[發(fā)明專利]一種石英晶體晶片的測試機(jī)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410077568.3 | 申請日： | 2014-03-05 |
| 公開（公告）號： | CN103869186A | 公開（公告）日： | 2014-06-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王斌;陸青林 | 申請（專利權(quán)）人： | 隨州泰華電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 441300 湖北省隨州市*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 石英 晶體 晶片 測試 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種石英晶體晶片的測試機(jī)，其特征是X軸水平軸安裝平臺(tái)(1)裝在Y軸左則導(dǎo)向軌道(2)和Y軸右則導(dǎo)向軌道(4)上，X軸左則導(dǎo)向軌道(6)、X軸右則導(dǎo)向軌道(7)、X軸伺復(fù)電機(jī)絲桿機(jī)構(gòu)(8)裝在X軸水平軸安裝平臺(tái)(1)上；Y軸伺復(fù)電機(jī)絲桿機(jī)構(gòu)(3)和Z軸豎直支撐臺(tái)(9)裝在平臺(tái)上，Z軸右側(cè)導(dǎo)向軌道(10)、Z軸左側(cè)導(dǎo)向軌道(11)裝在Z軸豎直支撐臺(tái)(9)上；右則測試探針位置調(diào)整機(jī)構(gòu)(13)、左則測試探針位置調(diào)整機(jī)構(gòu)(14)、左則測試探針(15)、右則測試探針(16)、工業(yè)攝像機(jī)(17)裝在Z軸伺復(fù)電機(jī)絲桿機(jī)構(gòu)(12)上。
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