[發(fā)明專利]用于MOSFET應(yīng)用的可變緩沖電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410054781.2 | 申請日: | 2014-02-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104052458B | 公開(公告)日: | 2018-08-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 雷燮光;潘繼 | 申請(專利權(quán))人: | 萬國半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H03K19/0185 | 分類號(hào): | H03K19/0185 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人: | 吳俊 |
| 地址: | 美國加利福尼亞州94*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 mosfet 應(yīng)用 可變 緩沖 電路 | ||
1.一種晶體管器件,其特征在于,包括:
一個(gè)或多個(gè)形成在半導(dǎo)體襯底中的柵控結(jié)構(gòu),所述的一個(gè)或多個(gè)柵控結(jié)構(gòu)包括一個(gè)或多個(gè)金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)結(jié)構(gòu),每個(gè)結(jié)構(gòu)都具有柵極端、漏極端和源極端;
一個(gè)緩沖電路,與一個(gè)或多個(gè)柵控結(jié)構(gòu)并聯(lián),其中緩沖電路包括一個(gè)或多個(gè)電阻器,所述電阻器的電阻由開關(guān)時(shí)一個(gè)或多個(gè)柵控結(jié)構(gòu)的柵極電勢的變化控制。
2.如權(quán)利要求1所述的器件,其特征在于,一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器形成在一個(gè)或多個(gè)MOSFET結(jié)構(gòu)的柵極電極上方。
3.如權(quán)利要求2所述的器件,其特征在于,一個(gè)或多個(gè)電阻器為三端電阻器,具有源極端、漏極端和柵極端,其中柵極端為一個(gè)或多個(gè)MOSFET結(jié)構(gòu)的柵極電極。
4.如權(quán)利要求2所述的器件,其特征在于,所述的一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器為薄膜晶體管(TFT)MOSFET。
5.如權(quán)利要求2所述的器件,其特征在于,所述的一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器為耗盡型MOSFET。
6.如權(quán)利要求2所述的器件,其特征在于,所述的一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器為增強(qiáng)型MOSFET,與被動(dòng)電阻器并聯(lián)。
7.如權(quán)利要求2所述的器件,其特征在于,所述的一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器為JFET。
8.一種晶體管器件,其特征在于,包括:
一個(gè)或多個(gè)形成在半導(dǎo)體襯底中的柵控結(jié)構(gòu),所述的一個(gè)或多個(gè)柵控結(jié)構(gòu)包括一個(gè)或多個(gè)金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(MOSFET)結(jié)構(gòu),每個(gè)結(jié)構(gòu)都具有柵極端、漏極端和源極端;
一個(gè)緩沖電路,與一個(gè)或多個(gè)柵控結(jié)構(gòu)并聯(lián),其中緩沖電路包括一個(gè)或多個(gè)電阻器,所述電阻器的電阻由開關(guān)時(shí)一個(gè)或多個(gè)柵控結(jié)構(gòu)的漏極電勢的變化控制。
9.如權(quán)利要求8所述的器件,其特征在于,一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器形成在晶體管器件的端接區(qū)中,其中端接區(qū)中的半導(dǎo)體襯底短接,維持在一個(gè)或多個(gè)MOSFET結(jié)構(gòu)的漏極電勢。
10.如權(quán)利要求9所述的器件,其特征在于,所述的一個(gè)或多個(gè)電阻器為三端電阻器,具有源極端、漏極端和柵極端,其中柵極端為端接區(qū)中的半導(dǎo)體襯底,端接區(qū)維持在一個(gè)或多個(gè)MOSFET結(jié)構(gòu)的漏極電勢。
11.如權(quán)利要求9所述的器件,其特征在于,所述的一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器由開關(guān)時(shí)所述的一個(gè)或多個(gè)MOSFET結(jié)構(gòu)的柵極電勢的變化控制,并且其中一個(gè)或多個(gè)所述的帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器由開關(guān)時(shí)所述的一個(gè)或多個(gè)MOSFET結(jié)構(gòu)的漏極電勢的變化控制。
12.如權(quán)利要求11所述的器件,其特征在于,由柵極電勢控制的一個(gè)或多個(gè)所述的電阻器,和由漏極電勢控制的一個(gè)或多個(gè)所述的電阻器相互并聯(lián)。
13.如權(quán)利要求11所述的器件,其特征在于,由柵極電勢控制的一個(gè)或多個(gè)所述的電阻器,和由漏極電勢控制的一個(gè)或多個(gè)所述的電阻器相互串聯(lián)。
14.如權(quán)利要求9所述的器件,其特征在于,所述的一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器為薄膜晶體管(TFT)MOSFET。
15.如權(quán)利要求9所述的器件,其特征在于,所述的一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器為耗盡型MOSFET。
16.如權(quán)利要求9所述的器件,其特征在于,所述的一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器為增強(qiáng)型MOSFET,與被動(dòng)電阻器并聯(lián)。
17.如權(quán)利要求9所述的器件,其特征在于,所述的一個(gè)或多個(gè)帶有動(dòng)態(tài)可控電阻的電阻器為JFET。
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