[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件、多芯片封裝體以及利用半導(dǎo)體器件的半導(dǎo)體系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410008429.5 | 申請日: | 2014-01-08 |
| 公開(公告)號: | CN104240769B | 公開(公告)日: | 2019-04-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 玉成華 | 申請(專利權(quán))人: | 愛思開海力士有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/42 | 分類號: | G11C29/42 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 俞波;毋二省 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 錯誤檢測單元 錯誤信息 多芯片封裝體 輸出檢測信號 信號傳輸環(huán)境 信號改變單元 循環(huán)冗余校驗 半導(dǎo)體系統(tǒng) 檢測數(shù)據(jù) 檢測信號 接收數(shù)據(jù) 信號形式 傳輸 | ||
一種半導(dǎo)體器件,包括:錯誤檢測單元,所述錯誤檢測單元適用于接收數(shù)據(jù)和循環(huán)冗余校驗CRC碼,并且通過檢測數(shù)據(jù)的傳輸錯誤來輸出檢測信號;以及信號改變單元,適用于基于檢測信號來產(chǎn)生錯誤信息,同時基于數(shù)據(jù)的信號傳輸環(huán)境來改變錯誤信息的信號形式。
相關(guān)申請的交叉引用
本申請要求2013年6月19日提交的申請?zhí)枮?0-2013-0070379的韓國專利申請的優(yōu)先權(quán),其全部內(nèi)容通過引用合并于此。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的示例性實施例涉及一種半導(dǎo)體設(shè)計技術(shù),具體而言,涉及一種半導(dǎo)體器件、多芯片封裝體、以及利用半導(dǎo)體器件的半導(dǎo)體系統(tǒng),用于檢測數(shù)據(jù)傳輸錯誤并傳送檢測的結(jié)果。
背景技術(shù)
通常,諸如雙數(shù)據(jù)速率同步動態(tài)隨機存取存儲器(DDR SDRAM)的半導(dǎo)體器件從外部控制器接收數(shù)據(jù),并且執(zhí)行多個操作。然而,在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)生錯誤的情況下,半導(dǎo)體器件接收錯誤的數(shù)據(jù),而這會惡化半導(dǎo)體器件的可靠性。近來,隨著半導(dǎo)體器件的數(shù)據(jù)處理速度增大,從外部控制器接收的數(shù)據(jù)量增大,并且傳輸速度增大。結(jié)果,在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)生的錯誤的數(shù)目會增大。因而,已經(jīng)研發(fā)了用于解決上述問題的方案。方案之一是利用循環(huán)冗余校驗碼(CRC)。
CRC碼基于從外部控制器傳送的數(shù)據(jù)產(chǎn)生。外部控制器將數(shù)據(jù)與CRC碼傳送至半導(dǎo)體器件。隨后,半導(dǎo)體器件基于從外部器件傳送的CRC碼和數(shù)據(jù)來執(zhí)行操作,并且產(chǎn)生操作的結(jié)果。在數(shù)據(jù)傳輸期間發(fā)生的錯誤可以利用操作的結(jié)果檢測出。
圖1是說明傳統(tǒng)的半導(dǎo)體器件的框圖。
如圖1中所示,半導(dǎo)體器件包括控制器110和半導(dǎo)體器件120。
控制器110將數(shù)據(jù)DAT和與數(shù)據(jù)DAT相對應(yīng)的CRC碼傳送至半導(dǎo)體器件120。半導(dǎo)體器件120基于CRC碼和數(shù)據(jù)DAT來執(zhí)行操作,并且檢測出在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)生的錯誤。半導(dǎo)體器件120將檢測的錯誤信息INF_ERR傳送至控制器110。控制器110基于檢測的錯誤信息INF_ERR來判斷在數(shù)據(jù)傳輸中是否發(fā)生錯誤。如果在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)生錯誤,則控制器110將數(shù)據(jù)重新傳送至半導(dǎo)體器件120。
近來,在半導(dǎo)體器件的制造工藝或設(shè)計技術(shù)方面已經(jīng)進行了研究。因此,在半導(dǎo)體器件的操作速度增大的同時,半導(dǎo)體器件的尺寸已被最小化,而功耗已被降低。半導(dǎo)體器件的這種發(fā)展提供了用于利用較少的功耗來操作較多的數(shù)據(jù)的環(huán)境。然而,由于這種高速下的低功率會對半導(dǎo)體器件的操作引起噪聲,所以需要對噪聲的補償技術(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的示例性實施例涉及一種半導(dǎo)體器件、多芯片封裝體、和利用半導(dǎo)體的半導(dǎo)體系統(tǒng),用于檢測數(shù)據(jù)傳輸中的錯誤并且穩(wěn)定地傳送檢測的結(jié)果。
根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實施例,一種半導(dǎo)體器件包括:錯誤檢測單元,適用于接收數(shù)據(jù)和循環(huán)冗余校驗(CRC)碼,并且通過檢測數(shù)據(jù)的傳輸錯誤來輸出檢測信號;以及信號改變單元,適用于基于檢測信號來產(chǎn)生錯誤信息、同時基于數(shù)據(jù)的信號傳輸環(huán)境來改變錯誤信息的信號形式。
根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實施例,一種半導(dǎo)體系統(tǒng)包括:多個半導(dǎo)體器件,適用于接收數(shù)據(jù)和與數(shù)據(jù)相對應(yīng)的循環(huán)冗余校驗(CRC)碼、檢測數(shù)據(jù)的傳輸錯誤、以及產(chǎn)生錯誤信息;控制器,適用于將數(shù)據(jù)和CRC碼提供給半導(dǎo)體器件、經(jīng)由公共傳輸線來接收錯誤信息、以及重新傳送數(shù)據(jù);以及負載值檢測單元,適用于檢測公共傳輸線的負載值、并且產(chǎn)生控制信號,其中,每個半導(dǎo)體器件響應(yīng)于控制信號而改變錯誤信息的信號形式。
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