[發明專利]一種激光跟蹤儀橫軸與豎軸垂直度檢測方法

有效

• 申請號: 201410086897.4
• 申請日: 2014-03-07
• 公開（公告）號: CN103884279B
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發明（設計）人: 周維虎;張滋黎;勞達寶;袁江;紀榮祎;董登峰;劉鑫;朱涵;李萬紅
• 申請（專利權）人: 中國科學院光電研究院
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/26
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 任巖

1.一種激光跟蹤儀橫軸與豎軸垂直度檢測方法，使用 檢測裝置，所述檢測裝置主要由五部分組成：激光跟蹤儀(1)，坐標網格(2)，全站儀(3)，多面棱體(4)和自準直儀(5)；多面棱體(4)與自準直儀(5)用于監測俯仰角變化過程中激光跟蹤儀(1)的激光跟蹤頭(6)水平方位是否有變動；全站儀(3)用于監測光點在視場中的位置變化，測量光點在坐標網格(2)中的位置數據；該激光跟蹤儀橫軸與豎軸垂直度檢測方法的檢測步驟如下：

(1)利用鉛垂釣絲建立豎直基準，調節全站儀(3)豎軸鉛垂，利用全站儀(3)檢測激光跟蹤儀光點變化；

(2)將合像水準儀固定于激光跟蹤頭(6)上，旋轉并調節激光跟蹤頭(6)，使其在全周各個方位上，即在水平方向旋轉360°，合像水準儀讀數相同，從而保證激光跟蹤儀(1)豎軸鉛垂；

(3)將多面棱體(4)固定于激光跟蹤頭(6)上，利用自準直儀(5)監測多面棱體(4)的位置，以保證激光跟蹤儀(1)水平角度不變，控制出射光線的俯仰角在-30°～30°之間等間隔變化，向激光跟蹤儀(1)前方固定距離處的坐標網格(2)投射激光點，利用全站儀(3)觀測每個位置處激光跟蹤儀(1)正倒鏡投射光點的位置并記錄，畫出正倒鏡的光點軌跡；

(4)激光跟蹤儀(1)橫豎軸夾角不同，正倒鏡光點的距離不同，利用計算機仿真得到不同夾角與光點距離的關系。