[發明專利]一種測試電路及顯示面板

在審

• 申請號: 201410104128.2
• 申請日: 2014-03-19
• 公開（公告）號: CN103871341A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 杜鵬
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳匯智容達專利商標事務所(普通合伙) 44238
• 代理人: 潘中毅;熊賢卿

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種測試電路及顯示面板。

背景技術

TFT-LCD（Thin?Film?Transistor-Liquid?Crystal?Display，薄膜場效應晶體管液晶顯示器）面板傳統的測試線路是和顯示面板里面的信號線（如掃描線?/數據線）直接連接，完成測試后需要進行激光切割制程，切斷它們的連接，顯示面板才能正常點亮，傳統的測試方法使得廠家生產成本較高。

為了降低生產成本，現有技術中通常使用TFT開關晶體管作為開關，連接測試線路和顯示面板內部的信號線，測試時在TFT開關晶體管的柵極（Gate）端加高電壓，開關晶體管TFT導通測試信號和顯示面板內部的信號線，待測試完畢后，在開關晶體管TFT的Gate端加低電壓，關閉測試信號，斷開測試線路與顯示面板內部的信號線之間的連接，顯示面板可以正常的驅動工作。

通過TFT開關晶體管控制測試信號的導通和關閉，雖然可以省去激光切割的制程，達到節省成本的目的，并且測試線路遠離切割線和磨邊區，能夠提高制程的良率，但是測試線路往往位于顯示面板的外圍區域，待測試完成之后，留在顯示面板外圍區域的測試線路會占用一部分空間。因此對窄邊框的顯示面板采用上述設計是非常不利的。

發明內容

本發明實施例所要解決的技術問題在于提供一種占用空間小的測試電路及顯示面板，有利于窄邊框顯示面板的設計。

為了解決上述技術問題，本發明實施例提供了一種測試電路，用于顯示面板中，所述電路包括測試線路第一端子、測試線路第二端子、測試信號線、電壓信號線、開關晶體管以及第一靜電放電保護電路；其中，

所述測試線路第一端子，用于輸出顯示面板測試信號，所述測試線路第二端子用于輸出用于打開或關閉所述開關晶體管的電壓信號；

所述測試信號線，用于傳輸所述顯示面板測試信號，一端與所述測試線路第一端子相連，另一端分別與所述開關晶體管和公共電極相連；

所述電壓信號線，用于傳輸所述電壓信號，一端與所述測試線路第二端子相連，另一端與所述開關晶體管相連；

所述開關晶體管，與所述顯示面板的信號線相連，用于通過所述電壓信號線接收所述測試線路第二端子輸出的電壓信號，并根據所述接收到的電壓信號打開以使通過所述測試信號線接收的測試信號與所述顯示面板的信號線導通，或者關閉以使所述測試信號與所述顯示面板的信號線斷開；

所述第一靜電放電保護電路，分別連接在所述測試信號線和所述顯示面板的信號線上。

其中，所述測試線路第二端子輸出的電壓信號包括高電壓信號和低電壓信號。

其中，當所述開關晶體管接收到的電壓信號為高電壓信號時，所述開關晶體管獲得大于第一預設值的電壓而打開，使從所述測試信號線傳輸來的測試信號與所述顯示面板的信號線導通；當所述開關晶體管接收到的電壓信號為低電壓信號時，所述開關晶體管獲得小于第二預設值的電壓并關閉，使所述測試信號與所述顯示面板的信號線斷開。

其中，所述顯示面板的信號線為數據線或掃描線。

其中，所述第一靜電放電保護電路包括第一晶體管和第二晶體管；其中，所述第一晶體管的柵極和漏極均連接所述測試信號線，源極連接所述顯示面板的信號線；所述第二晶體管柵極和漏極均連接所述顯示面板的信號線，源極連接所述測試信號線；所述第一晶體管和所述第二晶體管形成一個連通的回路。

其中，所述第一靜電放電保護電路還包括第一二極管和第二二極管；其中，所述第一二極管的正極與所述測試信號線相連，負極與所述顯示面板的信號線相連；所述第二二極管的正極與所述顯示面板的信號線相連，所述第二二極管的負極與所述測試信號線相連；所述第一二極管和所述第二二極管形成一個連通的回路。

其中，所述測試電路還包括第二靜電放電保護電路，所述第二靜電放電保護電路設置在所述測試信號線上，其一端與公共電極相連，另一端與所述開關晶體管以及所述測試線路第一端子相連。

其中，所述第二靜電放電保護電路包括第三晶體管和第四晶體管；其中，所述第三晶體管的柵極和漏極均連接所述測試信號線，所述第三晶體管的源極連接所述第四晶體管柵極和漏極，第四晶體管的源極還連接所述公共電極；所述第三晶體管和所述第四晶體管形成一個連通的回路。

本發明實施例還提供了一種測試電路，用于顯示面板中，所述電路包括測試線路第一端子、測試線路第二端子、測試信號線、電壓信號線、開關晶體管以及驅動芯片處理單元；其中，