[發明專利]一種奧克托今顆粒表面粗糙度檢測方法

有效

• 申請號: 201410013044.8
• 申請日: 2014-01-10
• 公開（公告）號: CN103776398A
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 張皋;蔣忠亮;陳智群;徐敏;周文靜;王克勇;高朗華;蘇鵬飛;任黎
• 申請（專利權）人: 西安近代化學研究所
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30
• 代理公司: 西安恒泰知識產權代理事務所 61216
• 代理人: 李婷

1.一種奧克托今顆粒表面粗糙度檢測方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

步驟一，將奧克托今粗品顆粒精制，具體的精制過程如下所述：

25℃時，在攪拌狀態下，將奧克托今均分五次加入二甲基亞砜中，奧克托今與二甲基亞砜之間的質量比為55：100，待奧克托今完全溶解后，降溫至-10℃，有晶體析出，過濾，干燥，得到精制后的奧克托今顆粒；

步驟二，確定需要抽取的待測樣品的數目，依據隨機數表抽取待測樣品：

步驟三，測量待測樣品的表面粗糙度：

使用激光共聚焦顯微鏡測量每一個待測樣品的表面粗糙度，進行測試時，首先采用LED冷光源白光進行照射，鏡頭放大倍數為5倍，調整視場后換至50倍放大鏡頭，激光共聚焦顯微鏡中的激光光源采用激光能量為1毫瓦，激光波長為405nm的半導體激光光源，三維圖采集時選用1000層切片模式，圖像分辨率選用4096×4096；依據如下公式計算得出待測樣品的輪廓算術平均偏差：

Sa=1nΣi=1n|yi|]]>

式中：Sa表示輪廓算術平均偏差；

n為取樣范圍內測量次數；

y_i為待測樣品上各點至輪廓評定基準線的距離，所述的輪廓評定基準線是指輪廓的最小二乘中線，評定表面粗糙度參數的基準線，它是指在取樣長度內使輪廓線上各點的輪廓偏距平方和為最小的線；

步驟四，計算輪廓算術平均偏差平均值與輪廓算術平均偏差示值誤差，通過輪廓算術平均偏差、輪廓算術平均偏差平均值和輪廓算術平均偏差示值誤差來表示奧克托今顆粒表面粗糙度。

2.如權利要求1所述的奧克托今顆粒表面粗糙度檢測方法，其特征在于，步驟一所述的精制后的奧克托今顆粒的粒度范圍是（0.5～5）×10^-3m。