[發(fā)明專利]磁浮平面電機(jī)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410073754.X | 申請(qǐng)日: | 2014-03-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104901586B | 公開(公告)日: | 2018-01-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 段素丙;陳慶生;季漢川;池峰;劉小虎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海微電子裝備(集團(tuán))股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H02N15/00 | 分類號(hào): | H02N15/00;G03F7/20 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)31237 | 代理人: | 屈蘅,李時(shí)云 |
| 地址: | 201203 上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 平面 電機(jī) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成電路裝備制造領(lǐng)域,尤其涉及一種磁鋼單元、一種磁鋼陣列、一種磁浮平面電機(jī),以及應(yīng)用該磁浮平面機(jī)的光刻裝置。
背景技術(shù)
隨著光刻技術(shù)的進(jìn)步和半導(dǎo)體工業(yè)的迅速發(fā)展,對(duì)于光刻設(shè)備有四項(xiàng)基本性能指標(biāo):線寬均勻性、焦深、套刻和產(chǎn)率。為了提高線寬均勻性,光刻機(jī)工作臺(tái)必須提高水平向精密定位能力;為了提高焦深誤差精度,工作臺(tái)必須提高垂向精密定位能力;為了提高光刻機(jī)套刻誤差精度,工作臺(tái)必須提高其內(nèi)部模態(tài)來(lái)提升動(dòng)態(tài)定位特性。此外,光刻設(shè)備必須增加產(chǎn)率,因此臺(tái)子必須高速運(yùn)動(dòng),快速啟動(dòng)和停止。光刻設(shè)備的高速、高加速和高精密的定位能力是相互矛盾的,為了克服這個(gè)矛盾,當(dāng)前工作臺(tái)技術(shù)采用了粗微動(dòng)結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)高速和高精度的技術(shù)分離。粗動(dòng)結(jié)構(gòu)主要由直線電機(jī)組成,可以實(shí)現(xiàn)大行程和高速度運(yùn)動(dòng)。微動(dòng)臺(tái)則層疊安裝于粗動(dòng)臺(tái)上,可以動(dòng)態(tài)補(bǔ)償定位偏差,微動(dòng)臺(tái)實(shí)現(xiàn)納米精度,并具有多自由度運(yùn)動(dòng)來(lái)進(jìn)行光刻曝光和對(duì)準(zhǔn)。目前這種結(jié)構(gòu)采用氣浮軸承結(jié)構(gòu)驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)技術(shù),無(wú)法實(shí)現(xiàn)多自由度運(yùn)動(dòng)與執(zhí)行器的一體化耦合設(shè)計(jì),導(dǎo)致系統(tǒng)運(yùn)動(dòng)結(jié)構(gòu)的質(zhì)量增大,驅(qū)動(dòng)力隨著增大,驅(qū)動(dòng)反力施加給系統(tǒng)的殘余振動(dòng)也增大,從而影響了系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)性能。此外,由于產(chǎn)量要求高加速度導(dǎo)致附加傾翻力矩加大,工作臺(tái)的氣浮靜剛度約束采用高剛性設(shè)計(jì),對(duì)導(dǎo)向平面度。預(yù)載變形、氣浮工藝參數(shù)設(shè)計(jì)要求非常高。同時(shí),考慮到配套的電、氣、水、真空通路與柜,工作臺(tái)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、龐大、可靠性低、維修維護(hù)難度大。
