[發明專利]基于納米杯陣列器件的光電聯用離子檢測裝置及方法有效
| 申請號: | 201410022251.X | 申請日: | 2014-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN103776803A | 公開(公告)日: | 2014-05-07 |
| 發明(設計)人: | 劉清君;張迪鳴;王平;盧妍利;張倩 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | G01N21/552 | 分類號: | G01N21/552 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人: | 周烽 |
| 地址: | 310058 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 納米 陣列 器件 光電 聯用 離子 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種光電聯用納米杯器件檢測裝置,其特征在于,它包括:環境室、載物臺(8)、電化學反應腔(9)、光學檢測部件和電化學檢測電路板(3);其中,環境室由環境室底座(1)、環境室定位扣(2)、環境室外殼(4)、固定支架(11)和電腦通訊接口(13)組成;環境室外殼(4)通過環境室定位扣(2)固定在環境室底座(1)上,形成一個密閉環境;固定支架(11)焊接于環境底座(1)上,光學檢測部件包括氙燈光源(7)和CCD攝像頭(10),電化學檢測模塊(3)和氙燈光源(7)均固定在環境室內,載物臺(8)和CCD攝像頭(10)安裝在固定支架(11)上,CCD攝像頭(10)通過信號傳導光纖(12)與電腦通訊接口(13)相連;電化學反應腔(9)水平放置于載物臺(8)之上,包括電化學參考電極(91)、電化學對電極(92)、納米杯陣列傳感器件(93),納米杯陣列傳感器件(93)放置于電化學反應腔(9)的腔體的底部,由導線引出作為工作電極,參考電極(91)和對電極(92)固定于電化學反應腔(9)的腔體的上部,納米杯陣列傳感器件(93)表面規則分布納米級直徑的納米杯結構(14),其上濺射沉積納米金顆粒(15)。
2.一種應用上述光電聯用納米杯器件傳感裝置檢測離子的方法,其特征在于,包括以下步驟:?
(1)配制待測離子標準樣品溶液:采用1g/L待測離子的標準貯備溶液稀釋配制為5-9種相應濃度梯度的離子標準樣品溶液;稀釋底液為含有2mmol/L??K3[Fe(CN)6]和1mol/L?KCl的水溶液;標準測試溶液用聚四氟乙烯瓶盛放;所有器皿均需稀硝酸浸泡48?h以上后,用純水沖洗干凈并烘干;
(2)檢測離子標準樣品溶液中離子濃度:采用光學-電化學聯用的方法檢測離子標準樣品溶液中離子濃度;在電化學反應腔(9)內加入離子標準樣品溶液,以納米杯陣列傳感器件(93)作為工作電極,與參考電極(91)和對電極(92)組成三電極系統,電化學檢測采用溶出伏安法,設置為:富集電位-1.05V,富集時間60s,靜息時間10s,溶出掃描電位范圍-0.7V到-0.2V,掃描步進0.02V/s;光學檢測為透射模式,參數設置為:光譜范圍300-800nm,光譜掃描步進1nm,光譜記錄時間間隔5s;?
(3)建立標準濃度-透射峰位移曲線;在電化學反應腔(9)中分別加入不同濃度梯度的標準測試溶液,依次重復步驟2,獲得相應光學檢測透射峰位移(起始時與檢測時透射峰最高點波長的差值),得到離子濃度與光學透射峰位移曲線,構成標準響應曲線y=ax+b,其中,x為離子濃度,y為光學透射峰位移,a和b為常數;
(4)檢測未知溶液的離子濃度:在電化學反應腔內加入未知濃度的待測離子溶液,以納米杯陣列傳感器件(93)作為工作電極,及參考電極(91)和對電極(92),組成三電極系統,按步驟2檢測得光學透射峰位移數值,代入步驟3獲得的標準響應曲線公式得溶液離子濃度。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于浙江大學,未經浙江大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410022251.X/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種全過程空氣處理機組及其控制方法
- 下一篇:漆氣氧化洗滌塔裝置





