[發(fā)明專利]影像測量設(shè)備及采用該設(shè)備進行影像處理的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410133035.2
• 申請日: 2014-04-03
• 公開（公告）號: CN103925874A
• 公開（公告）日: 2014-07-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 洪金龍;仇增華
• 申請（專利權(quán)）人: 東莞市天勤儀器有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 北京科億知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11350
• 代理人: 趙蕊紅

1.一種影像測量設(shè)備，其特征在于：設(shè)置有底座、縱向安裝座、驅(qū)動裝置、工作臺、中央控制系統(tǒng)以及光學(xué)成像系統(tǒng)；

所述工作臺裝配于所述底座，所述光學(xué)成像系統(tǒng)裝配于所述縱向安裝座，所述光學(xué)成像系統(tǒng)設(shè)置于所述工作臺上方，所述驅(qū)動裝置驅(qū)動所述底座和所述縱向安裝座中的至少一個以調(diào)整所述光學(xué)成像系統(tǒng)與所述工作臺表面的檢測樣品之間的相對位置；

所述中央控制系統(tǒng)設(shè)置有影像處理單元和控制單元，所述影像處理單元與所述光學(xué)成像系統(tǒng)連接，所述光學(xué)成像系統(tǒng)對工作臺上的工件進行測量成像，并將影像數(shù)據(jù)傳輸至所述影像處理單元，經(jīng)所述影像處理單元處理后獲得工件的檢測參數(shù)，所述控制單元與所述驅(qū)動裝置連接；

所述光學(xué)成像系統(tǒng)設(shè)置有影像設(shè)備和激光發(fā)射器，所述影像設(shè)備的影像鏡頭和和所述激光發(fā)射器的激光頭分別固定裝配于所述縱向安裝座。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的影像測量設(shè)備，其特征在于：所述影像鏡頭與所述激光頭設(shè)置為同步升降結(jié)構(gòu)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的影像測量設(shè)備，其特征在于：所述激光發(fā)射器發(fā)射的激光與所述影像鏡頭的軸線平行。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的影像測量設(shè)備，其特征在于：還設(shè)置有導(dǎo)航設(shè)備，所述導(dǎo)航設(shè)備的導(dǎo)航鏡頭裝配于所述縱向安裝座,?所述導(dǎo)航鏡頭的軸線與所述影像鏡頭的軸線相交，且所述導(dǎo)航鏡頭的軸線與所述影像鏡頭的軸線之間的夾角為銳角。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的影像測量設(shè)備，其特征在于：所述導(dǎo)航鏡頭的軸線與所述影像鏡頭的軸線之間的夾角范圍為20°至60°。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的影像測量設(shè)備，其特征在于：所述導(dǎo)航鏡頭的軸線與所述影像鏡頭的軸線之間的夾角范圍為30°至45°。

7.采用權(quán)利要求1至6任意一項所述的影像測量設(shè)備進行影像處理的方法，其特征在于：包括如下步驟：

（1）分別通過影像設(shè)備和激光發(fā)射器獲得檢測樣品的影像信息；

（2）將影像設(shè)備得到的影像信息與激光發(fā)射器得到的激光信息進行共坐標(biāo)處理，得到同一坐標(biāo)系下的影像信息和激光信息。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的影像處理的方法，其特征在于：

所述步驟（2）中的共坐標(biāo)處理具體是根據(jù)影像設(shè)備的影像坐標(biāo)系與激光發(fā)射器的激光坐標(biāo)系之間的關(guān)系進行影像信息與激光信息共坐標(biāo)處理；

影像設(shè)備的影像坐標(biāo)系與激光發(fā)射器的激光坐標(biāo)系之間的關(guān)系具體通過如下步驟得到：

a.選擇測試樣品或者標(biāo)準(zhǔn)塊上的一點作為校正測試點，通過激光發(fā)射器發(fā)射激光到校正測試點，記錄在激光坐標(biāo)系中所得到的校正測試點對應(yīng)的坐標(biāo)為（Jx₁、Jy₁）；

b.將校正測試點移至影像鏡頭下方進行測量，記錄在影像坐標(biāo)系中所得到的校正測試點對應(yīng)的坐標(biāo)為（Yx₁、Yy₁）；

c.根據(jù)坐標(biāo)（Jx₁、Jy₁）與坐標(biāo)為（Yx₁、Yy₁）獲得影像坐標(biāo)系中任意一點與激光坐標(biāo)系中任意一點之間的對應(yīng)關(guān)系。