[發(fā)明專利]比特失效檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410098678.8
• 申請(qǐng)日: 2014-03-17
• 公開（公告）號(hào): CN103839589B
• 公開（公告）日: 2017-01-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 錢亮;孔蔚然;賈敏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/08
• 分類號(hào): G11C29/08
• 代理公司: 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)31237
• 代理人: 鄭瑋

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及存儲(chǔ)器檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種比特（bit）失效檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

閃存（Flash?Memory）是一種長(zhǎng)壽命的非易失性存儲(chǔ)器，在斷電情況下依然能夠保持存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)信息。閃存是電子可擦除只讀存儲(chǔ)器（EEPROM）的變種，與EEPROM不同的是，閃存能夠在字節(jié)水平上進(jìn)行刪除和重寫，而不是整個(gè)芯片的擦寫，從而使得閃存比EEPROM的更新速度更快。

在目前的閃存中，通常有著較大的容量，也就是具有相應(yīng)數(shù)量的比特，在如此大量的比特中，其質(zhì)量的優(yōu)劣符合正態(tài)分布，因此，如何保證位于3σ之外的比特（tail?bit，尾比特）的優(yōu)劣，將直接制約著閃存的性能。

現(xiàn)有技術(shù)中常用方法為引入一邊界系數(shù)margin1（M1），用于在讀取“1”時(shí)檢測(cè)電流的大小，所述M1的取值小于1，包括:40%，45%，50%，55%，60%，65%，70%及75%。通常狀況，認(rèn)為電流小于飽和電流是有風(fēng)險(xiǎn)的，大于飽和電流是足夠安全的。因此測(cè)試篩選的目標(biāo)定為將電流小的尾比特篩選出來。

但是，這種方法并不能夠完全有效，例如若一個(gè)比特是弱擦除比特（weak?erase?tail?bit），并且具有寫入干擾現(xiàn)象（program?punch?through），這個(gè)比特的起始電流將比較大，即使經(jīng)過寫入干擾模式的測(cè)試后，電流還是很大，則這個(gè)比特是不能夠被篩選出來。如圖1所示，按照現(xiàn)有方法1對(duì)比特A進(jìn)行檢測(cè)，其起始電流是37μA，干擾模式的測(cè)試后后獲得的檢測(cè)電流是25μA，而按照判斷標(biāo)準(zhǔn)，大于18μA（飽和電流）即為合格，因此會(huì)認(rèn)為該比特A是正常的。但是若從客戶端2進(jìn)行耐久性測(cè)試（endurance?cycle），由于經(jīng)過耐久性測(cè)試，該比特的起始電流降為22μA，正常寫入干擾模式就可以將該比特的電流降到10μA，從而出現(xiàn)失效，也就是說實(shí)際上該比特是異常的，應(yīng)當(dāng)在測(cè)試階段被篩選出。因此，如何克服這一現(xiàn)象，將有效的提升產(chǎn)品的性能。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于，提供一種比特失效檢測(cè)方法，以提高對(duì)異常比特的檢測(cè)效果，從而提高產(chǎn)品性能。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種比特失效檢測(cè)方法，所述比特為弱擦除比特，且具有寫入干擾現(xiàn)象，包括：

提供一參考電流及一邊界系數(shù)，將待測(cè)比特的電流跟參考電流與邊界系數(shù)的乘積作比較，若所述待測(cè)比特的電流大于參考電流與邊界系數(shù)的乘積，則所述比特判定為失效；其中，所述邊界系數(shù)大于等于1。

可選的，對(duì)于所述的比特失效檢測(cè)方法，所述邊界系數(shù)為100%～120%。

可選的，對(duì)于所述的比特失效檢測(cè)方法，所述參考電流通過結(jié)合閃存中處于正態(tài)分布區(qū)間為（-3σ，3σ）的比特的電流而得。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的比特失效檢測(cè)方法中，使得所述邊界系數(shù)大于等于1，從而結(jié)合參考電流，作為了比較的標(biāo)準(zhǔn)，若所述待測(cè)比特的電流大于參考電流與邊界系數(shù)的乘積，則所述比特判定為失效。與現(xiàn)有技術(shù)相比，改變了邊界系數(shù)的取值方向和比較內(nèi)容，克服了現(xiàn)有技術(shù)在檢測(cè)上的缺陷，在針對(duì)一些具有特殊性的比特時(shí)，能夠有效的篩選出，從而提高了檢測(cè)效果。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中比特失效檢測(cè)方法的流程圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例中比特失效檢測(cè)方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合示意圖對(duì)本發(fā)明的比特失效檢測(cè)方法進(jìn)行更詳細(xì)的描述，其中表示了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，應(yīng)該理解本領(lǐng)域技術(shù)人員可以修改在此描述的本發(fā)明，而仍然實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的有利效果。因此，下列描述應(yīng)當(dāng)被理解為對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員的廣泛知道，而并不作為對(duì)本發(fā)明的限制。

為了清楚，不描述實(shí)際實(shí)施例的全部特征。在下列描述中，不詳細(xì)描述公知的功能和結(jié)構(gòu)，因?yàn)樗鼈儠?huì)使本發(fā)明由于不必要的細(xì)節(jié)而混亂。應(yīng)當(dāng)認(rèn)為在任何實(shí)際實(shí)施例的開發(fā)中，必須做出大量實(shí)施細(xì)節(jié)以實(shí)現(xiàn)開發(fā)者的特定目標(biāo)，例如按照有關(guān)系統(tǒng)或有關(guān)商業(yè)的限制，由一個(gè)實(shí)施例改變?yōu)榱硪粋€(gè)實(shí)施例。另外，應(yīng)當(dāng)認(rèn)為這種開發(fā)工作可能是復(fù)雜和耗費(fèi)時(shí)間的，但是對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說僅僅是常規(guī)工作。

在下列段落中參照附圖以舉例方式更具體地描述本發(fā)明。根據(jù)下面說明和權(quán)利要求書，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征將更清楚。需說明的是，附圖均采用非常簡(jiǎn)化的形式且均使用非精準(zhǔn)的比例，僅用以方便、明晰地輔助說明本發(fā)明實(shí)施例的目的。