[發(fā)明專利]故障檢測電路及采用該故障檢測電路檢測電路故障的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410063632.2
• 申請日: 2014-02-25
• 公開（公告）號: CN104865514A
• 公開（公告）日: 2015-08-26
• 發(fā)明（設計）人: 陳源慶
• 申請（專利權(quán)）人: 展晶科技（深圳）有限公司;榮創(chuàng)能源科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市鼎言知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44311
• 代理人: 葉小勤

技術(shù)領域

本發(fā)明涉及一種電路結(jié)構(gòu)，尤其涉及一種由PWM(Pulse?Width?Modulation)信號驅(qū)動的電子裝置的故障檢測電路及采用該故障檢測電路檢測由PWM信號驅(qū)動的電子裝置的電路故障的方法。

背景技術(shù)

傳統(tǒng)的電子裝置一般由恒定電流驅(qū)動，其故障的檢測可通過直流電流表或者電壓表來進行檢測。然而，為了使用于不同的場合，通常會設計出采用占空比可調(diào)的脈沖序列信號來驅(qū)動的電子裝置，以使該電子裝置依據(jù)不同的場合工作在不同的狀態(tài)。而脈沖序列信號一般由高、低兩種電位組成的信號，因此，傳統(tǒng)的恒流檢測裝置（如直流電流表）或恒壓檢測裝置（如直流電壓表）已經(jīng)無法檢測由高、低電位交替變換的脈沖序列信號驅(qū)動的電子裝置的故障。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，有必要提供一種檢測由PWM驅(qū)動的電子裝置的故障檢測電路及及采用該故障檢測電路檢測由PWM信號驅(qū)動的電子裝置的電路故障的方法。

一種故障檢測電路，包括微處理器、連接于所述微處理器的驅(qū)動器、以及連接于驅(qū)動器和微處理器之間的比較器，所述微處理器輸出信號周期為T且具有一定占空比的第一脈沖序列信號驅(qū)動所述驅(qū)動器輸出第二脈沖序列信號，所述驅(qū)動器包括一反饋輸出端以及連接于反饋輸出端的反饋電阻,?所述反饋輸出端的信號輸入所述比較器以使所述比較器輸出第三脈沖序列信號，所述微處理器檢測所述第三脈沖序列信號在一個或者一個以上的任何信號周期內(nèi)的電位高、低以及該高、低電位的數(shù)量以判斷電路是否故障。

一種檢測電路故障的方法，包括如下步驟：

S1：提供所述微處理器，所述微處理器輸出信號周期為T的第一脈沖序列信號，該第一脈沖序列信號具有一占空比；

S2：提供驅(qū)動器，所述驅(qū)動器接收所述微處理器輸出的第一脈沖序列信號以驅(qū)動驅(qū)動器輸出第二脈沖序列信號，所述驅(qū)動器包括一反饋輸出端以及連接于反饋輸出端的反饋電阻；

S3：提供一比較器，將所述反饋輸出端的信號輸入所述比較器以使所述比較器輸出第三脈沖序列信號至所述微處理器；

S4：所述微處理器檢測第三脈沖序列信號在一個或者一個以上的任何信號周期T內(nèi)的電位高、低以及高、低電位的數(shù)量以判斷電路是否故障。

本發(fā)明的故障檢測電路及采用該故障檢測電路檢測電路故障的方法中，所述微處理器輸出信號周期為T且具有一定占空比的第一脈沖序列信號驅(qū)動所述驅(qū)動器輸出第二脈沖序列信號，所述反饋輸出端的信號輸入所述比較器以使所述比較器輸出第三脈沖序列信號，所述比較器將所述第三脈沖序列信號反饋至所述微處理器，所述微處理器檢測接收到的第三脈沖序列信號在任何信號周期T內(nèi)的電位高、低以及高、低電位的數(shù)量進而判斷電路是否故障。

相較于傳統(tǒng)的電路故障檢測裝置，本發(fā)明的故障檢測電路可檢測由PWM驅(qū)動或者由脈沖序列信號驅(qū)動的電子裝置的電路故障，且其結(jié)構(gòu)簡單，成本較低。

附圖說明

圖1為本發(fā)明第一實施例的故障檢測電路的示意圖。

圖2為圖1中的微處理器輸出的第一脈沖序列信號示意圖。

圖3為本發(fā)明第二實施例的故障檢測電路的示意圖。

圖4為本發(fā)明第一實施例中自比較器輸出的第二脈沖序列信號與第二實施例中自比較器輸出的第二脈沖序列信號的比較示意圖。

主要元件符號說明