[發明專利]普通LOGIC工藝中大單位容值電容的制作方法在審
| 申請號: | 201410025926.6 | 申請日: | 2014-01-20 |
| 公開(公告)號: | CN103762157A | 公開(公告)日: | 2014-04-30 |
| 發明(設計)人: | 賈金輝;徐躍江;岳云;奚谷楓 | 申請(專利權)人: | 無錫紫芯集成電路系統有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 無錫華源專利事務所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 林弘毅;聶漢欽 |
| 地址: | 214028 江蘇省無錫*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 普通 logic 工藝 單位 電容 制作方法 | ||
1.一種普通LOGIC工藝中大單位容值電容的制作方法,其特征在于:在MOM電容的基礎上增加MOS管的電容。
2.根據權利要求1所述普通LOGIC工藝中大單位容值電容的制作方法,其特征在于:所述MOM電容用工藝最小尺寸設計金屬插指,即MOM所用金屬線寬度為工藝所限定的最小尺寸。
3.根據權利要求1所述普通LOGIC工藝中大單位容值電容的制作方法,其特征在于:所述MOM電容由多層金屬按插指結構布局,不同金屬層形成的MOM電容的布局完全相同,包括金屬位置和插指走向。
4.根據權利要求1所述普通LOGIC工藝中大單位容值電容的制作方法,其特征在于:所述MOS管為PMOS管。
5.根據權利要求1所述普通LOGIC工藝中大單位容值電容的制作方法,其特征在于:所述MOM電容與MOS管的電容兩者為垂直結構,MOS管的電容位于MOM電容下方。
6.根據權利要求1所述普通LOGIC工藝中大單位容值電容的制作方法,其特征在于:所述MOS管的源極和漏極相連構成電容一端,柵極構成電容另一端;MOM電容的兩端分別與MOS管的電容的兩端相連,組成并聯架構。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于無錫紫芯集成電路系統有限公司,未經無錫紫芯集成電路系統有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410025926.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種配鉆用快速定位孔中心的裝置
- 下一篇:一種滾筒式反應釜
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





