[發明專利]產品測試電路在審
| 申請號： | 201410098499.4 | 申請日： | 2014-03-17 |
| 公開（公告）號： | CN103837823A | 公開（公告）日： | 2014-06-04 |
| 發明（設計）人： | 程軍軍 | 申請（專利權）人： | 上海華虹宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 鄭瑋 |
| 地址： | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 產品 測試 電路 | ||
【權利要求書】：
1.一種產品測試電路，用于對半導體芯片進行性能測試，所述電路包括：
脈沖電路，用于提供脈沖信號；
測試電路，根據所述脈沖信號對所述半導體芯片進行性能測試；
換相單元，用于對所述測試電路的電流進行換相處理。
2.如權利要求1所述的產品測試電路，其特征在于，所述脈沖電路包括脈沖發生器和MOS管，所述脈沖發生器一端與所述MOS管的柵極相連，所述MOS管的漏極接地，所述MOS管的源極連接一測試端SR1。
3.如權利要求2所述的產品測試電路，其特征在于，所述測試電路包括一電源和電容，所述電源和電容并聯，且所述電源和電容的負極均接地，所述電源和電容的正極連接另一測試端SR2。
4.如權利要求3所述的產品測試電路，其特征在于，所述換相單元設于所述測試電路中，連接在所述電源和MOS管或電容和MOS管之間。
5.如權利要求4所述的產品測試電路，其特征在于，所述換相單元為單刀雙擲MOS開關。
6.如權利要求3所述的產品測試電路，其特征在于，所述半導體芯片連接于所述測試端SR1和測試端SR2之間。
7.如權利要求1所述的產品測試電路，其特征在于，所述產品測試電路用于對半導體芯片的電流進行檢測。
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