[發明專利]加工物件基礎規格的檢測方法

有效

• 申請號: 201410080865.3
• 申請日: 2014-03-07
• 公開（公告）號: CN104897070B
• 公開（公告）日: 2018-04-17
• 發明（設計）人: 馮兆平
• 申請（專利權）人: 達觀科技有限公司
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 曹玲柱

1.一種加工物件基礎規格的檢測方法，其特征在于，應用于呈板狀的一物件，用以判斷該物件是否符合一適于進行后續校正及加工的基礎規格，該物件預先置放于一初始位置，該物件定義有至少二參考點，該檢測方法包括使用一攝影器材，該攝影器材具有至少二視窗，該些視窗的投影范圍內各涵蓋有一該參考點，且該些視窗中各定義有一校正點，且該校正點不可相對該視窗移動，各該視窗中的該參考點與該校正點互為對應，其中各該參考點與其所對應的該校正點在一投影平面上的距離定義為各該參考點的一偏差距離，該檢測方法包含下列步驟：

利用一數值模擬技術，模擬該物件移動至一校正位置的情形，其中該校正位置的定義，是指當該物件位于該校正位置時，該些參考點的各該偏差距離的平方和為最小；

該物件模擬移動至該校正位置的情形時，比較該些偏差距離與一門限值的大??；任一該偏差距離大于該門限值或二個以上的該些偏差距離大于該門限值，抑或是該些偏差距離的和大于該門限值時，判斷該物件不符合該基礎規格。

2.根據權利要求1所述的加工物件基礎規格的檢測方法，其中，若一該偏差距離大于該門限值，則判斷該物件不符合該基礎規格。

3.根據權利要求1所述的加工物件基礎規格的檢測方法，其中，若該些偏差距離的平方和大于該門限值，則判斷該物件不符合該基礎規格。

4.根據權利要求1所述的加工物件基礎規格的檢測方法，其中，若有超過一特定數量的該些參考點的該偏差距離大于該門限值，則判斷該物件不符合該基礎規格。

5.根據權利要求1所述的加工物件基礎規格的檢測方法，其中，該些視窗各定義有一坐標系，各該視窗的該校正點在該坐標系上具有一第一坐標值。

6.根據權利要求5所述的加工物件基礎規格的檢測方法，其中，該參考點在所對應視窗內的該坐標系上具有一第二坐標值；各該參考點的該偏差距離通過該第一坐標值與該第二坐標值而計算得到。