[發(fā)明專利]一種基于混響室的不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體屏蔽效能測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410036870.4
• 申請(qǐng)日: 2014-01-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103760445A
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-04-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 程二威;陳亞洲;王慶國(guó);范麗思;趙敏;潘曉東;賈銳
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)人民解放軍軍械工程學(xué)院
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G01R29/08
• 代理公司: 石家莊新世紀(jì)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 13100
• 代理人: 楊欽祥;張素靜

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種基于混響室的腔體屏蔽效能測(cè)試方法，尤其適用于不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體的屏蔽效能測(cè)試。

背景技術(shù)

電子設(shè)備的外部腔體在起固定、支撐、隔離外部環(huán)境、保護(hù)電子部件的作用的同時(shí)，也能夠阻隔腔體內(nèi)、外電磁波的傳播，具有一定的屏蔽能力。我國(guó)對(duì)腔體屏蔽效能的測(cè)試，主要依據(jù)GJB6785-2009、GJB5972-2006、GB/T12190-2006等屏蔽效能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測(cè)試方法主要有外置輻射源法、內(nèi)置輻射源法和機(jī)械攪拌式混響室法。但是如導(dǎo)彈外殼、無(wú)人機(jī)機(jī)殼等不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體，在使用上述三種測(cè)試方法測(cè)試其屏蔽效能時(shí)存在困難。

比如在使用外置輻射源法和內(nèi)置輻射源法測(cè)試不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體的屏蔽效能時(shí)，在諧振頻段腔體內(nèi)部的電磁場(chǎng)分布是不均勻的，天線放置位置不同測(cè)試結(jié)果會(huì)相差較大，導(dǎo)致不同測(cè)試人員之間的測(cè)試結(jié)果不具有可比性。為了解決腔體在諧振頻段內(nèi)部電場(chǎng)分布不均勻的問(wèn)題，國(guó)際電工委員會(huì)提出了機(jī)械攪拌式混響室測(cè)試方法，通過(guò)在腔體內(nèi)部安裝機(jī)械攪拌器，使腔體內(nèi)部電場(chǎng)分布達(dá)到空間統(tǒng)計(jì)均勻，這樣測(cè)試天線無(wú)論放置在腔體內(nèi)部任何位置其測(cè)試結(jié)果都是一樣的。但是對(duì)于不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體來(lái)說(shuō)，如果腔體內(nèi)部空間狹小，就無(wú)法安裝攪拌器，不能使用機(jī)械攪拌式混響室法測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種基于混響室的對(duì)腔體內(nèi)部放置測(cè)試儀器設(shè)備的空間及位置無(wú)要求的不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體屏蔽效能測(cè)試方法。

為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：

本發(fā)明用到的測(cè)試設(shè)備包括輻射天線、電場(chǎng)探頭、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、混響室和同軸電纜，其特征在于所述測(cè)試方法步驟如下：

步驟1：構(gòu)建測(cè)試環(huán)境：輻射天線置于混響室工作區(qū)域外部，不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體置于混響室工作區(qū)域內(nèi)部的實(shí)驗(yàn)臺(tái)上，電場(chǎng)探頭置于所述不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體內(nèi)部任意位置；所述輻射天線和電場(chǎng)探頭分別通過(guò)同軸電纜與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的發(fā)射端口和接收端口相連接；

步驟2：在所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的發(fā)射端口和接收端口保持連接同軸電纜的情況下，進(jìn)行校準(zhǔn)：并且在校準(zhǔn)后，所述同軸電纜不能更換，不能改變走線位置；一旦更換同軸電纜，需重新校準(zhǔn)；

步驟3：根據(jù)測(cè)試需要設(shè)置所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀掃頻的起始頻點(diǎn)、終止頻點(diǎn)和頻點(diǎn)個(gè)數(shù)，所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試并記錄矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的發(fā)射端口和接收端口測(cè)得的信號(hào)之差，即散射參數(shù)S₂₁，該參數(shù)與電場(chǎng)強(qiáng)度成正比；

步驟4：將不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體從實(shí)驗(yàn)臺(tái)上移下，但不將其移出混響室，露出原安裝在其內(nèi)部的電場(chǎng)探頭，保持電場(chǎng)探頭的位置和線纜的走線位置不變，利用步驟3中設(shè)置好的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀掃頻的起始頻點(diǎn)、終止頻點(diǎn)和頻點(diǎn)個(gè)數(shù)，再次使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試并記錄此時(shí)各個(gè)頻點(diǎn)下發(fā)射端口和接收端口測(cè)得的信號(hào)之差，即散射參數(shù)S’₂₁，該參數(shù)與電場(chǎng)強(qiáng)度成正比；

步驟5：將兩次得到的散射參數(shù)S₂₁和S’₂₁相減，得到與上述一系列掃描頻率點(diǎn)一一對(duì)應(yīng)的散射參數(shù)差值；

步驟6：以上述一系列掃描頻率點(diǎn)中某一頻率點(diǎn)為中心，取其左右相等帶寬內(nèi)的頻率點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的散射參數(shù)差值，求平均值，記作不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體在該頻率點(diǎn)時(shí)的屏蔽效能。

所述輻射天線的輻射方向?qū)?zhǔn)距離其最近的一個(gè)混響室角落。

所述步驟6中，以上述一系列掃描頻率點(diǎn)中某一頻率點(diǎn)為中心，取得50MHz~100MHz頻率帶寬內(nèi)頻率點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的散射參數(shù)差值求平均值，記作不規(guī)則結(jié)構(gòu)腔體在該頻率點(diǎn)時(shí)的屏蔽效能。

本發(fā)明的有益效果為：

（1）本方法不需要在腔體內(nèi)部安裝機(jī)械攪拌器，無(wú)需機(jī)械攪拌器轉(zhuǎn)動(dòng)，測(cè)試腔體屏蔽效能速度快，節(jié)省測(cè)試時(shí)間，縮短測(cè)試周期，采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀減少了測(cè)試設(shè)備，易于搭建測(cè)試平臺(tái)；（2）在不規(guī)則腔體內(nèi)部通過(guò)統(tǒng)計(jì)平均計(jì)算出均勻的電磁場(chǎng)頻率信號(hào)，電場(chǎng)探頭可放置在腔體內(nèi)任意位置，消除了對(duì)測(cè)試儀器設(shè)備安裝位置的要求，測(cè)試結(jié)果重復(fù)性好，與真實(shí)使用環(huán)境貼近，對(duì)不規(guī)則屏蔽腔體的屏蔽效能的評(píng)估更為準(zhǔn)確；（3）用于接收信號(hào)的電場(chǎng)探頭可安裝在腔體內(nèi)部任意位置，無(wú)需在被測(cè)腔體內(nèi)部?jī)?nèi)置機(jī)械攪拌器和大尺寸測(cè)試設(shè)備，消除了對(duì)腔體空間大小和形狀的要求，適用各類型腔體的屏蔽效能測(cè)試；（4）本方法步驟簡(jiǎn)單，易于實(shí)現(xiàn)，成本低，便于推廣，市場(chǎng)前景廣闊。

附圖說(shuō)明

附圖1為本發(fā)明的原理流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖1和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步說(shuō)明：