[發明專利]半導體裝置有效
| 申請號: | 201380078100.X | 申請日: | 2013-07-16 |
| 公開(公告)號: | CN105379174B | 公開(公告)日: | 2018-09-28 |
| 發明(設計)人: | 菅原健 | 申請(專利權)人: | 三菱電機株式會社 |
| 主分類號: | H04L9/10 | 分類號: | H04L9/10 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;馬建軍 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 裝置 | ||
得到一種半導體裝置,該半導體裝置具有:使能生成電路(10),其生成作為與時鐘信號同步的脈沖串的使能信號,將使能信號供給到保護對象電路(30);以及第1異常檢測電路(20),其根據時鐘信號與由使能生成電路生成的使能信號的比較,檢測由于對時鐘信號導入了尖峰而引起的時鐘定時的異常。由此,能夠檢測局部的時鐘異常。
技術領域
本發明涉及半導體裝置,該半導體裝置與驗證處理、加密處理等的安全裝置相關聯,對以該裝置為對象的特定攻擊采取對策。
背景技術
近年來,隨著以移動電話為代表的插入設備的網絡化,為了保持在插入設備中處理的數據的隱匿性或完整性以及驗證插入設備自身,插入設備進行與信息安全有關的處理的必要性增大。這些與信息安全有關的處理是利用加密算法或驗證算法實現的。
執行加密算法或驗證算法的大前提是各個設備“安全地”進行計算。其中,“安全”是指能夠正當利用該設備的人員以外的人員難以進行密鑰信息的讀取或篡改。為此,要求計算內容對于介入到設備自身的攻擊者也保密的安裝方式。
在這樣的攻擊中,有通過有意識地對該插入設備引發計算錯誤來嘗試破解密碼的攻擊(以下,將這樣的攻擊稱作“故障(fault)攻擊”)。這樣的故障攻擊是通過物理刺激使對象電路引發計算錯誤,并觀察其舉動來進行密碼破解的方法。錯誤插入方法多種多樣,作為代表性的方法有對輸入到電路的時鐘信號插入尖峰的方法。已知包含這樣的尖峰的時鐘信號的結果是引起對象電路的錯誤動作。
在此之前已對故障攻擊研究出了對策技術。對策技術大致分成兩種。即,(i)計算錯誤的檢測和(ii)異常狀態的檢測。(i)計算錯誤的檢測是根據驗算或錯誤檢測碼發現計算錯誤,并進行處理的中斷或訂正的方法。作為這樣的方法的一例,例如可以舉出專利文獻1。
另一種(ii)異常狀態的檢測是通過搭載傳感器等,檢測有可能引起計算錯誤的異常的動作環境的方法。作為檢測時鐘信號的異常的方法,例如可以舉出非專利文獻1,作為檢測激光照射等的方法,例如可以舉出專利文獻2。
現有技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特開2009-278576號公報
專利文獻2:日本特開2004-206680號公報
專利文獻3:日本特開昭63-310211號公報
非專利文獻
非專利文獻1:N.Selmane、S.Bhasin、S.Guilley、T.Graba、and J.-L.Danger、“WDDL is Protected against Setup Time Violation Attacks”,FDTC2009.
非專利文獻2:T.Sugawara、N.Homma、T.Aoki、and A.Satoh、High-performanceArchitecture for Concurrent Error Detection for AES Processors、IEICETrans.Fundamentals of Electronics、Communications and Computer Sciences、Vol.E94-A、No.10、pp.1971-1980、October、2011.
非專利文獻3:Y.Li、K.Sakiyama、S.Gomisawa、T.Fukunaga、J.Takahashi、K.Ohta:Fault Sensitivity Analysis.CHES 2010:320-334
發明內容
發明要解決的問題
但是,現有技術存在如下所述的問題。
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