[發明專利]比特失效檢測方法有效
| 申請號： | 201410098678.8 | 申請日： | 2014-03-17 |
| 公開（公告）號： | CN103839589B | 公開（公告）日： | 2017-01-18 |
| 發明（設計）人： | 錢亮;孔蔚然;賈敏 | 申請（專利權）人： | 上海華虹宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/08 | 分類號： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙)31237 | 代理人： | 鄭瑋 |
| 地址： | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 比特 失效 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種比特失效檢測方法，所述比特為弱擦除比特，且具有寫入干擾現象，其特征在于，包括：
提供一參考電流及一邊界系數，將待測比特的電流跟參考電流與邊界系數的乘積作比較，若所述待測比特的電流大于參考電流與邊界系數的乘積，則所述比特判定為失效；其中，所述邊界系數大于等于1。
2.如權利要求1所述的比特失效檢測方法，其特征在于，所述邊界系數為100%～120%。
3.如權利要求1所述的比特失效檢測方法，其特征在于，所述參考電流通過結合閃存中處于正態分布區間為（-3σ，3σ）的比特的電流而得。
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