[發明專利]天線測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201410049239.8
• 申請日: 2014-02-12
• 公開（公告）號: CN104833869A
• 公開（公告）日: 2015-08-12
• 發明（設計）人: 錢憲
• 申請（專利權）人: 富泰華工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R27/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種天線測試裝置及方法。

背景技術

當前天線的測試通過無源測試來判斷天線的好壞，具體為將天線與測試儀器網絡分析儀（VNA）進行物理連接，直接測出VSWR等相關參數。該測試方法需物理連接，較不方便，另外，物理連接容易損壞天線。再者，當前手持式設備的天線都在產品內部，在產品閉合前，無線產品的最終測試都是在天線連接下的輻射測試，如果天線異常需要檢查，就要拆開產品進行物理連接測試，造成成本增加。

發明內容

有鑒于此，提供一種成本較低且測試較方便的天線測試裝置。

另，有必要提供一種利用該天線測試裝置測試天線性能的方法。

一種天線測試裝置，其包括一網絡分析儀及一耦合天線，該耦合天線通過一數據線與所述網絡分析儀相連接，所述網絡分析儀產生一入射波，所述耦合天線在該入射波的作用下與待測天線產生感應作用，影響所述耦合天線的輻射阻抗，從而影響所述耦合天線的反射波，該網絡分析儀根據入射波與所述耦合天線反饋的反射波獲得一駐波比。

一種天線測試方法，該方法包括如下步驟：

提供一種天線測試裝置，所述天線測試裝置包括一耦合天線及一網絡分析儀，其中所述網絡分析儀通過一數據線與所述耦合天線連接；設置參考天線于距所述耦合天線一預設距離處；控制所述網絡分析儀產生一入射波于所述耦合天線，使得所述耦合天線在該入射波的作用下與參考天線發生感應作用，并反饋一反射波于所述網絡分析儀中；根據該入射波與反射波獲得一上限參考駐波比及一下限參考駐波比并顯示于所述網絡分析儀中；取下參考天線，放置一待測天線；控制所述網絡分析儀產生所述入射波于所述耦合天線，使得所述耦合天線在該入射波的作用下與待測天線發生感應作用，并反饋一反射波于所述網絡分析儀中；所述網絡分析儀根據所述入射波與所述反射波得到一駐波比；比較該駐波比與一上限參考駐波比及一下限參考駐波比來判斷待測天線是否合格。

相較于現有技術，該天線測試裝置利用耦合天線在入射波的作用下與待測天線發生感應作用，并反饋一反射波于該網絡分析儀中；網絡分析儀根據入射波與反射波得到一駐波比，進而判斷該待測天線的性能。該天線測試裝置無需將天線與測試儀器網絡分析儀（VNA）進行物理連接，大大減小了天線損壞的可能性，另外對于設置于產品內的天線出現異常需要異常，也不需要拆開產品，大大節省了成本。

附圖說明

圖1是本發明天線測試裝置的實施方式示意圖。

圖2是本發明天線測試方法實施方式流程圖。

主要元件符號說明

天線測試裝置100網絡分析儀10耦合天線20數據線30待測天線40

如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發明。

具體實施方式

請參閱圖1，本發明較佳實施例的天線測試裝置100可以用于測試移動電話等便攜試電子裝置（圖中未示）內的天線，該天線測試裝置100包括一網絡分析儀10及一耦合天線20，其中該網絡分析儀10通過一數據線30，如RF?cable，與該耦合天線20連接。該耦合天線20用于在測試過程中，接收該網絡分析儀10的入射波，在該入射波的作用下與安裝有待測天線40的產品產生感應作用，影響該耦合天線20的輻射阻抗，從而影響該耦合天線20的反射波，所述網絡分析儀10根據所述入射波與該反射波得到一駐波比。