光發射器獲得檢測樣品的影像信息；

（2）將影像設備得到的影像信息與激光發射器得到的激光信息進行共坐標處理，得到同一坐標系下的影像信息和激光信息。

優選的，上述步驟（2）中的共坐標處理具體是根據影像設備的影像坐標系與激光發射器的激光坐標系之間的關系進行影像信息與激光信息共坐標處理；

影像設備的影像坐標系與激光發射器的激光坐標系之間的關系具體通過如下步驟得到：

a.選擇測試樣品或者標準塊上的一點作為校正測試點，通過激光發射器發射激光到校正測試點，記錄在激光坐標系中所得到的校正測試點對應的坐標為（Jx₁、Jy₁）；

b.將校正測試點移至影像鏡頭下方進行測量，記錄在影像坐標系中所得到的校正測試點對應的坐標為（Yx₁、Yy₁）；

c.根據坐標（Jx₁、Jy₁）與坐標為（Yx₁、Yy₁）獲得影像坐標系中任意一點與激光坐標系中任意一點之間的對應關系。