[發(fā)明專利]封裝結(jié)構(gòu)及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410037426.4 | 申請(qǐng)日: | 2014-01-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103745968A | 公開(公告)日: | 2014-04-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 譚小春 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 矽力杰半導(dǎo)體技術(shù)(杭州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/495 | 分類號(hào): | H01L23/495;H01L23/31;H01L21/60;H01L21/56 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 310012 浙江省杭*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 封裝 結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成電路制造技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種封裝結(jié)構(gòu)及其制備方法。
背景技術(shù)
集成電路塑封中使用的引線框架是集成電路封裝的一種主要結(jié)構(gòu)材料。它在集成電路封裝結(jié)構(gòu)中主要起承載芯片的作用,同時(shí)起連接芯片與外部線路板電信號(hào)的作用。
具體的,請(qǐng)參考圖1~圖3,其中,圖1為現(xiàn)有的封裝結(jié)構(gòu)的立體示意圖;圖2為圖1所示的封裝結(jié)構(gòu)的AA’剖面圖;圖3為圖1所示的封裝結(jié)構(gòu)的BB’剖面圖。
如圖1所示,現(xiàn)有的封裝結(jié)構(gòu)1包括引線框架10、芯片11以及用于將所述芯片11電連接到所述引線框架10上的電連接體12。請(qǐng)參考圖2和圖3,進(jìn)一步的,還可包括囊封引線框架10、芯片11以及電連接體12的塑封料13(圖1中未示出),所述塑封料13用于防止外部水汽或者污染物進(jìn)入封裝結(jié)構(gòu)1內(nèi)部,以保護(hù)封裝結(jié)構(gòu)1的內(nèi)部元件。其中,用語“囊封”指不完全包封、包裹,可有部分器件暴露于所述塑封料之外。
但是,封裝結(jié)構(gòu)1中采用的用于將芯片11與外部電路相連的引線框架10的引腳的形狀為規(guī)則的幾何體(如長方體),引腳在AA’方向與BB’方向的剖面圖均為規(guī)則的矩形。這樣的結(jié)構(gòu)不利于在引腳的側(cè)面(除連接芯片11的頂面以及與所述頂面相對(duì)的底面之外,較狹長的兩個(gè)面)鎖定住塑封料13,容易引起塑封料13破裂,從而使外部水汽或者其他污染物進(jìn)入封裝結(jié)構(gòu)1內(nèi)部而造成內(nèi)部元件的損壞。而且這種結(jié)構(gòu)的引腳的各個(gè)側(cè)面均為平面結(jié)構(gòu),不利于增加引線框架10與塑封料13的接觸面積,從而不利于增加塑封料13破裂的路徑或水汽和其他污染物進(jìn)入內(nèi)部元件的路徑,而影響了封裝結(jié)構(gòu)1的可靠度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種封裝結(jié)構(gòu)及其制備方法,以解決現(xiàn)有的封裝結(jié)構(gòu)容易引起塑封料破裂,從而使外部水汽或者其他污染物進(jìn)入封裝結(jié)構(gòu)內(nèi)部而造成內(nèi)部元件的損壞;以及現(xiàn)有的封裝結(jié)構(gòu)不利于增加塑封料破裂的路徑或水汽和其他污染物進(jìn)入內(nèi)部元件的路徑,而影響了封裝結(jié)構(gòu)的可靠度的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種封裝結(jié)構(gòu),所述封裝結(jié)構(gòu)包括:引線框架、芯片層、電連接體及塑封料,所述芯片層位于所述引線框架上方,所述芯片層至少包括一塊芯片,所述芯片的有源面通過電連接體電連接到所述引線框架上;所述塑封料囊封所述芯片層、電連接體及引線框架;
其中,所述引線框架包括多個(gè)引腳,所述引腳用于電連接芯片的一面為頂面,與所述頂面相對(duì)的一面為底面,所述頂面和底面之間的側(cè)面為兩個(gè)相對(duì)的第一側(cè)面及兩個(gè)相對(duì)的第二側(cè)面,所述第一側(cè)面比所述第二側(cè)面狹長;
所述頂面和底面之間至少具有一截面,所述頂面的寬度為第一寬度,所述截面的寬度為第二寬度,所述第二寬度小于所述第一寬度,其中,所述頂面的寬度為在頂面處兩個(gè)第一側(cè)面之間的距離;所述截面的寬度為在截面處兩個(gè)第一側(cè)面之間的距離。
可選的,在所述的封裝結(jié)構(gòu)中,所述塑封料貼合每個(gè)引腳的兩個(gè)第一側(cè)面。
可選的,在所述的封裝結(jié)構(gòu)中,所述電連接體為導(dǎo)電凸塊,所述芯片通過所述導(dǎo)電凸塊電連接到所述引線框架上。
可選的,在所述的封裝結(jié)構(gòu)中,所述電連接體為金屬引線,所述芯片通過所述金屬引線電連接到所述引線框架上。
可選的,在所述的封裝結(jié)構(gòu)中,所述頂面、底面及截面相互平行。
可選的,在所述的封裝結(jié)構(gòu)中,所述頂面、底面及截面的形狀均為矩形。
可選的,在所述的封裝結(jié)構(gòu)中,所述頂面與所述底面之間的截面寬度,由頂面至底面先依次減小,然后保持不變。
可選的,在所述的封裝結(jié)構(gòu)中,所述頂面與所述底面之間具有一中間面,所述頂面與所述中間面之間的截面面積,由頂面至中間面先依次減小,然后依次增大;所述底面與所述中間面之間的截面面積,由底面至中間面先依次減小,然后依次增大。
可選的,在所述的封裝結(jié)構(gòu)中,所述頂面與所述底面之間的截面寬度,由頂面至底面先依次減小,然后依次增大。
本發(fā)明還提供一種封裝結(jié)構(gòu)的制備方法,所述封裝結(jié)構(gòu)的制備方法包括:
形成引線框架,所述引線框架包括多個(gè)引腳,所述引腳用于電連接芯片的一面為頂面,與所述頂面相對(duì)的一面為底面,所述頂面和底面之間的側(cè)面為兩個(gè)相對(duì)的第一側(cè)面及兩個(gè)相對(duì)的第二側(cè)面,所述第一側(cè)面比所述第二側(cè)面狹長;所述頂面和底面之間至少具有一截面,所述頂面的寬度為第一寬度,所述截面的寬度為第二寬度,所述第二寬度小于所述第一寬度,其中,所述頂面的寬度為在頂面處兩個(gè)第一側(cè)面之間的距離;所述截面的寬度為在截面處兩個(gè)第一側(cè)面之間的距離;
通過電連接體將芯片層電連接到所述引線框架中的引腳的頂面;
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