[發明專利]一種基于混響室的不規則結構腔體屏蔽效能測試方法

有效

• 申請號: 201410036870.4
• 申請日: 2014-01-24
• 公開（公告）號: CN103760445A
• 公開（公告）日: 2014-04-30
• 發明（設計）人: 程二威;陳亞洲;王慶國;范麗思;趙敏;潘曉東;賈銳
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍軍械工程學院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R29/08
• 代理公司: 石家莊新世紀專利商標事務所有限公司 13100
• 代理人: 楊欽祥;張素靜

1.一種基于混響室的不規則結構腔體屏蔽效能測試方法，其測試設備包括輻射天線、電場探頭、矢量網絡分析儀、混響室和同軸電纜，其特征在于所述測試方法步驟如下：

步驟1：構建測試環境：輻射天線置于混響室工作區域外部，不規則結構腔體置于混響室工作區域內部的實驗臺上，電場探頭置于所述不規則結構腔體內部任意位置；所述輻射天線和電場探頭分別通過同軸電纜與矢量網絡分析儀的發射端口和接收端口相連接；

步驟2：在所述矢量網絡分析儀的發射端口和接收端口保持連接同軸電纜的情況下，進行校準：并且在校準后，所述同軸電纜不能更換，不能改變走線位置；一旦更換同軸電纜，需重新校準；

步驟3：根據測試需要設置所述矢量網絡分析儀掃頻的起始頻點、終止頻點和頻點個數，所述矢量網絡分析儀測試并記錄矢量網絡分析儀的發射端口和接收端口測得的信號之差，即散射參數S₂₁，該參數與電場強度成正比；

步驟4：將不規則結構腔體從實驗臺上移下，但不將其移出混響室，露出原安裝在其內部的電場探頭，保持電場探頭的位置和線纜的走線位置不變，利用步驟3中設置好的矢量網絡分析儀掃頻的起始頻點、終止頻點和頻點個數，再次使用矢量網絡分析儀測試并記錄此時各個頻點下發射端口和接收端口測得的信號之差，即散射參數S’₂₁，該參數與電場強度成正比；

步驟5：將兩次得到的散射參數S₂₁和S’₂₁相減，得到與上述一系列掃描頻率點一一對應的散射參數差值；

步驟6：以上述一系列掃描頻率點中某一頻率點為中心，取其左右相等帶寬內的頻率點所對應的散射參數差值，求平均值，記作不規則結構腔體在該頻率點時的屏蔽效能。

2.根據權利要求1所述的基于混響室的不規則結構腔體屏蔽效能測試方法，其特征在于：所述輻射天線的輻射方向對準距離其最近的一個混響室角落。

3.根據權利要求2所述的基于混響室的不規則結構腔體屏蔽效能測試方法，其特征在于：所述步驟6中，以上述一系列掃描頻率點中某一頻率點為中心，取得50MHz~100MHz頻率帶寬內頻率點所對應的散射參數差值求平均值，記作不規則結構腔體在該頻率點時的屏蔽效能。