[發(fā)明專利]X-射線成像空間分布不均勻性的校正方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410036628.7
• 申請(qǐng)日: 2014-01-26
• 公開（公告）號(hào): CN103995010A
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳建峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浙江康源醫(yī)療器械有限公司
• 主分類號(hào): G01N23/04
• 分類號(hào): G01N23/04
• 代理公司: 杭州華鼎知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 33217
• 代理人: 秦曉剛

1.X-射線成像空間分布不均勻性的校正方法，其特征在于至少包括如下步驟：?

將平板探測(cè)器放在位置z₁并正對(duì)X-射線源，調(diào)節(jié)平板探測(cè)器每一個(gè)像素單元的靈敏度，使得輸出的信號(hào)形成一個(gè)均勻的圖像；?

將平板探測(cè)器移動(dòng)到位置z₂且仍然正對(duì)X-射線源，這時(shí)平板探測(cè)器就會(huì)收到一幀強(qiáng)度不均勻分布圖像；?

將位置z₂上這一幀強(qiáng)度不均勻分布圖像沿X、Y軸采集信號(hào)，并將該信號(hào)用二次多項(xiàng)式函數(shù)進(jìn)行擬合得到圖像校正系數(shù)；?

將平板探測(cè)器移動(dòng)到任何一個(gè)待矯正的位置z，通過二次多項(xiàng)式函數(shù)及圖像校正系數(shù)得到位置z上的均勻圖像。?

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X-射線成像空間分布不均勻性的校正方法，其特征在于：位置z₁為平板探測(cè)器距離X-射線源足夠遠(yuǎn)的位置z_max>>L，這里L(fēng)是平板的尺度，位置z₂為平板探測(cè)器所需成像最近的距離位置z_min。?

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X-射線成像空間分布不均勻性的校正方法，其特征在于：位置z上的均勻圖像??????????????????????????????????????????????????這里t(x，y)＝I(x，y)/I₀是相對(duì)強(qiáng)度分布，t(0，0)＝1，A，B，C，D是二項(xiàng)式擬合系數(shù)，θ_x和θ_y是該點(diǎn)(x，y)與X‐射線源連線與Z軸分別在Y‐Z面和X‐Z面上投影的夾角，z滿足：z_min≤z≤z_max。?

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的X-射線成像空間分布不均勻性的校正方法，其特征在于：沿著X軸（θ_y＝0）或Y軸（θ_x＝0）上的強(qiáng)度分布分別是：?

和?

依據(jù)上述兩個(gè)公式求出二項(xiàng)式擬合系數(shù)A，B，C，D。?

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X-射線成像空間分布不均勻性的校正方法，其特征在于：將位置z₂上這一幀強(qiáng)度不均勻分布圖像沿X、Y軸采集信號(hào)并用二次多項(xiàng)式函數(shù)進(jìn)行擬合，求出a₀，b₀，c₀，和d₀，?

和?

由于a₀＝A(1/z₁-1/z₂)、???c₀＝C(1/z₁-1/z₂)和????因此可以求出二項(xiàng)式擬合系數(shù)A，B，C，D：A＝a₀×(1/z₁-1/z₂)^-1、???C＝c₀×(1/z₁-1/z₂)^-1和????

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的X-射線成像空間分布不均勻性的校正方法，其特征在于：將平板探測(cè)器移到任何一個(gè)待矯正的位置z，這時(shí)可以得到一組系數(shù)：a＝A(1/z₁-1/z)、???c＝C(1/z₁-1/z)和????然后將在z處的采集的圖像信號(hào)乘以以下函數(shù)：?

Δt(x，y)＝(1|ax|bx²)×(1|cy|dy²)?這樣，就可以得到矯正之后的圖像。?