[發明專利]用于識別電子電路中的缺陷的裝置及方法

在審

• 申請號: 201410095444.8
• 申請日: 2014-03-14
• 公開（公告）號: CN104050907A
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: V·米那耶夫;R·A·馬丁;T·E·威沙德;M·S·卡薩迪;李鐘浩;T·H·貝利;S·克里希納斯瓦米
• 申請（專利權）人: 烽騰科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01R31/28
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 駱希聰

1.一種用于識別電子電路中的缺陷的裝置，所述裝置包括：

a.電路驅動模塊，用以對所述電子電路施加電性測試信號；

b.缺陷探測模塊，用以至少根據所施加的所述電性測試信號來識別所述電子電路中的所述缺陷；

c.信號監測模塊，用以在所述電子電路處測量所述電性測試信號；以及

d.控制模塊，可操作地耦合至所述信號監測模塊及所述電路驅動模塊，并用以根據在所述電子電路處測量的所述電性測試信號來控制至少所述電路驅動模塊。

2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電性測試信號通過力線被施加至所述電子電路，且其中所述信號監測模塊在所述力線處測量所述電性測試信號。

3.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述信號監測模塊在電性連接至所述電子電路的返回線處測量所述電性測試信號。

4.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述信號監測模塊測量所述電性測試信號的電壓。

5.如權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊根據由所述信號監測模塊測量的所述電性測試信號的所述電壓來控制所述電路驅動模塊的輸出電壓。

6.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述信號監測模塊測量所述電性測試信號的電流。

7.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊根據由所述信號監測模塊測量的所述電性測試信號的電流來控制所述電路驅動模塊的輸出電流。

8.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊還根據所述缺陷探測模塊的輸出來控制所述電路驅動模塊。

9.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊在預定參數范圍內控制所述電路驅動模塊的至少一個參數。

10.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊控制所述電路驅動模塊的至少一個參數，以補償由所述電路驅動模塊對所述電子電路施加的所述電性測試信號的漂移。

11.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊控制所述電路驅動模塊的至少一個參數，以補償所述電子電路的至少一種狀態的變化。

12.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊根據在所述電子電路處測量的所述電性測試信號，還控制所述缺陷探測模塊。

13.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述信號監測模塊用以在所述電子電路處連續地測量所述電性測試信號。

14.一種用于識別電子電路中的缺陷的裝置，所述裝置包括：

a.電路驅動模塊，用以對所述電子電路施加電性測試信號；

b.缺陷探測模塊，用以至少根據所施加的所述電性測試信號來識別所述電子電路中的所述缺陷；

c.信號監測模塊，用以在所述電子電路處測量所述電性測試信號；以及

d.信號分析模塊，可操作地耦合至所述信號監測模塊，并用以分析所測量的所述電性測試信號并且判斷是否已發生對所述電子電路的損壞。

15.如權利要求14所述的裝置，其特征在于，所述電性測試信號通過力線施加至所述電子電路，且其中所述信號監測模塊在所述力線處測量所述電性測試信號。

16.如權利要求14所述的裝置，其特征在于，所述信號監測模塊在電性連接至所述電子電路的返回線處測量所述電性測試信號。

17.如權利要求14所述的裝置，其特征在于，所述信號監測模塊測量所述電性測試信號的電壓。

18.如權利要求14所述的裝置，其特征在于，所述信號監測模塊測量所述電性測試信號的電流。

19.一種用于識別電子電路中的缺陷的方法，所述方法包括：

a.對所述電子電路施加電性測試信號；

b.至少根據所施加的所述電性測試信號來識別所述電子電路中的所述缺陷；

c.在所述電子電路處測量所述電性測試信號；以及

d.根據在所述電子電路處測量的所述電性測試信號，控制被施加至所述電子電路的所述電性測試信號。