[發明專利]檢測芯片的方法在審
| 申請號： | 201410071606.4 | 申請日： | 2014-02-28 |
| 公開（公告）號： | CN104880466A | 公開（公告）日： | 2015-09-02 |
| 發明（設計）人： | 林徐振;陳明玉 | 申請（專利權）人： | 晶元光電股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88;G01R31/26;G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人： | 陳小雯 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 檢測 芯片 方法 | ||
1.一種檢測芯片的方法，包含：
提供多個芯片，包含至少一第一部分芯片；以及
以一非人工方式判斷每一個該些多個芯片，包含提供一第一檢測條件判斷每一個該些多個芯片，篩選出該些第一部分芯片，其中該些第一部分芯片通過該第一檢測條件，以及提供一第二檢測條件判斷每一個該些第一部分芯片為一第一類芯片或一第二類芯片，其中該第二檢測條件較該第一檢測條件包含較多的項目或較窄的范圍。
2.如權利要求1所述的檢測芯片的方法，還包含提供一第三檢測條件檢測該些第二類芯片。
3.如權利要求2所述的檢測芯片的方法，其中該第一檢測條件、該第二檢測條件以及該第三檢測條件包含判斷該些多個芯片的外觀、電性或光學特性。
4.如權利要求2所述的檢測芯片的方法，其中該些第二類芯片包含至少一第三類芯片，該些第三類芯片通過該第三檢測條件。
5.如權利要求4所述的檢測芯片的方法，還包含將該些第一類芯片及該些第三類芯片入庫。
6.如權利要求1所述的檢測芯片的方法，其中每一該多個芯片具有一特性數據。
7.如權利要求6所述的檢測芯片的方法，還包含依據該特性數據分類該些第一類芯片以及該些第二類芯片。
8.如權利要求6所述的檢測芯片的方法，還包含再次檢驗該些第二類芯片以取得每一該些第二類芯片的一二次特性數據，以及依據該二次特性數據分類該些第二類芯片。
9.如權利要求2所述的檢測芯片的方法，其中提供該第三檢測條件檢測該些第二類芯片的方式包含人工目檢。
10.如權利要求1所述的檢測芯片的方法，還包含提供一機器包含一程序執行該第一檢測條件以及該第二檢測條件。
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