[發明專利]一種測試電路及顯示面板

在審

• 申請號: 201410104128.2
• 申請日: 2014-03-19
• 公開（公告）號: CN103871341A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 杜鵬
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳匯智容達專利商標事務所(普通合伙) 44238
• 代理人: 潘中毅;熊賢卿

1.一種測試電路，用于顯示面板中，其特征在于，所述電路包括測試線路第一端子、測試線路第二端子、測試信號線、電壓信號線、開關晶體管以及第一靜電放電保護電路；其中，

所述測試線路第一端子，用于輸出顯示面板測試信號，所述測試線路第二端子用于輸出用于打開或關閉所述開關晶體管的電壓信號；

所述測試信號線，用于傳輸所述顯示面板測試信號，一端與所述測試線路第一端子相連，另一端與所述開關晶體管和公共電極相連；

所述電壓信號線，用于傳輸所述電壓信號，一端與所述測試線路第二端子相連，另一端與所述開關晶體管相連；

所述開關晶體管，與所述顯示面板的信號線相連，用于通過所述電壓信號線接收所述測試線路第二端子輸出的電壓信號，并根據所述接收到的電壓信號打開以使通過所述測試信號線接收的測試信號與所述顯示面板的信號線導通，或者關閉以使所述測試信號與所述顯示面板的信號線斷開；

所述第一靜電放電保護電路，分別連接在所述測試信號線和所述顯示面板的信號線上。

2.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述測試線路第二端子輸出的電壓信號包括高電壓信號和低電壓信號。

3.如權利要求2所述的測試電路，其特征在于，當所述開關晶體管接收到的電壓信號為高電壓信號時，所述開關晶體管獲得大于第一預設值的電壓而打開，使從所述測試信號線傳輸來的測試信號與所述顯示面板的信號線導通；當所述開關晶體管接收到的電壓信號為低電壓信號時，所述開關晶體管獲得小于第二預設值的電壓并關閉，使所述測試信號與所述顯示面板的信號線斷開。

4.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述顯示面板的信號線為數據線或掃描線。

5.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述第一靜電放電保護電路包括第一晶體管和第二晶體管；其中，所述第一晶體管的柵極和漏極均連接所述測試信號線，源極連接所述顯示面板的信號線；所述第二晶體管柵極和漏極均連接所述顯示面板的信號線，源極連接所述測試信號線；所述第一晶體管和所述第二晶體管形成一個連通的回路。

6.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述第一靜電放電保護電路還包括第一二極管和第二二極管；其中，所述第一二極管的正極與所述測試信號線相連，負極與所述顯示面板的信號線相連；所述第二二極管的正極與所述顯示面板的信號線相連，所述第二二極管的負極與所述測試信號線相連；所述第一二極管和所述第二二極管形成一個連通的回路。

7.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述測試電路還包括第二靜電放電保護電路，所述第二靜電放電保護電路設置在所述測試信號線上，其一端與公共電極相連，另一端與所述開關晶體管以及所述測試線路第一端子相連。

8.如權利要求7所述的測試電路，其特征在于，所述第二靜電放電保護電路包括第三晶體管和第四晶體管；其中，所述第三晶體管的柵極和漏極均連接所述測試信號線，所述第三晶體管的源極連接所述第四晶體管柵極和漏極，第四晶體管的源極還連接所述公共電極；所述第三晶體管和所述第四晶體管形成一個連通的回路。

9.一種測試電路，用于顯示面板中，其特征在于，所述電路包括測試線路第一端子、測試線路第二端子、測試信號線、電壓信號線、開關晶體管以及驅動芯片處理單元；其中，

所述測試線路第一端子，用于輸出顯示面板測試信號，所述測試線路第二端子用于輸出用于打開或關閉所述開關晶體管的電壓信號；

所述測試信號線，用于傳輸所述顯示面板測試信號，一端與所述測試線路第一端子相連，另一端分別與所述開關晶體管和所述驅動芯片處理單元相連；

所述電壓信號線，用于傳輸所述電壓信號，一端與所述測試線路第二端子相連，另一端與所述開關晶體管相連；

所述開關晶體管，與所述顯示面板的信號線相連，用于通過所述電壓信號線接收所述測試線路第二端子輸出的電壓信號，并根據所述接收到的電壓信號打開以使通過所述測試信號線接收的測試信號與所述顯示面板的信號線導通，或者關閉以使所述測試信號與所述顯示面板的信號線斷開；

所述驅動芯片處理單元，包括至少一個驅動芯片，用于輸出所述顯示面板所需的相關信號。