[發明專利]天線測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201410049239.8
• 申請日: 2014-02-12
• 公開（公告）號: CN104833869A
• 公開（公告）日: 2015-08-12
• 發明（設計）人: 錢憲
• 申請（專利權）人: 富泰華工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R27/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種天線測試裝置，該天線測試裝置包括一網絡分析儀，其特征在于，所述天線測試裝置還包括一耦合天線，該耦合天線與所述網絡分析儀通過一數據線連接；所述網絡分析儀用于產生一入射波；所述耦合天線接收所述入射波并與待測天線發生感應作用，并反饋一反射波于所述網絡分析儀中；所述網絡分析儀根據所述入射波與所述反射波得到一駐波比，若該駐波比在一上限參考駐波比及一下限參考駐波比的范圍內，則該待測天線合格。

2.一種天線測試方法，應用于一天線測試裝置中，該方法包括以下步驟：

提供一網絡分析儀及一耦合天線，其中該網絡分析儀通過一數據線與該耦合天線連接；

設置待測天線于距該耦合天線一預設距離處；

控制該網絡分析儀產生一入射波于該耦合天線，使得該耦合天線在該入射波的作用下與待測天線發生感應作用，并反饋一反射波于該網絡分析儀中；

根據該入射波與反射波獲得一駐波比并顯示于所述網絡分析儀；

比較該駐波比與一上限參考駐波比與一下限參考駐波比；

若該駐波比在該上限參考駐波比及該下限參考駐波比的范圍內，則該待測天線合格，反之，不合格。

3.如權利要求2所述的天線測試方法，其特征在于：所述數據線為RFcable。

4.如權利要求2所述的天線測試方法，其特征在于：所述預設距離的范圍為小于或等于2cm。

5.如權利要求2所述的天線測試方法，其特征在于：所述預設距離為1cm。

6.如權利要求2所述的天線測試方法，其特征在于：該天線測試方法還包括獲取上限參考駐波比及下限參考駐波比步驟，其中，該獲取上限參考駐波比及下限參考駐波比步驟還包括以下步驟：

設置一參考天線于所述耦合天線一預設距離處；

控制該網絡分析儀產生一入射波于該耦合天線，使得該耦合天線在該入射波的作用下與參考天線發生感應作用，并反饋一反射波于該網絡分析儀中；及

根據該入射波與反射波獲得所述一上限參考駐波比及所述一下限參考駐波比并顯示于所述網絡分析儀中。

7.如權利要求2所述的天線測試方法，其特征在于：該網絡分析儀產生入射波頻率的范圍為700-2600MHZ。