[發(fā)明專(zhuān)利]半導(dǎo)體裝置的制法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410006496.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-01-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104733407B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-03-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 葉啟東;黃惠暖;李百淵;詹慕萱;林畯棠 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 矽品精密工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L23/48 | 分類(lèi)號(hào): | H01L23/48;H01L21/768 |
| 代理公司: | 北京戈程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11314 | 代理人: | 程偉;王錦陽(yáng) |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 及其 制法 | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置的制法,包括:
提供一具有相對(duì)的第一表面與第二表面的半導(dǎo)體基板,進(jìn)行第一次薄化該半導(dǎo)體基板的第一表面后,且形成導(dǎo)電穿孔于該半導(dǎo)體基板第一次薄化后的第一表面上,使該半導(dǎo)體基板中具有多個(gè)外露于該半導(dǎo)體基板第一次薄化后的第一表面的該導(dǎo)電穿孔;
第二次薄化該半導(dǎo)體基板的第二表面,使該導(dǎo)電穿孔外露于該半導(dǎo)體基板第二次薄化后的第二表面,且該導(dǎo)電穿孔的端面與該半導(dǎo)體基板第二次薄化后的第二表面齊平,且該半導(dǎo)體基板第一次薄化后的第一表面上形成有電性連接該導(dǎo)電穿孔的多個(gè)導(dǎo)電組件;
形成線(xiàn)路重布結(jié)構(gòu)于該半導(dǎo)體基板第二次薄化后的第二表面上,且該線(xiàn)路重布結(jié)構(gòu)電性連接該導(dǎo)電穿孔;以及
設(shè)置至少一電子組件于該線(xiàn)路重布結(jié)構(gòu)上,且該電子組件電性連接該線(xiàn)路重布結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制法,其特征在于,該半導(dǎo)體基板為含硅的板體。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制法,其特征在于,第一次薄化后的該半導(dǎo)體基板的厚度為25微米。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制法,其特征在于,該導(dǎo)電組件包含設(shè)于該導(dǎo)電穿孔上的金屬層、及設(shè)于該金屬層上的焊錫材料。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制法,其特征在于,該線(xiàn)路重布結(jié)構(gòu)具有相疊的至少一線(xiàn)路層與介電層,且該線(xiàn)路層電性連接該導(dǎo)電穿孔。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制法,其特征在于,該制法還包括形成該線(xiàn)路重布結(jié)構(gòu)前,結(jié)合承載件于該半導(dǎo)體基板第一次薄化后的第一表面上,且于設(shè)置該電子組件后,移除該承載件。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制法,其特征在于,該制法還包括形成絕緣層于該電子組件與該線(xiàn)路重布結(jié)構(gòu)之間。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體裝置的制法,其特征在于,該絕緣層還包覆該電子組件。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制法,其特征在于,該制法還包括設(shè)置該電子組件后,進(jìn)行切單制程。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置的制法,其特征在于,該制法還包括設(shè)置該電子組件后,結(jié)合一封裝基板于該導(dǎo)電組件上。
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