[發(fā)明專(zhuān)利]故障檢測(cè)電路及采用該故障檢測(cè)電路檢測(cè)電路故障的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410063632.2 | 申請(qǐng)日: | 2014-02-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104865514A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-08-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳源慶 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 展晶科技(深圳)有限公司;榮創(chuàng)能源科技股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市鼎言知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44311 | 代理人: | 葉小勤 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市寶*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 故障 檢測(cè) 電路 采用 方法 | ||
1.一種故障檢測(cè)電路,包括微處理器、連接于所述微處理器的驅(qū)動(dòng)器、以及連接于驅(qū)動(dòng)器和微處理器之間的比較器,所述微處理器輸出信號(hào)周期為T(mén)且具有一定占空比的第一脈沖序列信號(hào)驅(qū)動(dòng)所述驅(qū)動(dòng)器輸出第二脈沖序列信號(hào),所述驅(qū)動(dòng)器包括一反饋輸出端以及連接于反饋輸出端的反饋電阻,?所述反饋輸出端的信號(hào)輸入所述比較器以使所述比較器輸出第三脈沖序列信號(hào),所述微處理器檢測(cè)所述第三脈沖序列信號(hào)在一個(gè)或者一個(gè)以上的任何信號(hào)周期內(nèi)的電位高、低以及該高、低電位的數(shù)量以判斷電路是否故障。
2.如權(quán)利要求1所述的故障檢測(cè)電路,其特征在于:所述第一脈沖序列信號(hào)為占空比為0,1或0到1之間。
3.如權(quán)利要求1所述的故障檢測(cè)電路,其特征在于:所述微處理器輸出高電位時(shí),所述反饋輸出端輸出高電位,所述比較器輸出高電位,所述微處理器輸出低電位時(shí),所述反饋輸出端輸出低電位,所述比較器輸出低電位。
4.如權(quán)利要求1所述的故障檢測(cè)電路,其特征在于:所述驅(qū)動(dòng)器還包括正輸出端以及負(fù)輸出端,所述負(fù)載的正極連接所述正輸出端,所述負(fù)載的負(fù)極連接所述反饋輸出端,所述反饋電阻的一端連接所述負(fù)載的負(fù)極及所述反饋輸出端,所述反饋電阻的另一端連接所述負(fù)輸出端。
5.如權(quán)利要求1所述的故障檢測(cè)電路,其特征在于:所述比較器包括輸入端、參考端及輸出端,所述反饋輸出端的信號(hào)自所述比較器的輸入端輸入比較器,并與所述參考端的電位比較。
6.如權(quán)利要求1所述的故障檢測(cè)電路,其特征在于:所述比較器包括一抗干擾電路模塊,所述抗干擾電路模塊包括第一電阻及第二電阻,所述第一電阻的一端與所述反饋輸出端連接,所述第一電阻的另外一端與比較器的輸入端連接,所述第二電阻的一端與所述第一電阻的所述另外一端連接,所述第二電阻的另外一端與所述比較器的輸出端連接。
7.如權(quán)利要求6所述的故障檢測(cè)電路,其特征在于:所述抗干擾電路包括穩(wěn)壓二極管,所述穩(wěn)壓二極管的正極與接地端連接,所述穩(wěn)壓二極管的負(fù)極與所述比較器的輸出端連接。
8.一種檢測(cè)電路故障的方法,包括如下步驟:
S1:提供所述微處理器,所述微處理器輸出信號(hào)周期為T(mén)的第一脈沖序列信號(hào),該第一脈沖序列信號(hào)具有一占空比;
S2:提供驅(qū)動(dòng)器,所述驅(qū)動(dòng)器接收所述微處理器輸出的第一脈沖序列信號(hào)以驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)器輸出第二脈沖序列信號(hào),所述驅(qū)動(dòng)器包括一反饋輸出端以及連接于反饋輸出端的反饋電阻;
S3:提供一比較器,將所述反饋輸出端的信號(hào)輸入所述比較器以使所述比較器輸出第三脈沖序列信號(hào)至所述微處理器;
S4:所述微處理器檢測(cè)第三脈沖序列信號(hào)在一個(gè)或者一個(gè)以上的任何信號(hào)周期T內(nèi)的電位高、低以及高、低電位的數(shù)量以判斷電路是否故障。
9.如權(quán)利要求8所述的檢測(cè)電路故障的方法,其特征在于:所述占空比為0,1,或0-1之間。
10.如權(quán)利要求8所述的檢測(cè)電路故障的方法,其特征在于:所述驅(qū)動(dòng)器還包括正輸出端以及負(fù)輸出端,所述負(fù)載的正極連接所述正輸出端,所述負(fù)載的負(fù)極連接所述反饋輸出端,所述反饋電阻的一端連接所述負(fù)載的負(fù)極及所述反饋輸出端,所述反饋電阻的另一端連接所述負(fù)輸出端。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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