[發明專利]標本檢查裝置

無效

• 申請號: 201410085601.7
• 申請日: 2014-03-10
• 公開（公告）號: CN104048972A
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 中山人司
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李洋;舒艷君

技術領域

本發明涉及標本檢查裝置。

背景技術

近年來，作為具有100GHz～30THz頻率的電磁波的太赫茲波備受矚目。太赫茲波可以用于成像、光譜測量等各種測量、非破壞檢查等。

例如在專利文獻1中，將藥劑（標本）載置于作為用于輸送藥劑的輸送部的包裝用板上并輸送到藥劑檢查裝置，藥劑檢查裝置對包裝板上的藥劑照射太赫茲波，檢測透過藥劑的太赫茲波，檢查藥劑中是否含有異物。

專利文獻1：國際公開第2008/1785號

發明內容

然而，像專利文獻1中記載的標本檢查裝置那樣，在檢測透過標本的太赫茲波時，有時包裝用板會吸收太赫茲波，太赫茲波衰減。另外，即便使包裝用板為對太赫茲波透明的物質，有時也會在包裝用板內引起多重反射，降低檢測精度。

本發明的幾個方式的目的之一在于提供一種在對載置于輸送部上的標本照射太赫茲波并檢測透過標本的太赫茲波時，能夠減少輸送部對透過標本的太赫茲波造成的影響的標本檢查裝置。

本發明涉及的標本檢查裝置包括：

輸送部，其具有載置作為被檢查物的標本的輸送面，以能夠輸送上述標本的方式構成；

太赫茲波產生部，其位于上述輸送部的上述輸送面側，產生太赫茲波；和

太赫茲波檢測部，其位于上述輸送部的與上述輸送面相反的一側的面側，檢測從上述太赫茲波產生部射出并透過了載置于上述輸送面的上述標本的太赫茲波，

上述輸送部具有連通上述輸送面和與上述輸送面相反的一側的面的孔部，以能夠在上述孔部上載置上述標本的方式構成。

根據這種標本檢查裝置，由于輸送部具有連通輸送面和與輸送面相反的一側的面的孔部，并以能夠在孔部上載置標本的方式構成，所以從太赫茲波產生部射出并透過標本的太赫茲波通過孔部，被太赫茲波檢測部檢測。即，透過標本并通過孔部的太赫茲波能夠被太赫茲波檢測部檢測，而不被輸送部反射、不因輸送部引起衰減、多重反射。因此，根據這種標本檢查裝置，能夠在對載置于輸送部上的標本照射太赫茲波并檢測透過標本的太赫茲波時，減少輸送部對透過標本的太赫茲波造成的影響。

在本發明涉及的標本檢查裝置中，

上述輸送面可以具有載置上述標本的凹部，

上述孔部可以連通上述凹部和與上述輸送面相反的一側的面。

根據這種標本檢查裝置，能夠限制標本在輸送面上的移動，能夠將標本可靠地保持在孔部上。

在本發明涉及的標本檢查裝置中，

上述孔部的寬度可以比上述標本的寬度小。

根據這種標本檢查裝置，能夠將標本載置在孔部上，而使標本不從孔部落下。

在本發明涉及的標本檢查裝置中，

上述輸送部可以以在1個上述孔部上載置1個上述標本的方式構成。

根據這種標本檢查裝置，能夠容易地獲得孔部與載置于該孔部上的標本的對應。因此，能夠容易地確定載置于輸送面的標本。

在本發明涉及的標本檢查裝置中，

上述輸送部可以以在上述孔部上載置多個上述標本的方式構成。

根據這種標本檢查裝置，能夠在對載置于輸送部上的標本照射太赫茲波并檢測透過標本的太赫茲波時，減少輸送部對透過標本的太赫茲波造成的影響。

在本發明涉及的標本檢查裝置中，

上述太赫茲波產生部可以具有：

產生光脈沖的光脈沖產生部、和

被照射由上述光脈沖產生部產生的光脈沖的光傳導天線。

根據這種標本檢查裝置，能夠在對載置于輸送部上的標本照射太赫茲波并檢測透過標本的太赫茲波時，減少輸送部對透過標本的太赫茲波造成的影響。

在本發明涉及的標本檢查裝置中，

可以包括氣體噴射部，上述氣體噴射部通過上述孔部向載置于上述輸送面的上述標本噴射氣體，使上述標本從上述輸送面離開。

根據這種標本檢查裝置，能夠容易地選出含有異物的標本。

在本發明涉及的標本檢查裝置中，

上述孔部被設置在透過上述輸送部的上述標本的太赫茲波通過的區域，

上述太赫茲波檢測部檢測通過上述孔部的太赫茲波。

根據這種標本檢查裝置，能夠在對載置于輸送部上的標本照射太赫茲波并檢測透過標本的太赫茲波時，減少輸送部對透過標本的太赫茲波造成的影響。

附圖說明

圖1是示意地表示第1實施方式涉及的標本檢查裝置的結構的圖。

圖2是示意地表示第1實施方式涉及的標本檢查裝置的結構的一部分的圖。

圖3是從輸送面的法線方向觀察輸送部的示意圖。