[發明專利]標本檢查裝置

無效

• 申請號: 201410085601.7
• 申請日: 2014-03-10
• 公開（公告）號: CN104048972A
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 中山人司
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李洋;舒艷君

1.一種標本檢查裝置，其特征在于，包括：

輸送部，其具有載置作為被檢查物的標本的輸送面，以能夠輸送所述標本的方式構成；

太赫茲波產生部，其位于所述輸送部的所述輸送面側，產生太赫茲波；以及

太赫茲波檢測部，其位于所述輸送部的與所述輸送面相反的一側的面側，檢測從所述太赫茲波產生部射出并透過載置于所述輸送面的所述標本的太赫茲波，

所述輸送部具有連通所述輸送面以及與所述輸送面相反的一側的面的孔部，以能夠在所述孔部上載置所述標本的方式構成。

2.根據權利要求1所述的標本檢查裝置，其特征在于，

所述輸送面具有載置所述標本的凹部，

所述孔部連通所述凹部以及與所述輸送面相反的一側的面。

3.根據權利要求1或2所述的標本檢查裝置，其特征在于，

所述孔部的寬度比所述標本的寬度小。

4.根據權利要求1～3中任一項所述的標本檢查裝置，其特征在于，

所述輸送部以能夠在1個所述孔部上載置1個所述標本的方式構成。

5.根據權利要求1～3中任一項所述的標本檢查裝置，其特征在于，

所述輸送部以能夠在所述孔部上載置多個所述標本的方式構成。

6.根據權利要求1～5中任一項所述的標本檢查裝置，其特征在于，

所述太赫茲波產生部具有：

產生光脈沖的光脈沖產生部；和

被照射由所述光脈沖產生部產生的光脈沖的光傳導天線。

7.根據權利要求1～6中任一項所述的標本檢查裝置，其特征在于，

包括氣體噴射部，所述氣體噴射部通過所述孔部向載置于所述輸送面的所述標本噴射氣體，使所述標本從所述輸送面離開。

8.根據權利要求1～7中任一項所述的標本檢查裝置，其特征在于，

所述孔部被設置于透過所述輸送部的所述標本的太赫茲波通過的區域，

所述太赫茲波檢測部檢測通過所述孔部的太赫茲波。