[發明專利]一種檢測CIP清洗系統沖洗水中殘留細菌的方法

有效

• 申請號: 201410030608.9
• 申請日: 2014-01-22
• 公開（公告）號: CN103776807A
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 侯玉柱;宋全厚;尹建軍;柯潤輝;張力;田雨
• 申請（專利權）人: 中國食品發酵工業研究院
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 關暢;王春霞

技術領域

本發明涉及一種檢測CIP清洗系統沖洗水中殘留細菌的方法，屬于食品安全檢測方面微生物檢測領域。

背景技術

食品加工企業，諸如乳品、飲料、酒類等行業在產品生產加工過程中需要涉及到設備、管道等的衛生清洗工作，任何一個環節的疏忽都可能帶來難以挽回的經濟損失和惡劣的社會影響。CIP（Cleaning?In?Place）就地清洗，是指不用拆開或移動裝置，即采用高溫、高濃度的洗凈液，對設備裝置加以強力作用，把與食品的接觸面洗凈，對衛生級別要求較嚴格的生產設備的清洗、凈化，是近幾年食品加工行業為適應大規模生產，符合高品質衛生要求，降低清洗成本而發展起來的清洗技術。隨著食品企業現代化程度的逐步提高，CIP清洗系統未來將會應用到各類食品加工企業當中。CIP工作后要求要對氣味、設備的視覺外觀、微生物污染幾個方面進行評定，其中微生物污染的檢查是難點，也是食品加工的衛生關鍵控制點，如果清洗完畢之后CIP系統沖洗水中殘留細菌過高，會對后期食品加工帶來微生物污染的隱患，而且CIP過程后殘留菌多為耐熱菌，食品加工后期的高溫滅菌措施也難以將其完全殺滅，因此，CIP系統沖洗水中殘留菌的檢測對于食品生產加工衛生管控具有重大的指導意義，必須嚴格控制。

CIP清洗效果要求達到微生物清潔度或無菌清潔度，根據調研，CIP過程完畢后，食品企業的內控指標要求CIP系統殘留水中細菌總數低于菌落總數國標方法（GB4789.2）的檢測范圍，所以國標方法無法直接檢測與評價CIP清洗后的微生物污染狀況，所以要尋找其他的檢測方法。目前行業內對CIP系統殘留菌的檢測方法有兩種：一是大體積抽濾后再進行平板培養計數。此方法的優點是能夠利用濾膜富集細菌，但是濾膜截留細菌依然要轉入培養基上進行48小的培養，結果雖然較為準確，但是效率太低，CIP清洗之后不可能讓加工設備閑置48小時等待測定結果。二是鏡檢法，此法也是與大體積抽濾結合，方法的優點是縮短了檢測時間，然而鏡檢法把濾膜放在適量的無菌水中，搖動、振蕩，然后再用顯微鏡檢測洗脫水中微生物的數量，程序復雜易被外源微生物污染，在洗脫濾膜截留細菌及轉移過程中帶來的誤差較大且難以避免。從上述方法可見，目前業內缺少測定CIP清洗水殘留菌的標準方法，而替代方法也存在效率低或程序復雜操作誤差較大的缺點，因此，仍有必要開發一種能夠快速、準確、簡單的檢測CIP系統沖洗水中殘留細菌的方法。

發明內容

本發明的目的是提供一種檢測CIP清洗系統沖洗水中殘留細菌的方法，本發明的方法能夠快速測定CIP系統沖洗水等含菌量極低液體樣品中殘留細菌總數，能及時對CIP系統清洗效果進行評估、對衛生清洗工作進行指導。

本發明所提供的一種檢測CIP清洗系統沖洗水中殘留細菌的方法，包括如下步驟：

（1）取至少3份CIP清洗系統沖洗水置于無菌試劑瓶中，分別記為1號瓶、2號瓶和3號瓶；分別從所述1號瓶、2號瓶和3號瓶中量取不等量的CIP清洗系統沖洗水，分別經無菌濾膜進行過濾，過濾完畢后將所述無菌濾膜放入樣品杯中，然后在所述無菌濾膜上滴加復合熒光試劑，再將所述樣品杯置于ATP熒光檢測儀中測定各熒光值；

（2）分別從所述1號瓶、2號瓶和3號瓶中量取與步驟（1）中等量的CIP清洗系統沖洗水，經所述無菌濾膜進行過濾，過濾完畢后洗脫所述無菌濾膜上的細菌得到洗脫液，測定所述洗脫液中的菌落總數；進而得到菌落總數與熒光值之間的標準曲線；

（3）取待測的CIP清洗系統沖洗水，經所述無菌濾膜進行過濾，過濾完畢后將所述無菌濾膜放入所述樣品杯中，然后在所述無菌濾膜上滴加所述復合熒光試劑，再將所述樣品杯置于所述ATP熒光檢測儀中測定熒光值；然后根據所述熒光值與所述菌落總數之間的標準曲線即得到待測CIP清洗系統沖洗水中菌落總數。

上述的方法中，步驟（1）中，可分別從所述1號瓶、所述2號瓶和所述3號瓶中量取10mL、50mL和100mL所述CIP清洗系統沖洗水。

上述的方法中，步驟（1）中，所述無菌濾膜的孔徑可為0.45μm。

上述的方法中，所述復合熒光試劑的主要成分為細菌裂解劑和熒光素酶，如中質賽福（北京）科技儀器有限公司生產的產品編號為ZF0011的復合熒光試劑。

上述的方法中，步驟（2）中，洗脫所述無菌濾膜上的細菌的溶劑可為滅菌生理鹽水。

本發明具有如下優點：