基于磁浮平面電機(jī)的磁浮運(yùn)動(dòng)臺(tái)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了運(yùn)動(dòng)部件的多自由度耦合運(yùn)動(dòng)和懸浮導(dǎo)向。與傳統(tǒng)“H”型或“十”字型平面電機(jī)結(jié)構(gòu)相比,磁浮平面電機(jī)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單緊湊,整體剛度高,且可以直接驅(qū)動(dòng)、無(wú)機(jī)械摩擦和無(wú)反沖等特點(diǎn),利于實(shí)現(xiàn)更高的加速性能和定位精度,因此在光刻調(diào)焦調(diào)平裝置中有十分誘人的前景。
如圖1所示,現(xiàn)有技術(shù)中的磁浮平面電機(jī),包括磁鋼陣列和線圈陣列。其中,磁鋼陣列包括若干磁鋼單元,如圖2所示,磁鋼單元包括第一磁鋼1-201及圍繞第一磁鋼的四個(gè)第二磁鋼1-202,所述第一磁鋼是N極磁鋼或S極磁鋼,第一磁鋼和第二磁鋼都是方形磁鋼,第一磁鋼和第二磁鋼之間通過(guò)長(zhǎng)方體第三磁鋼:一號(hào)第三磁鋼1-203a、二號(hào)第三磁鋼1-203b、三號(hào)第三磁鋼-1-203c、四號(hào)第三磁鋼1-203d連接,此種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)形成的磁鋼陣列,在四個(gè)第三磁鋼的相交處,就會(huì)產(chǎn)生一個(gè)方形的空隙,從而導(dǎo)致磁鋼陣列中存在若干個(gè)這樣的方形空隙,從而使導(dǎo)致磁鋼陣列的磁密小,背面磁泄露大。如圖3所示,現(xiàn)有技術(shù)的線圈陣列包括若干個(gè)第一軸方向、第二軸方向分布的線圈陣列,線圈陣列包括呈矩形排列的四個(gè)線圈組,四個(gè)線圈組分布在同一層,導(dǎo)致使磁浮平面電機(jī)動(dòng)子結(jié)構(gòu)不夠緊湊。
現(xiàn)有技術(shù)中需要進(jìn)一步提高磁浮平面電機(jī)定位裝置的磁密,并減小背面磁泄露。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是,提供了能夠減小磁泄露,增大磁密的磁鋼單元、磁鋼陣列、磁浮平面電機(jī)和光刻裝置。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明的技術(shù)方案是:一種磁鋼單元,包括方形第一磁鋼和圍繞第一磁鋼的四個(gè)方形第二磁鋼,所述第一磁鋼是N磁鐵或S磁鐵,所述第二磁鋼極性與第一磁鋼相反,其特征在于,所述第一磁鋼和/或第二磁鋼的四邊通過(guò)設(shè)置有倒角的長(zhǎng)方體形狀的第三磁鋼無(wú)縫隙連接,所述第三磁鋼的磁化方向是指向N磁鐵或者背離S磁鐵。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明所公開的磁鋼單元在現(xiàn)有技術(shù)的第一磁鋼和/或第二磁鋼的四邊設(shè)置帶有倒角的長(zhǎng)方體形狀的第三磁鋼,并且通過(guò)第三磁鋼的倒角設(shè)計(jì)使第一磁鋼與第二磁鋼相交處的第三磁鋼與第三磁鋼之間通過(guò)倒角無(wú)縫隙連接,從而磁鋼單元之間沒有縫隙,提高了磁鋼占積率;減小背面磁泄露。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明還公開了一種磁鋼陣列,包括若干個(gè)如上文所述的磁鋼單元,所述磁鋼單元沿第一方向和第二方向按照海爾貝克陣列模式進(jìn)行周期性排布組成。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明所公開的磁鋼陣列,包括若干個(gè)磁鋼單元,磁鋼單元按照海爾貝克陣列模式進(jìn)行周期性排布組成,所述海爾貝克陣列模式為第一磁鋼與第二磁鋼通過(guò)第三磁鋼無(wú)縫隙連接,提高了磁鋼占積率;減小背面磁泄露。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明還公開了一種磁浮平面電機(jī),包括多層線圈陣列,還包括如上文所述的磁鋼陣列;所述線圈陣列位于所述磁鋼陣列之上或之下,所述線圈陣列相對(duì)于所述磁鋼陣列運(yùn)動(dòng)。
進(jìn)一步地,所述多層線圈陣列相對(duì)于所述磁鋼陣列成45度角交叉設(shè)置。
進(jìn)一步地,所述多層線圈陣列的層數(shù)至少為2層,且能相對(duì)于所述磁鋼陣列進(jìn)行六自由度運(yùn)動(dòng)。
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