[發明專利]加工物件基礎規格的檢測方法

有效

• 申請號: 201410080865.3
• 申請日: 2014-03-07
• 公開（公告）號: CN104897070B
• 公開（公告）日: 2018-04-17
• 發明（設計）人: 馮兆平
• 申請（專利權）人: 達觀科技有限公司
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 曹玲柱

技術領域

本發明與加工方法有關；特別是指一種加工物件基礎規格的檢測方法。

背景技術

隨著加工技術的發展，物件多是置于治具或機臺上，再施以自動化流程以進行鉆孔或零件安裝等加工動作；對于像電路板一類通過酸洗、刻蝕等方法預先布設好電路線的物件，由于每個物件之間常見有尺寸或形狀的差異，若未能妥善校正物件的位置，便貿然進行加工，很可能會造成電路線無法導通，或零件接點未對齊等狀況，造成加工失敗，浪費成本。

為避免此些情況，業界已有多種物件校正方法，用意在于確保每個物件都具有同等的校正標準，以保障加工后的成品的功能都如預期。這些校正方法多是利用一調整裝置調整物件在治具或機臺上的位置，但偶爾會出現尺寸或形狀誤差過大的物件，也就是不符合加工需求所要求的基礎規格，像這樣的物件無論如何校正，都無法進行有效加工，故應直接拋棄。只是，通常物件要實際經過校正后，才能發現是否不符合基礎規格，使得生產線必須花費不必要的時間，嘗試校正這些根本無法利用的物件，徒然增加時間成本。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種加工物件基礎規格的檢測方法，能快速判斷物件是否符合適于加工的基礎規格。

為了達成上述目的，本發明所提供的加工物件基礎規格的檢測方法應用于呈板狀的一物件，用以判斷該物件是否符合一適于進行后續校正及加工的基礎規格，該物件預先置放于一初始位置，該物件定義有至少二參考點，該檢測方法包括使用一攝影器材，該攝影器材具有至少二視窗，該些視窗的投影范圍內各涵蓋有一該參考點，且該些視窗中各定義有一校正點，各該視窗中的該參考點與該校正點互為對應，其中各該參考點與其所對應的該校正點在一投影平面上的距離定義為各該參考點的一偏差距離，該檢測方法包含下列步驟：利用一數值模擬技術，模擬該物件移動至一校正位置的情形，其中該校正位置的定義，是指當該物件位于該校正位置時，該些參考點的各該偏差距離的平方和為最小；比較該些偏差距離與一門限值，借此判斷該物件是否符合該基礎規格。

本發明的效果在于，不必實際進行校正，便能快速判斷物件是否符合適于加工的基礎規格。

附圖說明

圖1為本發明加工物件基礎規格的檢測方法的應用環境示意圖；

圖2為圖1的應用環境其中一個視窗的放大示意圖，揭露物件位于初始位置；

圖3為本發明加工物件基礎規格的檢測方法的流程圖；

圖4為圖2同一視窗的另一放大示意圖，揭露物件受模擬而位于校正位置。

【符號說明】

10物件；

12參考點；

20視窗；

22校正點；

24坐標系。

具體實施方式

為能更清楚地說明本發明，現舉優選實施例并配合附圖詳細說明如下。本發明加工物件基礎規格的檢測方法適用于板狀的物件，用以判斷該物件是否符合一基礎規格，此處所述的該基礎規格，是指符合該基礎規格的物件能夠進行后續的校正及加工動作，且產出的加工成品具有預期的功效。該檢測方法包括使用一攝影器材，合先敘明。

請參閱圖1及圖2，本發明一優選實施例的受校正物件為一物件10，該物件10上定義有四個參考點12，是由該物件10的各個端角的兩邊延伸交會而成；該攝影器材具有四個視窗20，該些視窗20的投影范圍內各涵蓋有一該參考點12，且該些視窗20都定義有一校正點22，且該校正點22不可相對于該視窗20移動，各該視窗20中的該參考點12與該校正點22互為對應。

該些視窗20各定義有一坐標系24，本實施例中各該視窗20所定義的該校正點22即為該坐標系24的原點，但該校正點22的定義方式并不以此為限，在其他實施例中，該校正點22也可以位于不同于原點的位置；由于該校正點22與該參考點12都位于該坐標系24上，故該校正點22具有一第一坐標值(X1，Y1)，該參考點12也具有一第二坐標值(X2，Y2)。各該參考點12與對應的一該校正點22在一投影平面上自然相隔有一距離，該距離定義為各該參考點12的一偏差距離；在本優選實施例中，各該參考點12的該偏差距離可通過該校正點22的該第一坐標值(X1，Y1)及該參考點12的該第二坐標值(X2，Y2)經幾何數學計算得知。