[發明專利]半導體裝置

有效

• 申請號: 201380078100.X
• 申請日: 2013-07-16
• 公開（公告）號: CN105379174B
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發明（設計）人: 菅原健
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: H04L9/10
• 分類號: H04L9/10
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;馬建軍

1.一種半導體裝置，該半導體裝置具有：

使能生成電路，其生成作為與時鐘信號同步的脈沖串的使能信號，將所述使能信號供給到保護對象電路，其中，所述時鐘信號和所述使能信號輸入到與門，所述與門的輸出信號被供給到所述保護對象電路；以及

第1異常檢測電路，其根據所述時鐘信號與由所述使能生成電路生成的所述使能信號的比較，檢測由于對所述時鐘信號導入了尖峰而引起的時鐘定時的異常。

2.根據權利要求1所述的半導體裝置，其中，

所述使能生成電路構成為包含寄存器和延遲電路，生成作為與所輸入的所述時鐘信號同步且具有期望脈寬的脈沖串的所述使能信號。

3.根據權利要求1所述的半導體裝置，其中，

所述第1異常檢測電路在檢測出所述時鐘定時的異常時，輸出維持異常狀態的警報信號直到接收到復位信號為止。

4.根據權利要求2所述的半導體裝置，其中，

所述第1異常檢測電路在檢測出所述時鐘定時的異常時，輸出維持異常狀態的警報信號直到接收到復位信號為止。

5.根據權利要求1所述的半導體裝置，其中，

所述半導體裝置還具有：

第1時鐘緩存器，其向所述使能生成電路供給所述時鐘信號；

第2時鐘緩存器，其與所述第1時鐘緩存器并聯設置，以便供給所述時鐘信號；以及

第2異常檢測電路，其根據從所述第2時鐘緩存器輸出的時鐘信號與由所述使能生成電路生成的所述使能信號的比較，檢測由于對經由所述第2時鐘緩存器的時鐘信號導入了尖峰而引起的時鐘定時的異常。

6.根據權利要求2所述的半導體裝置，其中，

所述半導體裝置還具有：

第1時鐘緩存器，其向所述使能生成電路供給所述時鐘信號；

第2時鐘緩存器，其與所述第1時鐘緩存器并聯設置，以便供給所述時鐘信號；以及

第2異常檢測電路，其根據從所述第2時鐘緩存器輸出的時鐘信號與由所述使能生成電路生成的所述使能信號的比較，檢測由于對經由所述第2時鐘緩存器的時鐘信號導入了尖峰而引起的時鐘定時的異常。

7.根據權利要求3所述的半導體裝置，其中，

所述半導體裝置還具有：

第1時鐘緩存器，其向所述使能生成電路供給所述時鐘信號；

第2時鐘緩存器，其與所述第1時鐘緩存器并聯設置，以便供給所述時鐘信號；以及

第2異常檢測電路，其根據從所述第2時鐘緩存器輸出的時鐘信號與由所述使能生成電路生成的所述使能信號的比較，檢測由于對經由所述第2時鐘緩存器的時鐘信號導入了尖峰而引起的時鐘定時的異常。

8.根據權利要求4所述的半導體裝置，其中，

所述半導體裝置還具有：

第1時鐘緩存器，其向所述使能生成電路供給所述時鐘信號；

第2時鐘緩存器，其與所述第1時鐘緩存器并聯設置，以便供給所述時鐘信號；以及

第2異常檢測電路，其根據從所述第2時鐘緩存器輸出的時鐘信號與由所述使能生成電路生成的所述使能信號的比較，檢測由于對經由所述第2時鐘緩存器的時鐘信號導入了尖峰而引起的時鐘定時的異常。

9.根據權利要求1～8中的任意一項所述的半導體裝置，其中，

所述第1異常檢測電路是將檢測所述時鐘定時的異常的電路復用而構成的。

10.根據權利要求3或4所述的半導體裝置，其中，

所述半導體裝置還具有與電路，該與電路根據由所述使能生成電路生成的所述使能信號與由所述第1異常檢測電路生成的所述警報信號的邏輯積，輸出供給到所述保護對象電路的使能信號，在維持所述異常狀態的期間停止對保護對象電路供給的所述使能信號。