[發明專利]一種標準單元漏電流的測試電路及測試方法在審
| 申請號： | 201410108433.9 | 申請日： | 2014-03-21 |
| 公開（公告）號： | CN104931759A | 公開（公告）日： | 2015-09-23 |
| 發明（設計）人： | 魚江華;陳志強;古力;張鳳娟;郭響妮 | 申請（專利權）人： | 中芯國際集成電路制造（上海）有限公司 |
| 主分類號： | G01R19/00 | 分類號： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海光華專利事務所 31219 | 代理人： | 李儀萍 |
| 地址： | 201203 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 標準 單元 漏電 測試 電路 方法 | ||
1.一種標準單元漏電流的測試電路，其特征在于，所述測試電路包括多個串接的基礎單元結構，各基礎單元結構包括驅動電路及目標單元電路，其中：
所述目標單元電路組合有多個待測試的標準單元；
所述驅動電路由多個驅動單元組成，用于掛載所述目標單元電路中的各該標準單元，以使各標準單元的在穩定狀態下的輸入保持一致，其中，所述驅動電路的漏電流不大于所述目標單元電路的漏電流，通過測試獲取所述測試電路的總漏電流值，進而得到單個所述標準單元的漏電流值。
2.根據權利要求1所述的標準單元漏電流的測試電路，其特征在于：所述驅動單元為高閾值電壓緩沖器。
3.根據權利要求1所述的標準單元漏電流的測試電路，其特征在于：所述標準單元的輸入端與驅動電路的輸入端相連，輸出端懸空。
4.根據權利要求1所述的標準單元漏電流的測試電路，其特征在于：所述目標單元電路中待測試的標準單元的數量設定為1～10個。
5.根據權利要求1所述的標準單元漏電流的測試電路，其特征在于：所述標準單元漏電流的測試電路中的標準單元的總數至少設定為10000個。
6.根據權利要求1所述的標準單元漏電流的測試電路，其特征在于：所述標準單元為兩輸入與非門。
7.根據權利要求6所述的標準單元漏電流的測試電路，其特征在于：所述兩輸入與非門為高閾值電壓與非門，低閾值電壓與非門或標準閾值電壓與非門中的一種。
8.一種標準單元漏電流的測試方法，其特征在于：包括以下步驟：
步驟一：以第一數量n個基礎單元結構串聯連接組成第一測試電路，所述基礎單元結構由第二數量X1個驅動單元和第三數量Y1個標準單元組成，測試所述第一測試電路的總漏電流值Iall1，所述總漏電流Iall1包括n×X1個驅動單元和n×Y1個標準單元的漏電流總和；
步驟二：將基礎單元結構中的標準單元替換為驅動單元，構成第二測試電路，所述基礎單元結構由第四數量X2個驅動單元組成，測試所述第二測試電路的總漏電流值Iall2，所述總漏電流Iall2包括n×X2個驅動單元的漏電流總和；
步驟三：計算出單個驅動單元的漏電流值Ioff1＝Iall2/(n×X2)；
步驟四：計算出單個標準單元的漏電流值Ioff2＝[Iall1－(X1/X2)×Iall2]/(n×Y1)。
9.根據權利要求8所述的標準單元漏電流的測試方法，其特征在于：步驟一和步驟二中采用Verilog代碼來測試所述第一測試電路和第二測試電路的漏電流。
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